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- 【上海沪敖】移动计量室 ZEISS T-SCAN
您的移动计量室-Zeiss T-scan
模块化T-SCAN系统助力实现快速检测:系统即刻捕捉零件三维数据,无需任何准备工作。手持式T-SCAN激光扫描仪与光学跟踪系统T-TRACK,T-POINT接触式探针完 美结合,形成一套直观且高精度的三维计量解决方案。搭配GOM Inspect Suite软件套装,突破了其在三坐标测量技术领域的新高度。
模块一体化概念
模块一体化概念和完整的激光扫描仪解决方案为各种应用和表面检测提供极高的灵活性。
及时发现偏差
省时省钱:该移动式测量解决方案可作用于车间现场,带来直观的零件分析,测量以及数模建立。
用户引导性的软件工作流程
T-SCAN系统现与GOM Inspect Suite软件套装结合。用户可在视察器上实时查看扫描进度,并在扫描,探针探测和检测过程中获得软件操作提示。
移动式测量系统 两种适配选择
数据轻松捕获
手持式激光扫描仪-ZEISS T-SCANT-SCAN扫描仪可进行快速,直观的三维数据采集。手持式设计符合人体工学,扫描轻松不费力。测头轻巧,结构紧凑,尤其适用于可及性非常差的零件部位的数据采集
多尺寸测量
ZEISS TTRACK 20蔡司T-TRACK20的测量体积可达20m³。单次设置即可测量大至4m的零件。上手容易,您可以高效,准确,快速的采集到三维数据。只需将零件放入其跟踪体积范围内,即可进行测量,无需准备参考点。可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。
高精度测量
ZEISS TTRACK 10全新T-TRACK 10光学跟踪系统的测量体积可达10m³。与T-SCAN 10结合,只需进行一次设置,就可以测量长达2.5m的零件。配备高品质的蔡司光学元件,尤其适用于对精度有高要求的工业应用。可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。
快速单点测量
ZEISS T-POINT
蔡司T-POINT接触式探针是对物体标准几何形状,切边区域,以及光测量手段难以进入的死角区域进行单点测量的理想解决方案。它可以快速,稳定地采集到目标位置的三维数据。该设备可以与传统的测量探针一起使用,更换起来方便快捷。
扩展您的测量体积
ZEISS T-SCAN SMTs通过使用T-SCAN SMT(球形标靶),您可以进一步扩展测量体积,甚至结合多个蔡司T-SCAN系统使用。当被测零件尺寸过大,或者表面形状阻碍激光投影时,您可以将这个方便的多位置跟踪器安装到物体上,从而获得精度一致的三维数据。
高过程可靠性
GOM Inspect SuiteGOM Inspect Suite拥有成熟的三维计量体系标准。蔡司T-SCAN 目前与GOM Inspect Suite多合一软件解决方案实现同步结合。测量和检测均可以在软件中执行,全参数化的工作流程确保所有过程步骤的可追溯性。此外软件提供用户操作指引,可辅助用户进行扫描和探测,从而简化并加快工作流程。
技术参数
ZEISS T-SCAN 手持式激光扫描仪
测量深度
+/- 50 mm
线宽
至 125 mm
工作距离
150 mm
线频率
至 330 Hz
数据速率
210,000 测点/秒
重量
1100 g
测头尺寸(包括把手和IR pins)
300 x 170 x 150 mm
缆线长度
10 m
点间距
0.075 mm
激光等级 (IEC 60825-1:2014)
Class 2M (人眼安全)
软件
GOM Inspect Suite
T-SCAN 10
产品型号
T-SCAN 10
测量距离:
测量物到相机距离
2.0 m – 4.50 m
测量体积
10 m3
扫描视场
最 大 2894 mm x 2324 mm
测量速率
最快 2.8 kHz
重量
18.5 kg
尺寸
1150 x 180 x 150 mm
软件
GOM Inspect Suite
精度可溯源
是
精确度
33+(33*L/1000)
T-SCAN 20
产品型号
T-SCAN 20
测量距离:
测量物到相机距离
2.0 m – 6.0 m
测量体积
20 m3
扫描视场
最大 3200 mm x 2500 mm
测量速率
最快 2.8 kHz
重量
18.5 kg
尺寸
1150 x 180 x 150 mm
软件
GOM Inspect Suite
精度可溯源
是
精确度
40+(40*L/1000)
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- 【上海沪敖3D】NavVis VLX穿戴式三维扫描系统
NavVis VLX是一款专为激光扫描和AEC专业人员设计的,即使在最复杂的建筑地形也能实现高质量现实捕捉的移动扫描系统。
01动态扫描
产品通用性解决您最迫切的需求。NavVis VLX 第二代的扫描速度比架站仪快至10倍,可以很好的处理光线条件不佳的各种复杂室内空间或室外及建筑工地等环境所遇到的问题。
02极高的精度
为了获得超越行业标准的精度,NavVis VLX采用了首屈一指的精密 SLAM 技术。
03一体化现实捕获
两个多层 LiDAR传感器采集 3D 测量数据,并结合行业领先的 SLAM 算法软件,生成测绘级质量的点云。设备顶部装有四个摄像头,用于360º全方位拍摄高分率的画面,确保无拍摄死角的同时保证使用者不出现在画面中。
04扫描现场的实时反馈
通过内置的触屏式交互界面实时监控您的扫描进度,以确保在您移动时扫描的完全覆盖。
05精度与人体工程学想结合
一款首 创的可穿戴设备,使操作人员能够以行走的速度舒适地进行扫描。面向前方的设计使之可以有针对性得扫描,内置的屏幕也使观察角度最 佳化。
06地理位置登记
NavVis VLX 可与现场的标准工具完全兼容。它可以捕获由全站仪和GNSS漫游器测量的本地站点坐标系统中的控制点,还支持全 球各地的坐标,以便对数据集进行精确的地理登记 和校准。
07折叠式设计
独特的铰链式设计使之可以折叠起来,装入一个保护箱中, 让单个操作员能够轻松地运输和配置。
08测绘级别的点云
NavVis 系统软件使用独特的 SLAM 算法,专为克服用移动系统采集高质量点云这一挑战而研发。
保留原始细节 点云表面重建保留了细节,同时消除了噪点,以便更有效地用 于2D绘图和3D模型。
高度逼真的纹理 彩色和纹理逼真的精细点云。
检测和移除动态对象 在扫描过程中移动的物体会被自动检测并在后期数据处理过 程中从点云中移除 ,从而节省人力工作。
强大的SLAM 算法可以准确地捕捉到整个建筑,包括外墙和周围环境
Navvis现实捕捉解决方案
总而言之,NavVis VLX 和 NavVis IVION Core(标准版) 为建筑环境提供了完整的移动扫描解决方案,让您对数字建 筑的访问不受地理位置的限制。利用 NavVis IVION Cloud Processing Add-on(云处理插件),将您的处理工作流程推 至新的高度。
NavVis IVION Core(标准版)
NavVis IVION Core(标准版)是一个适用于激光扫描和 AEC 专业人员的现实捕捉平台。它使用直观的工具管理您的3D扫描,用于创建、协作和发布项目。
NavVis IVION Cloud Processing add-on(云处理插件)
使用NavVis IVION Cloud Processing Add-on(云处理插件)时,您可以在任何有网络连接的地方处理NavVis设备所采集的扫描数据。可在现场轻松设置并开始处理多个数据集,当您回到办公室时即可使用。
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关于展会
BIO CHINA 生物发酵展是亚洲范围内超大规模的生物发酵产业展示平台。即将于2023年8月4日-6日在上海新国际博览中心盛大举办。
大会汇聚了超过30个国家和地区的700家参展企业,更吸引了超过40,000名专业观众。其推出的近30多场论坛和活动也在分享技术与市场前瞻的同时,为参展商带来了额外的曝光机会,帮助企业更高效地维护客户关系,拓展业务合作,推广新品和服务,提升品牌形象,从而在市场竞争中赢得优势!
参展产品
Exhibition Product
本次本司将携带IVS400-2全自动黏度仪、MT100批量配液器、A6自动马弗炉三款产品亮相于展会。
01、IVS400-全自动黏度仪
02、MT100-批量配液器
03、A6-自动马弗炉
邀请您的莅临,F27-1
viting Your Visit
本次展会我们位于 F27-1展位(下图箭头所指区域),诚邀您的莅临,共襄盛举,共同见证行业的精彩呈现与蓬勃发展!
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- 【上海沪敖】新一代手持激光扫描系统 ZEISS T-SCAN hawk 2 欢迎预约演示
新一代手持激光扫描系统 ZEISS T-SCAN hawk 2
快速、流畅的扫描功能。
直观的操作,引导式工作流程,强大的软件。
德国制造,ZEISS制造,为您量身打造。
ZEISS T-SCAN hawk 2
Take it. Make it.
ZEISS开发和制造的手持式高精度系统
新一代轻量级三维激光扫描仪——便携式T-SCAN hawk 2,
具有计量级精度和非凡的易用性。
德国研发制造。
验收测试已通过行业内最 高标准的认证。
理想的工作距离
通过全新的投影模式控制工作距离-红色激光标记可帮助您轻松调整,以得到理想的扫描结果。
适应您的工作流程的解决方案
流程由您掌控——T-SCAN hawk 2操作直观,可轻松适应操作者的手部移动。
使用全新的卫星模式测量大型物体
T-SCAN hawk 2是第 一款具有新型卫星模式的便携式激光扫描仪,可用于扫描高达数米的物体。无需通过编码标记点进行摄影测量。不会损伤精度。使用新的激光网格轻松进行扫描仪定位。
用于三维检测的一体化软件
T-SCAN hawk 2可与GOM Inspect配合使用,GOM Inspect是三维计量领域的公认标准,也是ZEISS Quality Suite的一部分。您可免费试 用GOM Inspect Pro 14天。
ZEISS逆向工程软件CAD建模
使用T-SCAN hawk 2扫描三维数据,并将数据导入ZEISS Reverse Engineering 软件,软件将引导您进行操作,只需几步即可获得高精度的CAD模型。
系统认证的参考标
Carl Zeiss GOM Metrology GmbH是光学计量领域的长度和坐标标准的认证实验室。
每一台 T-scan hawk 2 系统都提供了三份系统认证报告,可追溯的长度标准报告和一个DAkkS校准报告及可追溯的标定板坐标校准报告。
在不同任务之间切换
T-SCAN hawk 2具有无缝调节分辨率和测量范围的功能。无论是小型零件、精细细节、大型物体或深孔、还是在狭窄空间内或者可触及性差的区域,这款三维激光扫描仪均可胜任工作。
按下按钮即可操作
T-SCAN hawk 2有四个按钮,按下后可直接启动并导航工作流程。无需通过笔记本电脑单独操作点击软件。
在高暗或高亮表面上也具有极 佳表现
T-SCAN hawk 2适用于在各类材料和表面上进行扫描,可提供最 高精度的三维测量数据。
一切尽在掌握:出差携带方便
无论您将三维激光扫描仪带至生产现场还是在室外进行扫描,您都只需要携带一个手提箱,手提箱内同时配置了其它工具。
适用于多种应用场景
无论是检测缺陷、在生产区域进行质量控制或数字孪生、逆向工程、汽车设计或定制,T-SCAN hawk 2均可适用。
技术参数
欢迎预约演示......
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