MDPlinescan在线少子寿命测试仪
少子寿命测试仪MDPspot
sinton少子寿命测试仪WCT-120,Suns-Voc
sinton少子寿命测试仪WCT-120,Suns-Voc
SPM900系列少子寿命成像测试仪
产品介绍:
在众多的少子寿命测量方法中,MDP(微波检测光电导率)采用改进的少子寿命检测技术,是微波检测光电导衰减法检测仪中常用的仪器之一,少子寿命测试仪原理从载流子输运原理出发,建立广义速率方程和偏微分方程系统。拥有先进的灵敏度和分辨率,很大程度提升在线检测的速度和质量,快速出具少子寿命测试的实验报告。
MDPlinescan被设计成一个易于集成的OEM设备,可以集成到各种自动化检测线。关键的是在传送过程中进行少子寿命扫描。样品通常由测量头下面的传送带或机器人系统携带。应用实例包括从晶砖到晶圆检测,单晶少子寿命测试、多晶少子寿命测试,每块晶圆的测量速度小于一秒。电池生产线上的来料质量检查是经典的通用案例,也用于钝化和扩散后的工艺质量检查,还有许多其他特殊的应用的可能性。易于集成,只需要以太网连接和电源。
MDPlinescan W
包括一个额外的电阻率测量选项。

优点:
◇ 在µ-PCD或稳态激励条件下线扫描少数载流子寿命和电阻率是这个小型设备的重要功能;
◇ OEM设备可以集成到多晶或单晶硅片的生产线上,在不同的制备阶段,直至器件、砖块或晶锭。
◇ 小巧的尺寸和标准的自动化接口使其易于集成。重 点是测量结果的长期可靠性和精确性。

示范性线状扫描图
细节:
◇ 允许单晶圆片调查
◇ 不同的晶圆级有不同的配方
◇ 监控物料、工艺质量和稳定性
技术规格:
样品 | 多种尺寸的多晶或单晶晶片,如156mm×156mm、晶砖、电池片等 |
样品尺寸 | 50 x 50 mm²以上 |
电阻率 | 0.2 - 10³Ω·cm |
电导类型 | P,N |
样品类型 | 硅片、部分或完全加工的硅片、化合物半导体及更多的产品 |
可测量的特性 | 少数载流子寿命 |
硬件接口 | 以太网 |
尺寸规格 | 体积:174 x 107 x 205mm;重量:3公斤 |
电源 | 24 V DC, 2 A |
报价:面议
已咨询203次在线少子寿命测试仪(MDPLinescan)
报价:面议
已咨询1074次德国Sentech 光伏测量仪器
报价:面议
已咨询1284次美国Sonix
报价:面议
已咨询1685次美Sinton 少子寿命测试仪
报价:面议
已咨询233次半导体光学参数检测
报价:面议
已咨询233次高光谱
报价:面议
已咨询900次激光设备
报价:面议
已咨询628次激光设备
高质量且耐用的分析X射线管 为X射线衍射仪、晶体定向仪配套使用。本产品的通用性强,可以在国内外多种仪器上替代进口同类产品使用,需复杂调试即可稳定适配,为实验分析提供可靠支持。
传统光学系统常依赖反射镜改变光路,但反射镜需精密校准且易受振动影响.而DPM100是一款基于无镜熔融石英双棱镜框架设计的单色仪,通过棱镜的全内反射特性直接实现光路转折,减少外部反射镜的使用.
X4 POSEIDON 是先进的高分辨率三维 X 射线成像系统,它建立在我们久负盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系统的成功基础之上.
Freiberg Instruments 开发的X射线辐照仪,是一款单独运行的定量辐照设备,可与光释光/热释光测年设备(如:lexsyg),顺磁测年设备(如:Magnettech桌面设备)联用,
ADEPT-1010 专为浅层半导体注入和绝缘薄膜的自动分析而设计,是大 多数半导体开发和支持实验室的常用工具。
在实验室中,可通过加热或者光束照射激发矿物颗粒使累积的辐射能以光的形式被激发出来,这就是释光信号。通过加热激发的释光信号叫热释光,通过光束激发的释光信号叫光释光。
弗莱贝格lexsygsmart(lexsyg smart智能型释光仪--热释光/光释光)智能型释光系统是弗莱堡仪器与发光研究和测年实验室合作设计搭建的。
PDF-4 Axiom 2025版数据库,所收录物相的标准衍射卡片涵盖约多种科学研究领域,如电池材料、热电材料、超导材料、金属材料、陶瓷材料、矿物材料、金属合金、药物、聚合物等。