ICP-AES的故障解决
电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)，是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法，具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点，国外已广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。今天，我们为您带来ICP-AES分析常见12个故障问题及解决办法!
1.影响等离子体温度的因素有：
①载气流量：
流量增大，ZX部位温度下降。
②载气的压力：
激发温度随载气压力的降低而增加。
③频率和输入功率：
激发温度随功率增大而，近似线性关系，在其他条件相同时，增加频率，放电温度降低。
④第三元素的影响：
引入低电离电位的释放剂的等离子体，电子温度将增加。
2.电离干扰的消除和YZ：
原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少，因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上，从而YZ或消除分析元素的电离。此外，由于温度愈高，电离度愈大，因此，降低温度也可减少电离干扰。
3.试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?
提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液随着酸度增加，谱线强度显著降低，各种无机酸的影响并不相同，按下列顺序递增：HCl、HNO3、HClO4、H3PO4 、H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。所以在ICP-AES测试中，应尽量的避免使用H3PO4、H2SO4作为介质。
4.ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型：
谱线干扰；
谱带系对分析谱线的干扰；
连续背景对分析谱线的干扰；
杂散光引起的干扰；
基体干扰；
YZ干扰等。
对于谱线干扰，一般选择更换谱线，连续背景干扰一般用仪器自带的扣背景的方法消除，基体干扰一般基体区配或标准加入法，YZ干扰一般是分离或基体区配。
5.ICP-AES法分析中灵敏度漂移的校正：
在测定过程中，气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布；另外，毛细管阻塞、废液排泄不畅，会使溶液提升量和雾化效率受到影响；以及电压变化甚至环境温度等诸多因素都会使灵敏度发生漂移，其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样，并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。
6.ICP-AES分析中如何避免样品间的互相沾污?
测量时，不要依次测量浓度悬殊很大的样品，可把浓度相近的样品放在一起测定，测定样品之间，应用蒸馏水冲洗，进标准样品测试标准曲线时，应该从低标到高标仪次进样。
7.ICP-AES法中，用来分解样品的酸，必须满足的条件：
尽可能使各种元素迅速、完全分解;所含待测元素的量可忽略不计;
分解样品时，待测元素不应损失;
与待测元素间不形成不溶性物质;
测定时共存元素的影响要小;
不损伤雾化器、炬管等。氢氟酸能很快的损坏雾化器、雾室和炬管。
8.在ICP-AES法中，为什么必须特别重视标准溶液的配置?
不正确的配置方法将导致系统偏差的产生;
介质和酸度不合适，会产生沉淀和浑浊;
元素分组不当，会引起元素间谱线干扰;
试剂和溶剂纯度不够，会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。
9.配制ICP分析用的多元素贮备标准溶液的注意事项：
溶剂用高纯酸或超纯酸;
用重蒸的离子交换水;
使用光谱纯、高纯或基准物质;
把有的元素元素分成几组配制，避免谱线干扰或形成沉淀。比如测硅时就要单独测硅。
10.当采用有机试剂进行ICP-AES分析时，有哪些特殊要求?
高频功率一般应高于水溶液试样;
冷却气流量要，载气流量要减少，同时应通入较高流量的辅助气；
对炬管的结构和安装也有某些特殊要求;
多采用链状结构的有机溶剂作稀释剂。
11.什么叫稀释剂?ICP-AES法用的稀释剂有哪些要求?
一般粘度大的试样，用气动雾化进样较难，常用低粘度的有机溶剂去稀释试样，这种有机溶剂称为稀释剂。对其要求有：
①粘度较低;
②分子中的碳原子数较少;
③有中等的挥发性;
④不产生或少产生有毒气体;
⑤允许有较高的进样量而不致使等离子体熄灭;
⑥在炬管口产生的碳沉积较少。
12.稀释剂对ICP-AES分析有哪些影响?
稀释剂的粘度对雾化进样、速率产生影响;
密度、粘度和表面张力影响形成雾滴的初始致敬;
沸点影响雾滴的挥发及进入ICP-AES通道的有机溶剂蒸发量，从而影响ICP-AES的稳定性。
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