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日立U-4100分光光谱仪

一瞬间home 2009-04-30 01:40:29 435  浏览
  • 我想知道这台仪器的详细资料,谢谢!

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全部评论(2条)

  • linyikai456 2009-05-01 00:00:00
    根本找不到,以下资料不知道从那里来的

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  • 农哥哥99 2018-04-10 12:36:27
    U4100固体样品测试系统 系统配置: 分光系统: 棱镜-光栅 样品舱: 标准 样品尺寸: Z大200 x 200mm 测定波长范围: 240-2600nm 检测器: 标准积分球 非常适合固体样品的透射、反射、漫反射测量。不同的测试目的可能要选用不同的测试附件,丰富的附件可使系统更满足您的工作需求。 U4100大样品测量系统 (240-2600nm) 产品名称:日立U-4100双单色器,双光束紫外/可见/近红外光谱仪 产品型号:日立U-4100 产品产地:日本 技术参数: 主要特点:Z适合半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究,是功能Z强劲的分光光度系统。 --高性能的固体,液体,浑浊样品测试系统。 --透射,镜面反射和漫反射都可测试。 --使用超大样品舱,样品Z大可至430 x 430mm,大型样品测试也无需破坏。 --紫外区Z低可测至175nm。 有四种系统可选: 1) U4100固体样品测量系统(240-2600nm) 2) U4100大样品测量系统(240-2600nm) 3) U4100紫外区高灵敏度测量系统(175-2600nm) 4) U4100液体样品测量系统(185-3300nm) 注意:在发货以后,各系统之间无法通过升级实现转换。 系统配置: 分光系统: 棱镜-光栅 样品舱: 大型样品舱 样品尺寸: Z大430 x 430mm 测定波长范围: 240-2600nm 检测器: 标准积分球 拥有超大样品舱,对于大型样品的透射/反射测量非常方便,比如玻璃板材,单晶硅片,液晶板,激光晶体,透镜组等超大,超长样品都可进行无破坏检测。 U4100紫外区高灵敏度测量系统 系统配置: 分光系统: 光栅-光栅 样品舱: 标准 样品尺寸: Z大200 x 200mm 测定波长范围: 240-2600nm 检测器: 高灵敏度积分球 此系统采用的光源、单色器和检测器都是经过特别设计和选择,适合应用于紫外区的光谱研究,特别是175-190nm这个区域有很好的光学性能。可测试那些应用在紫外光谱区的光学部件样品。 注意:高灵敏度积分球为双孔积分球,可特别定制4孔积分球,请提前联络。 U4100液体样品测量系统 系统配置: 分光系统: 棱镜-光栅 样品舱: 10mm角液体池 测定波长范围: 185-3300nm 检测器: 光电倍增管和冷PbS 专用于液体样品吸光度测定。采用光束直接入射检测器方式,扩宽了测定的波长范围。装配标准10mm角液体池,用于液体样品的透过率和吸光度的测定。也可选配积分球附件用于固体样品测试。 精选附件:(更多附件请咨询当地销售工程师) 1. 角度可变反射附件 (P/N134-0115) 利用检测器(全积分球)的独立旋转,可以测量任意角度的样品的反射率。Z适合棱镜样品的测试。 指标: 入射角: 20o~60o 样品尺寸: 平面板30 x 30 ~40 x 140mm棱镜样品 85mm3 波长范围: 300-2600nm 2.棱镜测定附件 各种棱镜在入射角为45o时的透过率、反射率的测定。 指标: 入射角: 45o 样品尺寸: 16mm ~ 60mm立方体 测定点: ZX 波长范围: 240-2600nm 主要特点 Z适合半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究,是功能Z强劲的分光光度系统。 --高性能的固体,液体,浑浊样品测试系统。 --透射,镜面反射和漫反射都可测试。 --使用超大样品舱,样品Z大可至430 x 430mm,大型样品测试也无需破坏。 --紫外区Z低可测至175nm。 有四种系统可选: 1) U4100固体样品测量系统(240-2600nm) 2) U4100大样品测量系统(240-2600nm) 3) U4100紫外区高灵敏度测量系统(175-2600nm) 4) U4100液体样品测量系统(185-3300nm) 注意:在发货以后,各系统之间无法通过升级实现转换。如果您有特殊 需要,可联络当地销售工程师提供定制服务。

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日立推出多功能台式RoHS 筛选XRF光谱仪EA1400

新型EA1400台式XRF光谱仪的核心特征是速度、准确度和多功能性。其具有超灵敏SDD检测器、大型样品舱以及经优化的X射线探测器配置,可用于各种应用领域,是进行RoHS监管筛查的理想工具。

快速进行RoHS合规分析

EA1400专为快速进行RoHS / ELV合规和无卤素分析而设计。该款仪器具有强大的新开发技术以及自动化功能,能快速可靠地确定生产部件是否含有害物质。对于必须检查产品是否符合RoHS标准的大批量生产厂的运营商而言,EA1400恰好可满足其需求。

生产过程管理

EA1400作为检测实验室进行来料检验和质量保证的理想工具,可供各种不同的企业进行RoHS合规筛查。日立还针对许多工业过程的过程控制和管理对该仪器进行了优化,其中包括金属、矿物、玻璃、聚合物和化学品的生产。例如,除了使用EA1400进行RoHS合规分析外,还可对其进行设置以监控特定过程元素的含量。该监控信息会自动存储,使仪器能够在此类元素出现问题之前发现其增长趋势。

EA1400的新功能

具备更高精度的高通量分析

EA1400包含新开发的超灵敏SDD检测器,可在不损失准确度的情况下进行快速分析,且其高强度X射线可提供更高的精度。此类先进技术确保EA1400能在保持高精度和准确度的同时进行快速测量,并分析黄铜等具有挑战性材料中的元素(例如镉)。在必须满足RoHS指令的快节奏生产环境中,EA1400所具备的这种能力水平非常宝贵。已开发的相关软件可在规定的测量时间之前确定分析结果是否合格/失败,由此可节省时间并增加需分析的样品数量。

轻松适应大型样品

EA1400设计有W:304 x D:304 x H:110mm规格的样品室。非常适用于大型或不规则形状样品。自动进样器选项最多可测量12件样品,可实现无人值守分析,为其他活动腾出更多时间。

不规则形状样品的可重复结果

当样品表面不平坦时,标准XRF仪器可能难以提供准确的结果。新优化的X射线照射方法专为EA1400而设计,可弥补样品不规则或不均匀所带来的缺陷,确保分析结果的可重复性。

扩展可分析的元素范围

如果不依靠氦,则可能难以分析诸如铝、镁和钙等较轻的元素。EA1400可消除这一问题,由于其能够在真空条件下探测和解决关于分析此类较轻的元素的问题,因此其可降低氦成本。

预装直观软件,减少操作员失误

EA1400自动从样品扫描中选择zui佳测量类型,确保零经验用户获得良好的结果。已按照当前指令的规定为该仪器配置相关软件,便于进行RoHS合规分析*。

了解更多信息

请联系日立以进行样机演示,从而了解新型EA1400如何帮助您满足大容量RoHS合规检测。

EA1400是日立的众多RoHS合规系列分析仪之一。如果需定期检测RoHS受控物质,则可查看日立专为符合此需求而设计的其他分析仪:

EA1000AIII:简化分析,便于RoHS合规筛查

EA6000VX:电子制造业自动化RoHS合规分析

HM1000A:快速简单筛查邻苯二甲酸酯是否符合RoHS标准

X-MET8000:快速可靠的合规筛查


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EPMA 的分光晶体

       波长分散型 X 射线谱仪(WDS)为了满足 X 射线衍射条件(Bragg 条件)和几何聚 光条件,样品上的 X 射线产生点和分光晶体之间的距离与分光晶体和 X 射线检测器 之间的距离相等。 

       通过使分光晶体和 X 射线检测器沿着罗兰圆移动来检测不同波长的 X 射线。本公司的 EPMA 采用半径为 140mm 和 100mm 的罗兰圆。 罗兰圆的半径为 140mm 的 XCE·L 形 X 射线谱仪具有分光范围广,波长分辨率和 P/B 比的特征,100mm 的 H 形 X 射线谱仪具有 X 射线强度高的特征,可以根据目的进行选择。 

       下面介绍各分光器的 PET, LIF, TAP 分光晶体以及 LDE1 和 LDE2 等轻元素用分光元 件。

        一. 分光器模式图

       二. 超轻元素用分光元件的检出元素 list 

       LDE1 和 LDE2 由于分光范围广式通用性高易于使用的分光元件。LDE5H 与累积膜 (STE)相比,成功地将 N 的 x 射线灵敏度提高 30 倍。另外,LDE6H 对微量 C 和微量 B 有很好的效果。

       三. PET,LIF,TAP 分光晶体的分光范围

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