飞行时间二次离子质谱仪

TOF-SIMS 中，根据分子结构反映的质谱，能更详细的对 化学结构进行分析。

一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片 只一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面，被质量分析器探测出来 对于无机材料, 原子离子百分含量> 10%

度和优异的成像和质谱性能。J105将创新设计和优异科学与各方面的功能列表相结合，重新定义了ToF SIMS的功能。