产品介绍：
PIDcheck的好处和特点
安装后或采购光伏电站前的质量检查
PIDcheck是能够发现已安装的光伏组件是否对PID敏感的工具。
功率和产量预测
如果PID已经发生，只有PIDcheck的测量结果可以提供未来产量的预测。
评估针对PID的对策
PIDcheck设备能够模拟恢复设备（偏移箱、浮动控制器）的应用，因此有助于在其安装前评估恢复效果。
用于现场PID恢复的可逆高压极性
可测量的参数
分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流、湿度和温度
易于使用的便携式设备
● 原型：24个电池，在高压下正向暗I-V曲线的测量
● 新功能：高压可双向施加应力和恢复 在活动模块中成功演示
● Fraunhofer CSP 于2015年*提交认证
● 2018年上市
● 用户：评估员、操作员、服务专家、安装人员、模块制作人
技术参数：
报价：面议
已咨询259次便携式现场PID测试仪（PIDcheck）
报价：面议
已咨询266次PID操作软件（PIDStudio）
报价：面议
已咨询287次电池片PID测试仪（PIDcon bifacial）
报价：面议
已咨询382次X射线晶体定向仪
报价：面议
已咨询779次便捷式离心机
报价：面议
已咨询144次纯化/浓缩
报价：￥58000
已咨询161次pall膜完整性测试仪
报价：￥58000
已咨询186次pall膜完整性测试仪
MDpicts温度依赖型寿命测试系统该设备可对材料电学特性进行非接触、无损伤的单点测量。总体而言，MD-PICTS设备适用于多种材料及不同制备阶段的测量，涵盖硅原料、裸片、各类中间制备阶段样品，以及砷化镓（GaAs）、磷化铟（InP）等化合物半导体。
HTpicts专门用于宽禁带半导体中的少子寿命和深能级缺陷检测，用于宽禁带材料在高温区间的非接触、无损伤的温度依赖型测量，涵盖少子寿命、电学特性表征及深能级缺陷研究。
用于生产和研究实验室应用的MDpicts pro（高分辨率变温少子寿命测试仪系统）。全自动设备，以非接触、无破坏方式绘制材料的电输运特性。
用于科研及生产应用的MDpicts pro（原位变温缺陷能级表征系统）。使用非接触式光电导率衰减法、深能级瞬态谱(DLTS)技术，尤其针对温度依赖的载流子寿命测量系统（面扫和单点）。
自动化晶圆定向检测系统，在线式晶圆取向图谱分析，完全符合晶圆厂标准
自动化碳化硅晶锭粘接定向仪，Ingot XRD SiC 兼具高产能与高精度，助力先进碳化硅晶圆高效生产
晶锭自动化单晶定向系统，可使现有设备满足 200 毫米及 300 毫米规格晶锭的高级外径 / 缺口技术标准
高质量且耐用的分析X射线管 为X射线衍射仪、晶体定向仪配套使用。本产品的通用性强，可以在国内外多种仪器上替代进口同类产品使用，需复杂调试即可稳定适配，为实验分析提供可靠支持。
营业执照已审核
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沪公网安备 31011502008050号