X射线荧光分析仪-利用薄膜FP法测试膜厚

简介

       利用薄膜FP法测试膜厚为了提高产品部件的耐腐蚀性、装饰性和功能性，电镀等表面处理技术被广泛地应用于各个行业。由于镀膜的厚度与产品的特性、质量及生产成本有关，因此管理非常重要，对镀层厚度有着多种测试、分析和评定方法。X射线荧光光谱仪可以进行无损、无标样分析，Z多能够测试5层镀膜。

各种标准样品的测试实例

1.金镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

 2.镍镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

3、锌镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

4、银镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

使用仪器：JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪

简介

       为了Z大限度地减少因产品缺陷造成的损失，必须在早期阶段查明原因，采取措施防止问题再次发生。X射线荧光分析仪( ED-XRF)对任何状态的样品，不管是固体、液体还是粉末，都能提供快速、无损的元素分析，可以作为早期查明原因的筛选仪器使用。

ED-XRF

       下图是因开裂发生漏水的黄铜管(用于冷却水系统)管路配件，我们利用ED-XRF对裂纹处进行了元素分析。

       根据元素分析结果发现Sn、Pb的含量是有差异的。由于裂纹部分的元素分布状态不同于正常部位，就利用EPMA进行了精密分析。

EPMA

       EPMA能确认元素的分布状态及组织结构的大小。

利用EPMA进行元素面分布，发现主要成分Cu和Zn的组织结构大小不同

总结

       ED-XRF能简便、快速地获得所含元素的信息。此外，根据这些元素信息还可以在早期阶段确定后续的精密分析方法。EPMA的元素面分布，能获得有关元素的分布状态及成份信息，有助于查明故障发生的原因。

简介

       合金中所添加元素的种类及浓度是决定材料特性的要素，尽管外观可能相同，但其种类或特性却有差异，合金分析在制造过程及质量管理中起着重要作用。

       X射线荧光光谱仪能提供快速、无损的元素分析，是合金分析的有效方法之一。下面显示两种分析结果：简便分析只需一触按钮就可获得，手动分析是在传统的人工设置条件下进行的。

各种标准样品的测试实例

铝合金(A5083)

不锈钢(SU S316)

铜合金(CDA642)

钛合金(TI16-2-4-2)

简介

       有机材料如塑料等是由碳、氢、氧或氮等组成的，根据不同的特性要求还添加无机元素。

       X射线荧光分析仪能够对有机材料中的无机元素简便地进行定性和定量分析。应用于有机物时，不能直接检测的碳和氢等作为平衡成分计算。下面显示的简便分析只需轻触一下按钮就能自动设定平衡成分并获得分析结果，手动分析是在传统的人工设置条件下进行的。

各种标准样品的测试实例

PE

ABS

PS

简介

       岩石、土壤、玻璃、陶瓷、焚烧灰等的主要组成成分是元素的氧化物。

       进行这些元素分析，对学术研究、材料的功能性和实用性评估非常重要。

       X射线荧光光谱仪能提供快速、无损的元素分析。下面显示两种分析结果:简便分析只需一触按钮就可获得，手动分析是在传统的人工设置条件下进行的。通过简便分析能快速地知道各元素的浓度量级，利用手动分析可以使分析精度更高。

       各种标准样品的测试实例

       钠玻璃(NIST1831)

       火山灰（安山岩）

       火成岩（橄榄石）