原子力显微镜中的常用“密语”,让操作更便捷
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关于原子力显微镜有很多专业性名词,如果能看懂这种 常用“密语”,让后面操作更便捷
1. AFM:即Atomic Force Microscope(原子力显微镜)的缩写。原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2. SPM:即Scanning Probe Microscope(扫描探针显微镜)的缩写。是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及高分辨图形处理技术等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品。
3. 范德瓦耳斯力:van der Waals force。分子间作用力,是存在于中性分子或原子之间的一种弱碱性的电性吸引力。其能量计算的经验方程为:U =B/r12- A/r6。
4. 卡西米尔效应:金属导体或介电材料的存在改变了真空二次量子化后电磁场能量的期望值。这个值与导体和介电材料的形状及位置相关,因此卡西米尔效应表现就成了与这些属性相关的力。
5. 接触模式(Contact Mode):AFM最直接的成像模式。在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构,因此力的大小范围在10-10~10-6N。若样品表面柔嫩而不能承受这样的力,则不宜选用接触模式对样品表面进行成像。
6. 非接触模式(non-contact mode):非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5~10nm的距离处振荡。样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制,通常为10-12N,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染,特别适合于研究柔嫩物体的表面。
7. 轻敲模式(Tapping Mode):轻敲模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了,因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是好的选择之一。
8. 激光检测器 :是利用激光扫描检测原理而研制的,它主要由光学机械扫描器和扫描光学系统组成的激光扫描发射器,由接收光学系统和光电转换电子学系统构成的激光扫描接收器,以单片机为核心的实时控制与数据处理系统构成的控制器以及半导体激光电源组成。
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- 原子力显微镜中的常用“密语”,让操作更便捷
关于原子力显微镜有很多专业性名词,如果能看懂这种 常用“密语”,让后面操作更便捷
1. AFM:即Atomic Force Microscope(原子力显微镜)的缩写。原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2. SPM:即Scanning Probe Microscope(扫描探针显微镜)的缩写。是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及高分辨图形处理技术等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品。
3. 范德瓦耳斯力:van der Waals force。分子间作用力,是存在于中性分子或原子之间的一种弱碱性的电性吸引力。其能量计算的经验方程为:U =B/r12- A/r6。
4. 卡西米尔效应:金属导体或介电材料的存在改变了真空二次量子化后电磁场能量的期望值。这个值与导体和介电材料的形状及位置相关,因此卡西米尔效应表现就成了与这些属性相关的力。
5. 接触模式(Contact Mode):AFM最直接的成像模式。在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构,因此力的大小范围在10-10~10-6N。若样品表面柔嫩而不能承受这样的力,则不宜选用接触模式对样品表面进行成像。
6. 非接触模式(non-contact mode):非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5~10nm的距离处振荡。样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制,通常为10-12N,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染,特别适合于研究柔嫩物体的表面。
7. 轻敲模式(Tapping Mode):轻敲模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了,因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是好的选择之一。
8. 激光检测器 :是利用激光扫描检测原理而研制的,它主要由光学机械扫描器和扫描光学系统组成的激光扫描发射器,由接收光学系统和光电转换电子学系统构成的激光扫描接收器,以单片机为核心的实时控制与数据处理系统构成的控制器以及半导体激光电源组成。
- 了解X射线荧光(XRF)中的常用“密语”,为检测加速
查看X射线荧光(XRF)相关的内容时,您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南,来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。
XRF
XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有:
EDXRF = 能量色散型X射线荧光光谱法。快速、经济的X射线荧光技术,普遍被运用在手持式的X射线荧光分析仪中。
WDXRF = 波长色散型X射线荧光光谱法。实验室用的X射线荧光技术,相比较于利用能量色散型X射线荧光光谱法的分析仪,其价格更加昂贵。
HHXRF = 手持式X射线荧光分析仪
pXRF = 便携式X射线荧光分析仪
探测器
手持式X射线荧光分析仪一般使用两种类型的探测器:
PIN = 硅PIN二极管探测器。相较SDD探测器,是一种较为早期、便宜、探测效率慢的一种探测器。
SDD =硅漂移探测器。一种新型探测器,相较PIN探测器,计数率为其的10倍。
元素
LE =轻元素。轻元素被激发时发射的X射线能量很低,所以难以被我们的探测器接收到。
在判定LE的含义时需要结合上下文的内容。因为我们也经常将手持式XRF分析仪能够测量到的一些轻元素也称作为LE,包括:
镁 (Mg)
铝 (Al)
硅 (Si)
磷 (P)
硫 (S)
氯 (Cl)
钾 (K)
钙 (Ca)
上述轻元素只有利用SDD探测器才能检测。
在很多情况下, LE 也代表在化学元素周期表中原子序数低的元素, 这些元素我们无法利用手持式XRF分析仪进行检测,比如钠(Na), 碳 (C), 氢 (H),以及氧 (O)。
氢(H)到钠(Na): 这些LE (蓝色区域内的) 我们无法使用手持式XRF分析仪探测到。镁 (Mg) 到钪 (Sc): 这些元素 (黄色区域内) 无法用PIN探测器检测—需要使用搭载了SDD探测器的手持式XRF分析仪。
算法
FP =基本参数法。一种常用于X射线荧光技术的计算/校准的算法。它根据原子的基本物理特性,将不同的元素之间的干扰效应也纳入了算法中。当分析一个具有高密度的样本时(比如大多数的金属材料),这会是一个非常有效的方法。
CN =康普顿算法。一种相对简单的计算/校准的算法,适用于低密度样本的分析。
可靠性鉴定
PMI = 材料可靠性鉴定。用户在需要判定一些设备中的重要组成部件是否由某种特定的合金组成的时候需要对这些设备进行PMI判定, 比如:水管、阀门、焊接处、以及压力容器。对一些特定的化学元素的含量进行检测和匹配,快速的验证金属牌号。
分析检测
LOD = 检出限。LOD表示至低可以探测到的某种元素的含量。在含量非常低的时候,设备会无法判定该元素的存在、或者给出其含量的数值。
LOQ = 定量限。LOQ大约是LOD的3倍,元素含量在这个限值以上时,给出的检测结果的置信度很高。
Vanta分析仪的型号
我们的Vanta XRF分析仪型号 由3位英文字母构成,以描述不同的特征,对应客户不同的应用和分析检测的需求。
3位英文字母分别体现了3个部分:Vanta、所属系列和X射线管的类型。举例:VMR、VCR、VCA和VLW。在我们的VMR型号中,V指Vanta、M指M系列、R指铑(Rh)靶X射线管。
下文会写到我们Vanta系列的产品选择以及各种X射线管的信息。
Vanta系列
M, C, L: 我们使用了罗马数字去定义产品的价格/性能的等级。罗马数字越高,产品的性能越高。M系列是我们性能最为优越的产品,其次是C系列,最次为L系列。
X射线管类型
R =铑(Rh)靶X射线管。非常适合用于探测轻元素。可以快速的探测镁(Mg),在辨别铝合金的牌号中该元素非常有用,这一特性使铑(Rh)靶X射线管非常适合运用在大多数的金属应用中。
W = 钨(W)靶X射线管。使用钨或者类似的重元素作为靶材时,可以很好的探测高X射线能量的元素,比如镉(Cd),在有害物质限制(ROHS)应用中是非常关注的元素。
A =银(Ag)靶X射线管。可以很好的适用大多数的应用。银靶X射线管无法像铑靶那样很好的检测镁(Mg)元素,也无法像钨靶那样准确的探测镉(Cd)元素。但是如果在预算有限的情况下,他不失为是一个很好的折衷方案。
我们希望这篇文章的内容对您来说是有用的,请收藏并转发给更多的小伙伴吧!除此以外,如果有其他希望了解的XRF相关略缩语希望我们进行解释的,还请联系我们。
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- 火焰原子荧光光谱法让谷物中镉元素测试更GX
近日,湖北省举办的“2019年湖北省样品前处理技术创新大会”圆满落幕。此次大会以“样品前处理创新理念”为主题,介绍了Z新样品前处理技术。作为市面上唯yi一家只专注原子荧光光度计的研发以及生产的高新技术企业,北京金索坤时刻秉持创新的理念,在谷物中镉元素检测的前处理作了深入研究并和国家粮食局科学研究院共同起草了《谷物中镉的测定 稀酸提取 火焰原子荧光光谱法》CAIA标准,该标准大大提高谷物中测镉的前处理效率。
首先,我们了解一下应用石墨炉原子吸收光谱法检测大米中的镉前处理过程。以石墨消解罐消解为例,具体的操作过程如下:称取0.3g~0.5g(精确至0.0001g)干燥试样至于聚四氟乙烯内罐,然后加入5ml硝酸。浸泡一夜后加入2mL~3mL加过氧化氢溶液(30%)。将内盖盖好后盖好外盖,在120℃-160℃环境下保持4h-5h。待恒温干燥箱内温度自然降至室温后打开盖子,加热条件下赶酸。取10ml容量瓶,消化液移入容量瓶并用少量硝酸溶液清洗消解罐内罐和盖,定容备用。另需要做空白对照试验。整个前处理过程需要隔夜。
接下来我们看一看标准《谷物中镉的测定 稀酸提取 火焰原子荧光光谱法》中前处理方法,以应用SK-典越火焰原子荧光光度计为例,前处理方法如下:首先需要称取样品0.2 g~0.5g(精确至0.0001 g),然后,样品需要经过粉碎、混匀过程。经处理的样品至于25 mL离心管,加入1%硝酸20.0 mL进行离心。转速选择4000 r/min,5min后选择上清液检测。整个前处理过程仅需几分钟。
从上面的对比可以看出,《谷物中镉的测定 稀酸提取 火焰原子荧光光谱法》标准的前处理方法更加简单GX,大大提高样品测镉的效率。金索坤公司作为原子荧光行业的ling跑者,会继续为原子荧光行业的发展探索乾坤,不断推出创新型原子荧光产品,还会为用户不断优化原子荧光前处理方法,让检测人员的工作更便捷。
金索坤SK-典越 火焰原子荧光光度计
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- 如何让多肽芯片制备更高效?
如何让多肽芯片制备更高效?
多肽芯片的制备原理?多肽芯片是将已知的蛋白序列或任意设计的氨基酸序列分解成包含重叠氨基酸的多肽片段,将这些多肽片段按一定次序固定在经特殊处理过的载体基质上,每张芯片包含成千上万甚至更多的肽链。将待测物与芯片反应,经过免疫检测技术发现与待测物有结合反应的位点/域,经过图像数据处理与分析,寻找蛋白质/氨基酸与待测物的结合部位。
多肽芯片技术具备高通量,稳定可靠,灵活多样的特点。多肽芯片上承载大量的多肽片段,可快速、有效的找到相应结合位点/域;多肽芯片上固载的多肽片段包含蛋白全序列,相对于原大分子蛋白质而言更稳定,不易分解失活,采集的数据更为准确;多肽片段可不局限于已知的蛋白结构,构成多肽分子的氨基酸可以是进行过化学修饰的非天然氨基酸,在药物研发和筛选方面具有很强的灵活性;
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