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美国Filmetrics薄膜测厚仪详细介绍说明

本文由 东莞市明哲工业自动化设备有限公司 整理汇编

2024-09-15 19:19 1098阅读次数

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Filmetrics薄膜测厚仪,又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度极ng确测量。塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均,会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。Filmetrics薄膜测厚仪根据其测量方式的不同,可分为:接触式薄膜测厚仪:点接触式,面接触式。非接触式薄膜测厚仪:射线,涡流,超声波,红外等注:我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准,包括国家标淮,国际、美国、日本、欧洲标准等均指定采用机械式测厚中的面接触测厚的方式,同时该方法也被作为薄膜,铝箔,纸张等材料的仲裁方法。接触式设备Filmetrics薄膜测厚仪的应用范围采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度极ng确测量。Filmetrics薄膜测厚仪的技术特征严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择实时显示测量结果的Zda值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输支持Lystem实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告[1]执行标准ISO4593、ISO534、ISO3034、GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817Filmetrics薄膜测厚仪的技术指标负荷量程:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)分辨率:0.1μm测量速度:10次/min(可调)测试压力:17.5±1KPa(薄膜);50±1KPa(纸张)接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:AC220V50Hz外形尺寸:300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)净重:33kgFilmetrics薄膜测厚仪的仪器配置标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件选购件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码非接触式设备英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪,可以实现对薄膜的非接触式测量,避免对纸张造成形变引起误差。Filmetrics薄膜测厚仪的测量原理使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。

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