薄膜测厚仪

本文由 北京兰德梅克科技开发有限公司 整理汇编

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更多资料

• 薄膜测厚仪

  一、数显薄膜测厚仪主要技术指标：测量范围：（0-25）mm分辨率：0.001mm电源：氧化银电池SR44工作温度：0℃～+40℃储运温度：-20～+70℃相对湿度：≤80%二、数显薄膜测厚仪主要功能：数据输出任意位置置零公英制转换自动断电具体资料请查看附件[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

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• DRK203A薄膜测厚仪

  DRK203A薄膜测厚仪[详细]

  2021-12-10 13:37

  应用文章

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• CHY-CA 薄膜测厚仪

  CHY-CA 薄膜测厚仪[详细]

  2024-09-15 19:19

  选购指南

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• 薄膜测厚仪产品样册

  薄膜测厚仪产品样册[详细]

  2024-09-15 19:19

  应用文章

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• 薄膜测厚仪产品样册

  薄膜测厚仪产品样册[详细]

  2024-09-15 19:19

  专利

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• 薄膜测厚仪 Filmetrics F37

  薄膜测厚仪 Filmetrics F37[详细]

  2024-09-15 19:19

  安装说明

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• 嵌入式超高精度薄膜测厚仪

  嵌入式超高精度薄膜测厚仪，采用进口高精度传感器，嵌入式系统。适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度极ng确测量。思克测试，Morethanyourthink！关注SYSTESTER思克，登录思克测试网站www.systester.com，了解更多包装检测仪器信息！[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

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• DRK203C台式高精度薄膜测厚仪

  DRK203C台式高精度薄膜测厚仪[详细]

  2024-09-15 19:19

  应用文章

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• DRK203C台式高精度薄膜测厚仪

  DRK203C台式高精度薄膜测厚仪[详细]

  2024-09-15 19:19

  应用文章

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• 薄膜测厚仪的操作规范

  薄膜测厚仪是一种广泛应用于各行各业的仪器设备，它可以帮助我们准确地测量出薄膜的厚度，从而为生产制造过程中的质量控制提供重要参考。那么，在日常工作和生产中，我们如何正确使用薄膜测厚仪呢？ 首先，要在使用薄膜测厚仪之前，务必仔细阅读使用说明书，了解仪器的基本结构和工作原理。熟悉仪器的各个部件及其功能，做到心中有数，才能更好地操作设备。 其次，选择合适的测量方法和参数设置也是至关重要的。根据被测薄膜的特性和厚度范围，合理选择测量方法，设置好相关参数，确保测量结果的准确性和可靠性。[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

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• Filmetrics 薄膜测厚仪 F54产品样册

  Filmetrics 薄膜测厚仪 F54产品样册[详细]

  2024-09-15 19:19

  其它

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• 美国filmetrics薄膜测厚仪购买协定

  创建于1995年的美国Filmetrics,Inc.公司，以提供简单而价格合理的薄膜厚度测量仪器为宗旨。在我们进入这个市场之前，商业薄膜测量仪器动辄就要$50,000美元或，而且操作人员需要预先接受培训。单次测量就要花几分钟，甚至几小时时间。Filmetrics的目标就是设计经济有效的微型光谱仪系统，而硅控线型光电传感器技术的Zxin发展使这一目标得以实现。我们把先进的技术、软件、和丰富的薄膜经验结合在一起，创造出了简单而直观的Windows界面。其成果就是F20，这是一种很简洁的系统，具有令人惊异的速度和准确性，生产操作人员只需要几分钟培训即可使用仪器而所有这一切只有传统仪器几分之一的价格。我们的成就已经获得了业内新闻界的广泛承认，我们的产品被评为“100种Z具技术意义”的产品之一和“25项**新产品”之一。美国Filmetrics公司成立于1995年，总部位于美国加州的亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的制造商，Filmetrics公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。Filmetrics薄膜厚度测量仪具有操作简单、测量快速、准确，体积小、重量轻价格便宜的优点。可对半导体行业中的光阻、氧化物、氮化物；LCD行业中的液晶盒间隙厚度、Polyimides以及光学薄膜如硬化膜、抗反射膜、滤波片的厚度和光学参数（N、K）进行测量。[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

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• 智能自动型薄膜测厚仪JSQ-CHY-U

  智能自动型薄膜测厚仪/智能薄膜测厚仪型号：JSQ-CHY-U薄膜自动测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料厚度的极ng确测量。薄膜自动测厚仪特征：1、机械接触式测量方法不受测量材料的限制，兼容ISO、ASTM等多种测量标准2、进口优质部件选择，成熟经验设计3、测量极ng确、运行可靠，测量分辨率高达0.1微米4、支持手动、自动双重测量模式5、自动进样系统标准配置，试样测试长度不受限制，真正实现了自动、连续测量6、自动进样间距、测量点数、进样速度等参数可调，可更好地满足用户的统计分析需求7、测量数据高清晰大屏幕液晶显示，试验数据一目了然8、测量过程即时显示Zda值、Z小值、平均值和统计偏差9、设备造形美观大方新颖别致，符合人机工程学原理10、标准RS232通信端口配置，可接驳计算机11、专业软件配置，数据起伏曲线、偏差图、圆形坐标图等模式显示，统计功能直观、全备13、预留了网络传输接口，支持TCP/IP等协议，可实现测试数据在局域网与互联网之间的信息共享薄膜自动测厚仪技术参数：1、测量范围：0～2mm（0～6mm可选）2、分辨率：0.1μm3、测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；　标准配置50±1kPa（纸张）　可选配置接触面积：50mm2(薄膜)；标准配置200mm2（纸张）可选配置4、自动进样间距：1～1000mm5、自动进样速度：0.1～99.9mm/s6、电源：AC220V50Hz7、外形尺寸：451（L）mm×329（B）mm×347（H）mm8、净重：32kg薄膜自动测厚仪执行标准：GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

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• 薄膜测厚仪现代化发展中不可或缺的设备

  薄膜测厚仪现代化发展中不可或缺的设备[详细]

  2016-09-01 00:00

  操作手册

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• 光谱反射薄膜测厚仪SR100产品样册

  光谱反射薄膜测厚仪SR100产品样册[详细]

  2024-09-15 19:19

  其它

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• 光谱反射薄膜测厚仪 SR500产品样册

  光谱反射薄膜测厚仪 SR500产品样册[详细]

  2024-09-15 19:19

  选购指南

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• 美国Filmetrics薄膜测厚仪详细介绍说明

  Filmetrics薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度极ng确测量。塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。Filmetrics薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括国家标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均指定采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。接触式设备Filmetrics薄膜测厚仪的应用范围采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度极ng确测量。Filmetrics薄膜测厚仪的技术特征严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的Zda值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输支持Lystem实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告[1]执行标准ISO4593、ISO534、ISO3034、GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817Filmetrics薄膜测厚仪的技术指标负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）分辨率：0.1μm测量速度：10次/min（可调）测试压力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：AC220V50Hz外形尺寸：300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)净重：33kgFilmetrics薄膜测厚仪的仪器配置标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码非接触式设备英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。Filmetrics薄膜测厚仪的测量原理使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

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