-
MDPmap单晶和多晶硅片寿命测量仪价格：面议- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：MDPmap
- 产地：美国
MDPmap被设计成一个紧凑的台式非接触电学表征工具，用于离线生产控制或研发，在稳态或短脉冲激励（μ-PCD）下，在一个宽的注入范围内测量参数，如载流子寿命、光导率、电阻率和缺陷信息。自动化的样品识别...
-
MDPlinescan在线少子寿命测试仪价格：面议- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：MDPlinescan
- 产地：美国
灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。
-
MDPspot少子寿命测试仪价格：面议- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：MDPspot
- 产地：美国
低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可视化的标准软件。
-
弗莱贝格 PID操作软件（PIDStudio）价格：面议- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：PIDStudio
- 产地：美国
PIDStudio是一个很先进的软件，它非常容易操作和直观，因为它根据我们用户的反馈持续更新和改进。
-
- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：PIDcheck
- 产地：美国
便携式现场PID（电位诱发衰减）测试仪，适用于不同类型和尺寸的晶体硅组件，无需拆装，测试时间在8小时之内（测量时间将少于8小时）。PIDcheck是与德国Fraunhofer CSP Halle合作开...
-
- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：µPCD/MDP (MDPpro 850+)
- 产地：美国
用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。
-
- 品牌： 弗莱贝格
- 型号：PIDcon bifacial
- 产地：美国
用于单面及双面电池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太阳能电池、晶体硅太阳能电池、微型模块等的质量控制Freiberg公司与德国FraunhoferCSP公司合作开发了一种可作为商业应用的台...
