大学物理 光学 干涉，瑞利干涉仪测量空气折射率的问题。

       对于材料和加工工业中广泛使用的纸制品、树脂产品、金属镀膜等，表面形貌和表面粗糙度测量在防止故障或质量控制中起重要作用。尤其，当多层薄膜出现不良产品时，需要确定是表面，界面或是层内哪个部位出现了问题。在大多数情况下，是进行切割以确定异常部位。但是，某些样品是不能进行切割的，无损检测就变得极为重要。纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800，可同时满足上述高精度的表面形貌测量及对多层膜的无损测量，在材料和加工工业中实现了广泛的应用。

下面就以两个实例来对多层膜无损测量分析的功能进行介绍。

1.透明样品：金属镀膜分析

       以下是对金属透明镀膜进行无损测量分析的一个实例，从分析数据中可以得到表面，界面三维形貌，以及厚度分布的三维图像，对于大范围的面分析以及厚度参差不齐有一个更为直观和清晰的认识。

2.不透明样品：名片印字部分分析

       以下是对名片印字部分进行无损测量分析的一个实例，从分析数据中可以得到表面三维形貌，并且可以观察到碳粉和纸之间的分界面，从而可以测量碳粉的厚度，如图所以，红色部分碳粉的厚度为2.6㎛。

       综上所述，使用日立纳米尺度3D测量系统，针对透明、半透明样品甚至某些特殊的不透明样品，尝试内部结构的无损测量，得到多层结构每层厚度、内部缺陷、每层界面粗糙程度等等信息。为相关领域客户提供了一个快速简便的解决方案。

前言：确定关键部件的表面质量，即与预期形状的偏差，无论是平面还是球面等，是高精度制造的关键。当光束照射到有疵病的光学元件表面时, 会产生杂散光。在光学系统中, 影响其性能的主要原因是由系统内部产生的大量散射光造成的, 即使整个光学系统设计得再好, 如果内部光学元件的质量不过关, 那么构成的系统也不能正常工作。

干涉仪测量方法

传统的检测方法由干涉仪组成，例如Twyman-Green干涉仪（如下图所示），将测试光与参考光学进行比较。干涉仪的两个臂之间的光程差会在光电探测器的光屏上形成干涉条纹（通常为CCD阵列）。在参考光和测试光之间引入小的倾斜度会产生干涉图样，其中与均匀间隔的直线条纹的任何偏差都意味着测试组件中的像差，如下所示。

虽然许多移相干涉仪都使用HeNe激光器作为光源，但使用外腔可调谐激光器（例如Newport的TLB-6700）却具有明显的优势。首先，当光学元件镀有对633 nm的抗反膜时，可选择与光学元件的工作波长完全匹配的光。其次，通过不平衡的两臂和改变激光波长可以实现时变相移，从而无需线性驱动器对参考光进行平移。

Newport可调谐激光器

Newport的TLB-6700系列可调谐激光器，调谐速度快，范围宽-Z高达 100 nm，调谐波长范围可从407-2450nm。除以上提及应用也可以用作诸如微腔谐振器和原子光谱等方面。

具有非常zhuo越的特性：

·可保证在整个指定的波长范围内实现单模、无跳模调谐。

·电动和压电控制可实现宽范围扫描和微调

·低噪声，窄线宽--是市面上ECDL激光器中线宽Z窄的·集成的光纤耦合

可选型号：