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光学干涉仪

橘子1212 2008-10-22 23:09:57 386  浏览
  • 国内哪些单位拥有该观探测设备,设备布置在哪些观测台站,观探测设备的具体型号有哪些,价格多少,设备对自然环境的特殊要求是什么,设备主要探测的物理量、探测原理是什么? 大家帮我找找看,我想了解了解,谢谢了~~~~~~~~~~

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  • 843437622 2008-10-23 00:00:00
    利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。 根据光的干涉原理制成的一种仪器。将来自一个光源的两个光束完全分并,各自经过不同的光程,然后再经过合并,可显出干涉条纹。在光谱学中,应用精确的迈克尔逊干涉仪或法布里-珀罗干涉仪,可以准确而详细地测定谱线的波长及其精细结构。 干涉仪分双光束干涉仪和多光束干涉仪两大类,前者有瑞利干涉仪 、迈克耳孙干涉仪及其变型泰曼干涉仪、马赫-秦特干涉仪等,后者有法布里-珀罗干涉仪等。 干涉仪的应用极为广泛,主要有如下几方面: ①长度的精密测量。在双光束干涉仪中,若介质折射率均匀且保持恒定,则干涉条纹的移动是由两相干光几何路程之差发生变化所造成,根据条纹的移动数可进行长度的精确比较或测量。迈克耳孙干涉仪和法布里-珀罗干涉仪曾被用来以镉红谱线的波长表示国际米。 ②折射率的测定。两光束的几何路程保持不变,介质折射率变化也可导致光程差的改变,从而引起条纹移动。瑞利干涉仪就是通过条纹移动来对折射率进行相对测量的典型干涉仪。应用于风洞的马赫-秦特干涉仪被用来对气流折射率的变化进行实时观察。 ③波长的测量。任何一个以波长为单位测量标准米尺的方法也就是以标准米尺为单位来测量波长的方法。以国际米为标准,利用干涉仪可精确测定光波波长。法布里-珀罗干涉仪(标准具)曾被用来确定波长的初级标准(镉红谱线波长)和几个次级波长标准,从而通过比较法确定其他光谱线的波长。 ④检验光学元件的质量。泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜,平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜,可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变,从而评估透镜的波像差。 ⑤用作高分辨率光谱仪。法布里-珀罗干涉仪等多光束干涉仪具有很尖锐的干涉极大,因而有极高的光谱分辨率,常用作光谱的精细结构和超精细结构分析。 ⑥历史上的作用。19世纪的波动论者认为光波或电磁波必须在弹性介质中才得以传播,这种假想的弹性介质称为以太。人们做了一系列实验来验证以太的存在并探求其属性。以干涉原理为基础的实验Z为精确,其中Z有名的是菲佐实验和迈克耳孙-莫雷实验。1851年,A.H.L.菲佐用特别设计的干涉仪做了关于运动介质中的光速的实验,以验明运动介质是否曳引以太。1887年,A.A.迈克耳孙和E.W.莫雷合作利用迈克耳孙干涉仪试图检测地球相对静止的以太的运动。对以太的研究为A.爱因斯坦的狭义相对论提供了佐证。

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光学干涉仪
国内哪些单位拥有该观探测设备,设备布置在哪些观测台站,观探测设备的具体型号有哪些,价格多少,设备对自然环境的特殊要求是什么,设备主要探测的物理量、探测原理是什么? 大家帮我找找看,我想了解了解,谢谢了~~~~~~~~~~
2008-10-22 23:09:57 386 1
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光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证终元器件的性能指标,是光学元件加工领域的关键问题之一。

 

光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度,这些参数会影响其对光信号的传播,进而影响终器件的性能。

 

此外,各种新型光学元件也需要检测其表面轮廓,比如非球面,衍射光学元件,微透镜阵列等。除了终光学元件的加工精度以外,各种光学元件加工工艺也需要检测中间过程的三维形貌以保证终产品的精度,包括注塑、模压的模具,光学图案转印时的掩膜版,刻蚀过程的图案深度、宽度等。


布鲁克的三维光学显微镜配备专利的双光源技术,同时实现白光干涉和相移干涉成像,适用于各种不同光学样品、模具的三维形貌测量。在光学加工领域得到广泛应用。

 

· 设备可以用于光学元件表面质量检测,可以通过表面粗糙度、表面斜率分布等判断光学元件整体散射率,也可以统计局部的各种缺陷。

 

· 设备还可以用于各种光学元件的面型分析,除了手动分析以外,软件还提供了包括Zernike多项式拟合、非球面分析等功能。

 

· 由于该设备能准确测量和分析光学元件,在多种先进光学元件中得到广泛应用,包括光栅、菲涅尔透镜和二元光学元件等衍射光学元件,以及微透镜阵列等。 


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布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域应用

光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元件加工领域的关键问题之一。


光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度,这些参数会影响其对光信号的传播,进而影响最终器件的性能。此外,各种新型光学元件也需要检测其表面轮廓,比如非球面,衍射光学元件,微透镜阵列等。


除了最终光学元件的加工精度以外,各种光学元件加工工艺也需要检测中间过程的三维形貌以保证最终产品的精度,包括注塑、模压的模具,光学图案转印时的掩膜版,刻蚀过程的图案深度、宽度等。

 

布鲁克的三维光学显微镜配备双光源技术,同时实现白光干涉和相移干涉成像,适用于各种不同光学样品、模具的三维形貌测量。在光学加工领域得到广泛应用。


· 设备可以用于光学元件表面质量检测,可以通过表面粗糙度、表面斜率分布等判断光学元件整体散射率,也可以统计局部的各种缺陷。


· 设备还可以用于各种光学元件的面型分析,除了手动分析以外,软件还提供了包括Zernike多项式拟合、非球面分析等功能。


· 由于该设备能准确测量和分析光学元件,在多种先进光学元件中得到广泛应用,包括光栅、菲涅尔透镜和二元光学元件等衍射光学元件,以及微透镜阵列等。


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