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智能自动型薄膜测厚仪JSQ-CHY-U

本文由 上海科学仪器有限公司 整理汇编

2024-09-15 19:19 256阅读次数

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智能自动型薄膜测厚仪/智能薄膜测厚仪型号:JSQ-CHY-U薄膜自动测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料厚度的极ng确测量。薄膜自动测厚仪特征:1、机械接触式测量方法不受测量材料的限制,兼容ISO、ASTM等多种测量标准2、进口优质部件选择,成熟经验设计3、测量极ng确、运行可靠,测量分辨率高达0.1微米4、支持手动、自动双重测量模式5、自动进样系统标准配置,试样测试长度不受限制,真正实现了自动、连续测量6、自动进样间距、测量点数、进样速度等参数可调,可更好地满足用户的统计分析需求7、测量数据高清晰大屏幕液晶显示,试验数据一目了然8、测量过程即时显示Zda值、Z小值、平均值和统计偏差9、设备造形美观大方新颖别致,符合人机工程学原理10、标准RS232通信端口配置,可接驳计算机11、专业软件配置,数据起伏曲线、偏差图、圆形坐标图等模式显示,统计功能直观、全备13、预留了网络传输接口,支持TCP/IP等协议,可实现测试数据在局域网与互联网之间的信息共享薄膜自动测厚仪技术参数:1、测量范围:0~2mm(0~6mm可选)2、分辨率:0.1μm3、测量压力:17.5±1kPa(薄膜); 标准配置50±1kPa(纸张) 可选配置接触面积:50mm2(薄膜);标准配置200mm2(纸张)可选配置4、自动进样间距:1~1000mm5、自动进样速度:0.1~99.9mm/s6、电源:AC220V50Hz7、外形尺寸:451(L)mm×329(B)mm×347(H)mm8、净重:32kg薄膜自动测厚仪执行标准:GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817

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