仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册2 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-产品库- 视频

资料库

仪器网> 资料库>检测CMP Slurry研磨液中的尾端部分

检测CMP Slurry研磨液中的尾端部分

本文由 上海奥法美嘉生物科技有限公司 整理汇编

2021-08-19 10:54 1266阅读次数

扫    码    分   享
文档仅可预览首页内容,请下载后查看全文信息!
立即下载
化学机械抛光/研磨(CMP)是一种广泛应用于微电子工业,结合化学和机械力使表面光滑的过程。slurry研磨液的粒径分布是控制研磨过程是否成功的关键参数。一些大颗粒可能会刮伤晶片或光驱的表面,降低其产量和利润。AccuSizer®粒径及浓度分析仪具有检测出少数在CMP生产过程中可能产生损害的大粒子的能力。

参与评论

全部评论(0条)

更多资料

该会员其他资料
一次性使用系统中的微粒污染水平
ARAMUS™ 一次性冻存袋的颗粒检测
为什么乳佐MF59粒径控制在 160nm?
纳米晶药物均一性和稳定性的解决方案
生物过程中溶液中浓度测量技术比较
光刻胶用色浆均一性解决方案
HM&M珠磨机:与盐野义制药合作研发难溶性药物所需的湿法珠磨机
甲流疫苗中的铝佐剂粒度控制
铂炭催化剂浆料均一性的一体化解决方案
MLCC陶瓷浆料均一性的一体化解决方案(短篇)

在线留言

换一张?
取消