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红外光谱法在空气中游离二氧化硅含量测定上的应用
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本文由 天津港东科技发展股份有限公司 整理汇编
2024-09-18 18:09 1931阅读次数
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红外光谱法在空气中游离二氧化硅含量测定上的应用
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2024-09-20 22:50
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- 红外分光光度法测定支气管肺泡灌洗液中游离二氧化硅含量
- 支气管肺泡灌洗术已广泛应用于肺部疾病的诊断和ZL川。而临床用于尘肺ZL已近十年,并取得较为满意效果。要探讨有关ZL尘肺的机制,就必须准确测定支气管肺泡灌洗液中游离二氧化硅的含量〕有关中的测定,国内仍采用焦磷酸法川,国外已有用线衍射及红外分光光度法〕的报道。本文研究红外的含量,并与焦磷酸法比较,说明红外法具有快速、准确、简便等优点。关键词：红外分光光度计、红外分光光度法、红外光谱仪，游离二氧化硅含量的测量，红外光度计法游离二氧化硅含量的测量。红外分光光度计：124383/product_875902.html安合盟（天津）科技发展有限公司郭经理1350210702418920225686[详细]
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2013-07-26 00:00
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- 红外分光光度法用于测定厂矿生产环境中的游离二氧化硅
- 工业粉尘中游离二氧化硅的测定长期以来都采用化学法,而对于呼吸性粉尘中游离二氧化硅的测定国内至今没有切实可行较好的方法。近年来国外先后报道了用X射线衍射法、红外分光光度法来测定呼吸性粉尘中游离二氧化硅的方法,我国Z近也有报导用X射线衍射法来测定沉积尘和呼吸性粉尘中的游离二氧化但未见有用红外法测定游离二氧化硅上的报道X射线衍射法因仪器价格昂贵,在目前恐不易普遍使用。根据大量的文献,现就有关红外分光光度法测定工业厂矿环境粉尘中游离二氧化硅的几个问题谈谈其优缺点及用于定量测定的可能性,目的是使这一方法能尽早地、完善地应用于实际工作中.关键字：红外分光光度计、红外光谱法、红外分光光度法、游离二氧化硅分析仪、游离二氧化硅测定仪、粉尘中游离二氧化硅安合盟(天津)科技发展有限专业生产供应游离二氧化硅测定仪、游离二氧化硅分析仪124383/product_6223161.html124383/product_3592512.html郭经理1892022568613502107024[详细]
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2024-09-28 00:04
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游离二氧化硅的危害- 二氧化硅又称硅石（化学式为510公，在自然界分布很广，典型代表有石英、石英砂等，可用于制玻璃、陶器、搪瓷、耐火材料、硅铁、单质硅等。粉尘中的游离二氧化硅是难溶性物质，它不易被吸收，也不易排出，在体内沉积可导致肺纤维化，是引起矽肺的主要原因。我国很多行业粉尘危害形势仍然十分严峻,存在企业职业卫生管理混乱,工作场所粉尘浓度较高,产生的粉尘多为矽尘,防尘设施落后,作业人员流动性大,素质普遍较低,自我保护也差。电力和煤炭行业生产环境中粉尘的种类较多,主要有矽尘、煤尘、锅炉尘、石棉尘、水泥尘、电焊烟尘等,其特点是粉尘中游离二氧化硅含量较高,粉尘的分散度也比较高,即多为呼吸性粉尘,因此对接尘人员的危害较大。根据生产性粉尘的理化性质、空气中浓度、进入人体的量和作用部位,产生的危害也有不同,主要包括鼻炎、咽炎、气管炎、支气管炎等呼吸系统疾病。我国政府以及电力和煤炭行业部门对防尘工作高度重视,因此,加强对粉尘中游离二氧化硅含量的检测是一件非常重要和紧迫的工作。以往检测粉尘中游离二氧化硅含量,均采用《作业场所空气中粉尘测定方法》（GB574885）规定的“焦磷酸重量法”,该方法存在操作步骤复杂、使用试剂种类繁多、检测周期长、准确性差、试验室条件要求苛刻等一系列问题,难以满足现场批量检测的要求。我国测定作业场所粉尘中游离二氧化硅很多仍沿用焦磷酸重量法，该法需用试样量大,一般只能测定矿（岩）石或自然降尘样,对呼吸性粉尘中的游离二氧化硅尚无法直接测定。国外常用X射线衍射法和红外法。由于红外法的仪器价格较便宜,也不会产生对人体有害的放射性辐射,故很受重视。美英等国已把红外法作为测定煤尘中游离二氧化硅的标准方法。为了提高检测的准确性,实现批量检测的目的,根据红外光谱法原理天津市金贝尔科技有限公司专门研制FC-2000D粉尘中游离二氧化硅分析仪用来检测粉尘中游离二氧化硅含量。[详细]
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2018-09-21 10:01
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2019-01-25 09:27
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- 粉尘中游离二氧化硅的检测方法
- 粉尘的测定知识点游离二氧化硅（一）红外分光光度法 1．原理α-石英在红外光谱的12.5、12.8和14.4μm处有特征吸收带，在一定条件下，吸光度与旷石英的质量成线性关系，进行定量测定。 2．仪器（1）测尘滤膜。 （2）分析天平，感量0.01mg。（3）红外分光光度计FC-200D。 3．分析步骤 （1）用测尘滤膜采集粉尘样品，称量、灰化后，制成锭片。 （2）在12.5或14.4μm处测定吸光度；然后，与标准曲线比较定量。 4．说明 （1）此法测定的游离二氧化硅为α-石英，检出限为10μg。 （2）吸光度与粉尘粒径有关，粒径＞5μm的粉尘应＜5％，要求标准粉尘的粒径与样品一致。 （二）焦磷酸质量法 1．原理硅酸盐溶于加热的焦磷酸中被除去，而二氧化硅几乎不溶，以称量法测定。 2．仪器分析天平等。 3．试剂 （1）焦磷酸：将磷酸加热到沸腾，至250℃不冒泡为止。 （2）氢氟酸。（3）0.1mol／L盐酸溶液。 4．操作步骤 （1）将采集的粉尘样品放在（105±3）℃的烘箱内干燥2小时。如果粉尘粒子较大，用玛瑙研钵研磨。 （2）准确称取0.1～0.2g粉尘样品于50ml锥形瓶中。若样品中含有煤、其他碳素及有机物时，先于800～900℃灰化30分钟以上。用焦磷酸洗入锥形瓶中。若含有硫化矿物，应加数毫克结晶于锥形瓶中。 （3）加入15ml焦磷酸，迅速加热到245～250℃，保持15分钟，不断搅拌。放冷至100～150℃：，用冷水冷却至40～50℃。冷却时，加50～80℃的蒸馏水到40～45ml，边加边搅拌均匀。将锥形瓶中内容物小心转移入烧杯中。加蒸馏水至150～200ml，用玻璃棒搅匀。煮沸后，趁热过滤。用0.1mol／L盐酸溶液洗涤烧杯，并将滤纸上的沉渣冲洗3～5次，再用热蒸馏水洗至无酸性反应为止。以上操作应在当天完成。 （4）将有沉渣的滤纸折叠数次，放入恒量的瓷坩埚中，在80℃干燥，低温碳化，800～900℃灰化30分钟；冷却后，称量至恒重。 5．计算 按公式计算粉尘中游离二氧化硅的百分浓度： 式中：m2和m1分别为坩埚加沉渣质量和坩埚质量，g；G为粉尘样品质量，g。 6．说明 （1）当样品中含有焦磷酸难溶的物质时，需用氢氟酸在铂坩埚中处理。 （2）在过滤后，如用铂坩埚，要洗至无磷酸根反应后再洗3次。 （三）x线衍射测定法 1．原理当晶体物质照射X射线时，将产生X衍射；在一定的条件下，衍射线的强度与晶体物质的质量成正比；测量衍射线强度而定量。 2．仪器（1）测尘滤膜。（2）分析天平，感量0.01mg。（3）X线衍射仪。 3．分析步骤 （1）用测尘滤膜采集粉尘样品，按仪器要求制备待测样品。 （2）先进行定性测定，确定是否存在α-石英；然后，与标准曲线比较定量。 4．说明 （1）此法测定的游离二氧化硅为α-石英。 （2）衍射线的强度与粉尘粒径有关，粒径＞10μm，强度下降。要求标准粉尘的粒径与样品一致。 （3）滤膜采尘量应控制在2～5mg。[详细]
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