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粉尘中游离二氧化硅的检测方法
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粉尘的测定知识点游离二氧化硅(一)红外分光光度法 1.原理α-石英在红外光谱的12.5、12.8和14.4μm处有特征吸收带,在一定条件下,吸光度与旷石英的质量成线性关系,进行定量测定。 2.仪器(1)测尘滤膜。 (2)分析天平,感量0.01mg。(3)红外分光光度计FC-200D。 3.分析步骤 (1)用测尘滤膜采集粉尘样品,称量、灰化后,制成锭片。 (2)在12.5或14.4μm处测定吸光度;然后,与标准曲线比较定量。 4.说明 (1)此法测定的游离二氧化硅为α-石英,检出限为10μg。 (2)吸光度与粉尘粒径有关,粒径>5μm的粉尘应<5%,要求标准粉尘的粒径与样品一致。 (二)焦磷酸质量法 1.原理硅酸盐溶于加热的焦磷酸中被除去,而二氧化硅几乎不溶,以称量法测定。 2.仪器分析天平等。 3.试剂 (1)焦磷酸:将磷酸加热到沸腾,至250℃不冒泡为止。 (2)氢氟酸。(3)0.1mol/L盐酸溶液。 4.操作步骤 (1)将采集的粉尘样品放在(105±3)℃的烘箱内干燥2小时。如果粉尘粒子较大,用玛瑙研钵研磨。 (2)准确称取0.1~0.2g粉尘样品于50ml锥形瓶中。若样品中含有煤、其他碳素及有机物时,先于800~900℃灰化30分钟以上。用焦磷酸洗入锥形瓶中。若含有硫化矿物,应加数毫克结晶于锥形瓶中。 (3)加入15ml焦磷酸,迅速加热到245~250℃,保持15分钟,不断搅拌。放冷至100~150℃:,用冷水冷却至40~50℃。冷却时,加50~80℃的蒸馏水到40~45ml,边加边搅拌均匀。将锥形瓶中内容物小心转移入烧杯中。加蒸馏水至150~200ml,用玻璃棒搅匀。煮沸后,趁热过滤。用0.1mol/L盐酸溶液洗涤烧杯,并将滤纸上的沉渣冲洗3~5次,再用热蒸馏水洗至无酸性反应为止。以上操作应在当天完成。 (4)将有沉渣的滤纸折叠数次,放入恒量的瓷坩埚中,在80℃干燥,低温碳化,800~900℃灰化30分钟;冷却后,称量至恒重。 5.计算 按公式计算粉尘中游离二氧化硅的百分浓度: 式中:m2和m1分别为坩埚加沉渣质量和坩埚质量,g;G为粉尘样品质量,g。 6.说明 (1)当样品中含有焦磷酸难溶的物质时,需用氢氟酸在铂坩埚中处理。 (2)在过滤后,如用铂坩埚,要洗至无磷酸根反应后再洗3次。 (三)x线衍射测定法 1.原理当晶体物质照射X射线时,将产生X衍射;在一定的条件下,衍射线的强度与晶体物质的质量成正比;测量衍射线强度而定量。 2.仪器(1)测尘滤膜。(2)分析天平,感量0.01mg。(3)X线衍射仪。 3.分析步骤 (1)用测尘滤膜采集粉尘样品,按仪器要求制备待测样品。 (2)先进行定性测定,确定是否存在α-石英;然后,与标准曲线比较定量。 4.说明 (1)此法测定的游离二氧化硅为α-石英。 (2)衍射线的强度与粉尘粒径有关,粒径>10μm,强度下降。要求标准粉尘的粒径与样品一致。 (3)滤膜采尘量应控制在2~5mg。
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粉尘中游离二氧化硅的检测方法
- 粉尘的测定知识点游离二氧化硅(一)红外分光光度法 1.原理α-石英在红外光谱的12.5、12.8和14.4μm处有特征吸收带,在一定条件下,吸光度与旷石英的质量成线性关系,进行定量测定。 2.仪器(1)测尘滤膜。 (2)分析天平,感量0.01mg。(3)红外分光光度计FC-200D。 3.分析步骤 (1)用测尘滤膜采集粉尘样品,称量、灰化后,制成锭片。 (2)在12.5或14.4μm处测定吸光度;然后,与标准曲线比较定量。 4.说明 (1)此法测定的游离二氧化硅为α-石英,检出限为10μg。 (2)吸光度与粉尘粒径有关,粒径>5μm的粉尘应<5%,要求标准粉尘的粒径与样品一致。 (二)焦磷酸质量法 1.原理硅酸盐溶于加热的焦磷酸中被除去,而二氧化硅几乎不溶,以称量法测定。 2.仪器分析天平等。 3.试剂 (1)焦磷酸:将磷酸加热到沸腾,至250℃不冒泡为止。 (2)氢氟酸。(3)0.1mol/L盐酸溶液。 4.操作步骤 (1)将采集的粉尘样品放在(105±3)℃的烘箱内干燥2小时。如果粉尘粒子较大,用玛瑙研钵研磨。 (2)准确称取0.1~0.2g粉尘样品于50ml锥形瓶中。若样品中含有煤、其他碳素及有机物时,先于800~900℃灰化30分钟以上。用焦磷酸洗入锥形瓶中。若含有硫化矿物,应加数毫克结晶于锥形瓶中。 (3)加入15ml焦磷酸,迅速加热到245~250℃,保持15分钟,不断搅拌。放冷至100~150℃:,用冷水冷却至40~50℃。冷却时,加50~80℃的蒸馏水到40~45ml,边加边搅拌均匀。将锥形瓶中内容物小心转移入烧杯中。加蒸馏水至150~200ml,用玻璃棒搅匀。煮沸后,趁热过滤。用0.1mol/L盐酸溶液洗涤烧杯,并将滤纸上的沉渣冲洗3~5次,再用热蒸馏水洗至无酸性反应为止。以上操作应在当天完成。 (4)将有沉渣的滤纸折叠数次,放入恒量的瓷坩埚中,在80℃干燥,低温碳化,800~900℃灰化30分钟;冷却后,称量至恒重。 5.计算 按公式计算粉尘中游离二氧化硅的百分浓度: 式中:m2和m1分别为坩埚加沉渣质量和坩埚质量,g;G为粉尘样品质量,g。 6.说明 (1)当样品中含有焦磷酸难溶的物质时,需用氢氟酸在铂坩埚中处理。 (2)在过滤后,如用铂坩埚,要洗至无磷酸根反应后再洗3次。 (三)x线衍射测定法 1.原理当晶体物质照射X射线时,将产生X衍射;在一定的条件下,衍射线的强度与晶体物质的质量成正比;测量衍射线强度而定量。 2.仪器(1)测尘滤膜。(2)分析天平,感量0.01mg。(3)X线衍射仪。 3.分析步骤 (1)用测尘滤膜采集粉尘样品,按仪器要求制备待测样品。 (2)先进行定性测定,确定是否存在α-石英;然后,与标准曲线比较定量。 4.说明 (1)此法测定的游离二氧化硅为α-石英。 (2)衍射线的强度与粉尘粒径有关,粒径>10μm,强度下降。要求标准粉尘的粒径与样品一致。 (3)滤膜采尘量应控制在2~5mg。[详细]
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