x荧光分析仪能测量非金属元素吗

简介

       为了Z大限度地减少因产品缺陷造成的损失，必须在早期阶段查明原因，采取措施防止问题再次发生。X射线荧光分析仪( ED-XRF)对任何状态的样品，不管是固体、液体还是粉末，都能提供快速、无损的元素分析，可以作为早期查明原因的筛选仪器使用。

ED-XRF

       下图是因开裂发生漏水的黄铜管(用于冷却水系统)管路配件，我们利用ED-XRF对裂纹处进行了元素分析。

       根据元素分析结果发现Sn、Pb的含量是有差异的。由于裂纹部分的元素分布状态不同于正常部位，就利用EPMA进行了精密分析。

EPMA

       EPMA能确认元素的分布状态及组织结构的大小。

利用EPMA进行元素面分布，发现主要成分Cu和Zn的组织结构大小不同

总结

       ED-XRF能简便、快速地获得所含元素的信息。此外，根据这些元素信息还可以在早期阶段确定后续的精密分析方法。EPMA的元素面分布，能获得有关元素的分布状态及成份信息，有助于查明故障发生的原因。

简介

       利用薄膜FP法测试膜厚为了提高产品部件的耐腐蚀性、装饰性和功能性，电镀等表面处理技术被广泛地应用于各个行业。由于镀膜的厚度与产品的特性、质量及生产成本有关，因此管理非常重要，对镀层厚度有着多种测试、分析和评定方法。X射线荧光光谱仪可以进行无损、无标样分析，Z多能够测试5层镀膜。

各种标准样品的测试实例

1.金镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

 2.镍镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

3、锌镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

4、银镀层

样品

测试条件

管电压：50 kV

准直器直径：0.9 mm Φ

气氛：大气

测试时间：60秒

谱图

分析结果

使用仪器：JSX-1000S 能量色散型X射线荧光分析仪