-
产品文章
-
少子寿命测试仪应用分享|缺陷浓度测定
发布:束蕴仪器(上海)有限公司浏览次数:10许多寿命测量方法,如QSSPC、μPCD或CDI,以及MDP在极低的注入浓度下都存在异常高的测量寿命。这种效应是由于样品中的捕获中心造成的。这些捕获中心对于了解材料中载流子的行为非常重要,并且也会对太阳能电池产生影响。因此,需要以高分辨率来测量缺陷密度和这些缺陷中心的活化能。
借助MDPmap和MDPingot,可以通过一次测量来测量光电导率以及少数载流子寿命,并在宽注入范围内实现全自动测量。巧妙的算法可以确定样品中的缺陷浓度。
根据注入相关寿命曲线,可以确定低注入下的寿命τLLI,并且光电导率与修正后的HORNBECK和HAYNES模型相匹配。其中捕获密度NT和活化能EA是拟合参数。
在mc-Si和Cz-Si晶片上获得了一个测量结果,并且可以确认缺陷密度和位错密度之间的相关性。
不同缺陷密度下的光电导率与Gopt的比较以及测得的光电导率曲线的拟合
MDPmap可以以高分辨率测量注入相关的光电导率和寿命曲线,从而可以确定缺陷密度和捕获中心的活化能。这样就可以研究缺陷的起源及其对太阳能电池效率等的影响。
若需了解更多信息,请阅读:
[1] J. A. Hornbeck and J. R. Haynes, Physical Review 97, 311-321 (1955)
[2] D. Macdonald and A. Cuevas, Applied Physics Letters 74, 1710 - 1712 (1999)
[3] N. Schüler, T. Hahn, K. Dornich, J.R. Niklas, 25th PVSEC Valencia (2010) 343-346
2024-02-21相关仪器 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
仪网通银牌会员 第 7 年
束蕴仪器(上海)有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
- (德国)德国布鲁克
- (德国)德国艾力蒙塔
- (美国)美国ICDD
- (闵行区)束蕴仪器
- (美国)美国MDI
- (德国)德国默克
- (美国)Ionoptika
- (英国)英国赫尔
- (美国)美国麦克默瑞提克
- (法国)日本堀场
- (美国)美国PHI
- (美国)Ionoptika
- (英国)英国HEL
- (德国)德国克吕士
- (美国)弗莱贝格
- (德国)德国Freiberg
-
仪企号束蕴仪器(上海)有限公司
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt9828/