Webinar 邀请｜1 月 12 日与飞纳电镜一起探讨 PCB 行业最新行业解决方案及测试分析方法

电子器件在实际服役过程中，由于设计原因或器件与环境相互作用，性能或结构发生变化，可能会出现性能下降或者破坏，需要对失效的原理、机理进行明确的分析并制定相应的改善措施。

失效分析对于纠正设计和研发错误、完善产品、提高产品良品率和可靠性有重要意义，飞纳电镜可以提供简单、高效、精确的电子半导体材料检测方案，对于失效模式的确定有极大的帮助。

1. 案例一 

电子器件的异物分析

在电子器件的生产中，往往由于原料不纯、制程污染等原因引入一些杂质，这些异物对产品性能有很大影响，常会造成器件的失效。在分析的过程中，利用搭载 EDS 的扫描电镜的形貌分析能力和元素分析能力，可以很好的找到异物，并对异物形态、成分、位置进行确认，进而帮助异物的溯源和工艺的改善。如下述案例中所示为铝垫表面的异物分析，在光学显微镜下可以发现铝垫表面存在的一些白点，利用 Phenom 电镜的光镜—电镜联动功能，可以快速的进行缺陷的定位，再通过 EDS-mapping 进行成分分析可以明显的发现含 Cl、Ag 的异物，残留的氯会导致打线的结合力变差而引起失效。

铝垫表面异物的 EDS 分析 

在制备过程中利用化镍金作为最 后的保护层已经成为越来越多的电子产品的制备工艺了，但是化镍金的表面也有可能遇到吃锡不良的问题，金面污染和镍腐蚀就是两种典型的原因。如下案例中 (A)、(B) 所示，在金面上 EDS 分析发现了明显的 C、O、S 等杂质元素，这些污染物就会导致焊接过程中出现吃锡不良。另外一种吃锡不良的原因-镍腐蚀通过表面往往很难发现，这时可以借助离子切割获得平整的断面，对断面进行 EDS 分析就可以对是否是镍腐蚀造成吃锡不良进行分析了。

吃锡不良缺陷的 EDS 分析 

02. 案例二

材料的断面分析

对于电子半导体材料而言，其失效缺陷很多时候在表面是难以发现的，如上述案例中提到的化镍金吃锡不良，这种时候借助断面分析往往可以得到更多的收获。如下图 (A)、(B) 所示为吃锡不良处的扫描电镜 (SEM) 图像分析，无法发现太多异状，但是，对比 (C)、(D) 的断面分析可以清楚的看到镍腐蚀已经深入铜层。

对于 PCB 板，镀铜层是否存在“柱状结晶”等严重影响镀层热可靠性异的结晶状态、镀层间是否存在“空洞”、“裂纹”等不易监控到的异常、IMC 层是否连续均匀......这些问题都需要利用断面分析来进行判断。如下述案例 (A)、(B) 中所示的夹杂物，案例 (C)、(D) 所展示的为有无 IMC 层及 IMC 层是否连续均匀的观察，没有连续均匀的 IMC 层往往容易导致焊点间的结合不牢。

03.

Webinar 预告

为了进一步促进 PCB 行业相关客户的深度交流与沟通，飞纳电镜 —— 复纳科学仪器（上海）有限公司联合北京软件产品质量检测检验中心以及广州皓悦新材料科技有限公司一起围绕“PCB 行业产品检测分析”这一话题展开讨论，探讨 PCB 行业最 新行业解决方案及测试分析方法。

直播时间

2023 年 1 月 12 日 14:00-16:00

组织机构

主办方：

复纳科学仪器（上海）有限公司

协办方：

北京软件产品质量检测检验中心

广州皓悦新材料科技有限公司

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预约会议

江海燕

北京软件产品质量检测检验中心

集成电路测评实验室测试工程师

报告题目：失效分析技术与检测方法

报告主要是对失效分析介绍，对失效机理及失效检测方法做简单概述。依据测试经验对样品展开外观检测、内部目检、电性能能测试、无损检测及破坏性分析等，实现对对样品失效点定位及失效机理确认。

朱俊文

资 深扫描电镜应用专家，TPCA 讲师

报告题目：PCB 最 新样品制备与 SEM 分析方法

1. 如何快速的制备 PCB 样品

2. ECCI 分析模式

3. PCB 分析案例分享

贺启云

广州皓悦新材料科技有限公司

经理 / 研发应用

报告题目：扫描电镜在 PCB 相关检测分析的应用分享

1. PCB 样品制作及注意事项

2. 电镜模式在 PCB 检测分析的应用分享

3. 元素分析在 PCB 检测分析的应用分享

参与本次研讨会将有机会获得精美奖品一份哟！

电源是电子设备中重要的组成部分，小到移动电话，媒体播放器中的电源，大到各种电力驱动和能源转换设备，其核心都是电能的调节变化和分配。开发、设计和调试这些电源设备，需要多种电子测试仪器。RIGOL作为国内从事测量仪器研发、生产和销售的高新技术企业，能够提供一整套从设计、研发到生产必须的测试设备。 

一、功率器件测试

功率半导体器件是能量转换的核心器件，不论是MOSFET还是IGBT，都承担着电能调整的重要指责。功率器件本身的损耗是影响电源整体效率的重要因素，高损耗将导致器件发热并有可能影响电源寿命。示波器一般采用瞬时功率积分方法测量功率器件的损耗波形。

RIGOL示波器均支持功率测试，齐备的高压差分和电流探头可以满足各种测试需求。PC版Ultra Power Analysis软件更可以导出测试数据，完成多种参数的在线和离线测试，并生成报告。

二、纹波测试

电源纹波是评价直流电源的重要参数，纹波的构成由工频纹波、开关纹波和高频杂讯组成。准确测试纹波需要测试仪器本身的纹波要尽可能小，测试系统对测试结果产生Z小的影响。

RIGOL示波器的一个重要特点是底噪较小，其中的DS2000A示波器更可以提供500uV/div的业内lingxian小量程，非常适合测试电源纹波这类小信号。PVP2150/PVP2350探头提供1：1/10：1两种衰减比，且1X档可以提供高达35MHz带宽，可以直接用于纹波测试。Ultra Power Analysis软件提供纹波分析功能模块。

三、调制分析

为提高电源效率，开关电源中大都采用的可以调节功率因数的FPC电路，门极驱动脉冲可调。在变频驱动系统中，双极型的PWM驱动脉冲也是需要仿真、测试和验证的。

RIGOL各种任意波形发生器可以产生各种脉宽调制信号，双通道输出时，通道间完全隔离，特别适合各类驱动信号的模拟产生。示波器的测量趋势绘图功能，可以分析调制信号的变化规律。

四、生产和老化测试

电源产品需要完成大批量的快速参数测试和老化试验，这些测试必须同时测试多路参数的测量和记录功能。对于超出限制的测试结果，系统需要报警提示。所有这些需求对于RIGOL M300数据采集系统都可以轻松完成。6位半数字表的测试精度、高达250CH/s的测试速度和Z高320通道的系统配置能力，使M300成为理想的生产测试和温湿度及老化测试的工具。大屏显示和PC软件让设置和使用M300变得轻而易举。

Rigol产品家族概述

Rigol是一家以技术作为核心基础的技术公司，在电子测试测量行业被国外进口设备层层包围的形势下，Rigol 自我改革，重视研发，使其发展在行业内一枝独秀，到目前为止形成了数字示波器、任意波形发生器、万用表、可编程线性直流电源、电子负载、频谱分析仪、射频信号源、数据采集仪等全面的生产线，从产量品质到产品价格给广大电子测试测量工程师给予了极大的帮助。

安泰测试是Rigol 厂家授权的西北地区产品服务的业务平台，具备专业的技术能力和完善的服务体系，关于电源测试的任何问题和需求，欢迎致电安泰测试体验我司的服务与支持。

Rigol提供电源测试行业全套解决方案

电源是电子设备中重要的组成部分，小到移动电话，媒体播放器中的电源，大到各种电力驱动和能源转换设备，其核心都是电能的调节变化和分配。开发、设计和调试这些电源设备，需要多种电子测试仪器。RIGOL作为国内从事测量仪器研发、生产和销售的高新技术企业，能够提供一整套从设计、研发到生产必须的测试设备。

一、功率器件测试

功率半导体器件是能量转换的核心器件，不论是MOSFET还是IGBT，都承担着电能调整的重要指责。功率器件本身的损耗是影响电源整体效率的重要因素，高损耗将导致器件发热并有可能影响电源寿命。示波器一般采用瞬时功率积分方法测量功率器件的损耗波形。

RIGOL示波器均支持功率测试，齐备的高压差分和电流探头可以满足各种测试需求。PC版Ultra Power Analysis软件更可以导出测试数据，完成多种参数的在线和离线测试，并生成报告。

二、纹波测试

电源纹波是评价直流电源的重要参数，纹波的构成由工频纹波、开关纹波和高频杂讯组成。准确测试纹波需要测试仪器本身的纹波要尽可能小，测试系统对测试结果产生Z小的影响。

RIGOL示波器的一个重要特点是底噪较小，其中的DS2000A示波器更可以提供500uV/div的业内lingxian小量程，非常适合测试电源纹波这类小信号。PVP2150/PVP2350探头提供1：1/10：1两种衰减比，且1X档可以提供高达35MHz带宽，可以直接用于纹波测试。Ultra Power Analysis软件提供纹波分析功能模块。

三、调制分析

为提高电源效率，开关电源中大都采用的可以调节功率因数的FPC电路，门极驱动脉冲可调。在变频驱动系统中，双极型的PWM驱动脉冲也是需要仿真、测试和验证的。

RIGOL各种任意波形发生器可以产生各种脉宽调制信号，双通道输出时，通道间完全隔离，特别适合各类驱动信号的模拟产生。示波器的测量趋势绘图功能，可以分析调制信号的变化规律。

四、生产和老化测试

电源产品需要完成大批量的快速参数测试和老化试验，这些测试必须同时测试多路参数的测量和记录功能。对于超出限制的测试结果，系统需要报警提示。所有这些需求对于RIGOL M300数据采集系统都可以轻松完成。6位半数字表的测试精度、高达250CH/s的测试速度和Z高320通道的系统配置能力，使M300成为理想的生产测试和温湿度及老化测试的工具。大屏显示和PC软件让设置和使用M300变得轻而易举。

Rigol产品家族概述

Rigol是一家以技术作为核心基础的技术公司，在电子测试测量行业被国外进口设备层层包围的形势下，Rigol 自我改革，重视研发，使其发展在行业内一枝独秀，到目前为止形成了数字示波器、任意波形发生器、万用表、可编程线性直流电源、电子负载、频谱分析仪、射频信号源、数据采集仪等全面的生产线，从产量品质到产品价格给广大电子测试测量工程师给予了极大的帮助。

安泰测试是Rigol 厂家授权的西北地区产品服务的业务平台，具备专业的技术能力和完善的服务体系，关于电源测试的任何问题和需求，欢迎致电安泰测试体验我司的服务与支持。

市场对通信设备、电子可穿戴设备、物联网的需求，以及汽车和其他行业对电子产品的日益依赖，正推动电子行业的快速发展。电镀做为电子产品制造过程中的不可短缺的环节，快速而JZ的进行镀层厚度分析是产品质量控制的重要方法。

随着电子设备和电子元件越来越小、越来越复杂，制造商面临着更薄的镀层、更复杂的镀层结构、更加微小的可测试面积、以及更严格的偏差控制。

日立分析仪器拥有45年的镀层分析专业知识，开发了1,000多种镀层应用，其中包括一系列产品：微焦斑、台式和手持式XRF仪器，以及台式和手持式磁感应电涡流测厚仪。日立分析仪器的X-Strata系列和FT系列X射线镀层测厚仪提供全面的光斑尺寸、探测器、样品台配置，满足客户不同的分析目的和需求。我们的镀层专家致力于为您提供zui优化的镀层分析解决方案。

由上海智能新能源汽车科创功能平台有限公司主办的“2022 新能源锂离子电池失效分析解析与测试技术研讨会”将于 2022 年 12 月 13 - 14 日在上海国际汽车城瑞立酒店举行。

本次会议聚焦新能源锂离子电池全生命周期失效分析解析技术，重 点关注不同体系、不同类型电池的热失控机理、失效原因、材料表征、电解液及气体分析等问题，与参会嘉宾们一起开展深度地技术交流。

飞纳作为全 球领先的桌面扫描电子显微镜供应商，专注于为亚微米级和纳米级应用的成像提供解决方案。针对锂电行业痛点，我们在锂电清洁度分析以及高通量电极材料表面包覆加工生产方面为客户提供自动化解决方案，帮助研究人员更加高效地完成研发与生产工作。欢迎各位莅临飞纳展台和我们共同探讨交流。与此同时，我们也为与会人员准备了精美礼品。飞纳定制保温杯、乐高、三合一数据线等礼物等您来拿！

飞纳电镜展位号：12号

会议时间：2022 年 12 月 13 - 14 日

会议地点：上海国际汽车城瑞立酒店

会议报告

锂电池中的铜、锌、铁等金属异物可能导致严重的安全事故，对金属异物的管控也已成为行业共识。在本次大会中，我们也将围绕这一问题带来精彩的报告，介绍飞纳电镜在金属异物管控的最 新应用进展，进而帮助改善生产条件，减少安全事故的发生。

报告主题

扫描电镜在锂电池金属异物管控中的应用

主讲人

刘晓龙

飞纳电镜清洁度分析系统产品经理

报告时间

2022年12月14日 15:00-15:30

报告地点

上海国际汽车城瑞立酒店二楼会议报告厅

展品推荐

ParticleX LB 锂电清洁度分析系统

随着行业法规的逐步深入，工艺技术的逐渐升级，清洁度的要求也越来越高。控制产品清洁度的重要性和复杂性也越来越被大家所关注。

2020 年，第三届汽车零部件清洁度控制技术峰会将带领大家：

●聚焦 汽车清洁度的法规和政策

●关注 清洁度控制新工艺和新设备

●跟踪 关键零部件清洁度的要求提升和优化

●分享 汽车行业清洁度控制成果和经验

●交流 汽车领域的清洁度新挑战

●开发 清洁度新市场

会议时间：2020 年 9 月 24 日 - 25 日

会议地点：上海金地岚韵酒店

飞纳会议报告

报告主题：

基于电镜的汽车清洁度和锂电清洁度自动化检测方案——Particle X

报告时间：

2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30

Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统集成了扫描电镜和能谱仪，相比传统的重量法和光镜法能更有效率地监控过程清洁度。传统的方法只能提供清洁部件上大颗粒灰尘和碎片的总体重量或形状信息，而不能全面分辨颗粒的污染源。Phenom ParticleX 取代传统颗粒物清洁度检测方法，允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分，从而判断出污染源。

使用自动化 SEM-EDX 解决方案实现粒度、形状和化学成分的快速、便捷分析：

●颗粒粒度分布 – zui全面的颗粒粒度范围

●颗粒形貌分析 – 多种测量方法可供选择

●杂质颗粒检测 – 可检测出数千颗粒中夹杂的微量杂质颗粒

●高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

参加第三届汽车零部件清洁度控制技术峰会与飞纳电镜一起探究清洁度检测最 新解决方案！