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普通的二代测序,全基因组或外显子组测序是将DNA分成小片段,然后对各个片段多次读取(一般是三十次)。然而,如果突变只发生在15-20%的细胞中,三十次读取还不足以可靠地捕捉到它们,尤其是当突变只影响一个基因拷贝时。
Walsh和博士后Saumya Jamuar通过“定向高覆盖度测序”技术,为158名脑部疾病的患者鉴定致病突变,这些患者的症状包括癫痫、智力障碍、语言障碍等。
研究人员并没有分析整个基因组或外显子组(所有蛋白编码基因),而是把注意力放在一系列已知或有嫌疑的基因上,并且大大提高了测序的深度。
在一些疾病如唐氏综合征中,嵌合突变相较于影响全身细胞的突变,产生的症状要轻一些。但是很少量的变异细胞就足以引发损害人身心健康的症状,在以往的研究中,为了从普通基因组中检测到这些突变,研究人员就不得不增加测定的序列数量。而对少数候选基因区域进行的平均300次深度测序,就可以有效辨别被误认为测序错误的突变。
2020-10-23 15:49:28
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