什么是高温四探针电阻率测量系统？

测量次序

将直流电压施加在试样上,会改变其随后测量的工频 tan6的结果。

当在同一试样上相继测量电容率、损耗因数和电阻率时,工频下测量应在对试样施加直流电压以前进行。工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率。

导致错误结果的因素

虽然只有严重污染才会影响电容率。但微量的污染却能强烈地影响 tan 和电阻率。

不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染、由未洗净试验池或吸收了水份, 特别是存在不溶解的水份所引起。

在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至*小

测量次序

将直流电压施加在试样上,会改变其随后测量的工频 tan6的结果。

当在同一试样上相继测量电容率、损耗因数和电阻率时,工频下测量应在对试样施加直流电压以前进行。工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率。

导致错误结果的因素

虽然只有严重污染才会影响电容率。但微量的污染却能强烈地影响 tan 和电阻率。

不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染、由未洗净试验池或吸收了水份, 特别是存在不溶解的水份所引起。

在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至*小

首先第一步需要测试体积电阻值和表面电阻值，然后根据试样的尺寸和电极系数，根据计算公式得到体积电阻率和表面电阻率，体积和表面电阻测试时，对电压试样的位置不同，从而能够不同的电阻值

在接和未接试样时电容的变化量是通过这个电容器来测得。在测微计电极中，次要的误差来源于电容校正时所包含的电极的边缘电容，此边缘电容是由于插入一个与电极直径相同的试样而稍微有所变化,实际上只要试样直径比电极直径小2倍试样厚度，就可消除这种误差。首先将试样放在测微计电极间并调节测量电路参数。然后取出试样，调节测微计电极间距或重新调节标准电容器来使电路的总电容回到初始值。△G——接入试样后，（图1）的两个电容读数之差。值得注意的是在整个试验过程中试验频率应保持不变。贴在试样上的电极的电阻在髙频下会变得相当大，如果试样不平整或厚度不均匀，将会引起试样损耗因数的明显增加。这种变得明显起来的频率效应，取决于试样表面的平整度。

该频率也可低到10MHzt因此，必须在ioMHg及更高的频率下，且没有贴电极的试样上做电容的损耗因数的附加测量，假设Cw和tan<5w为不贴电极的试样的电容和损耗因数，Cw-…带电极的试样电容。在一个线路两点之间的接地屏蔽，可消除这两点之间的所有的电容，而被这两个点的对地电容所代替，因此，导线屏蔽和元件屏蔽可任意运用在那些各点对地的电容并不重要的线路中；变压器电桥和带有瓦格纳接地装置的西林电桥都是这种类型的电路。从另一方面来说,在采用替代法电桥里，在不管有没有试样均保持不变的线路部分是不需要屏蔽的。实际上，在电路试样、检测器和振荡器的连线屏蔽起来。对于100kHz数量级或更高的频率，连线应可能短而粗。