在研究先进材料时，首先需要对样品的表面形貌、晶体结构和化学成分有深刻的了解。无论您是想实现下一次技术创新，还是专注于产品研发和生产，这些性息都能帮助您更加了解初始材料的性能，评估缺陷，并确保成品的质量

适用于对样品进行大体积连续切片以及多能量反卷积三维重构的SEM扫描电镜。

一款具备优异性能的多功能型成像及分析的扫描电镜

具有环境功能的扫描电镜，适用于工业研究和开发。

环境扫描电镜(ESEM)，用于研究包括含水样品在内的各种样品。

利用亚纳米分辨率和高材料对比度进行纳米材料表征和分析。

重新定义扫描电镜工作流程，让使用体验更加愉悦

在大体积样品上获得ZG质量三个方向分辨率一致三维数据

新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM，该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上，快速提供所需微观形貌及实时成分信息，帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据，准确执行故障分析和缺...

Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射电镜断层扫描...

Verios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在JD半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测...

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。

Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。

Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能...

FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府...

一直以来，Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的ZJ电子和离子光学系统、配件和软件，能够为JD纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家，Helios NanoL...