三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X产品样册

本文由 天津徕科光学仪器有限公司 整理汇编

2024-09-13 00:40 633阅读次数

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更多资料

• 三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X产品样册

  三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X产品样册[详细]

  2024-09-13 00:40

  应用文章

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• 徕卡三离子束切割仪-Leica EM TIC 3X

  Leica EM TIC 3X 通过离子枪激发获得的离子束，以垂直于样品侧面纵向轰击样品，可获得高质量无应力“切割”截面，便于SEM观察。该处理方法适用于多层膜材料、软硬复合材料等高难度制备样品，并且操作简单，可有效避免涂抹效应，不需要大量摸索条件即可获得理想的截面，使样品暴露内部细微结构信息。[详细]

  2024-09-11 17:47

  产品样册

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• 徕卡 三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X产品样册

  徕卡三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X产品样册[详细]

  2024-09-28 00:31

  其它

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• 德国徕卡 三离子束切割仪 EM TIC 3X产品单页

  德国徕卡 三离子束切割仪 EM TIC 3X产品单页[详细]

  2024-09-27 23:50

  产品样册

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• 使用离子束制备SEM样品：徕卡EM TIC 3X三离子束研磨仪

  "如今，离子束蚀刻技术是应用Z广泛的电子显微镜样品制备方法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域调整离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微镜样品时，离子束蚀刻可改善或修改样品表面质量。 首先，离子束刻蚀能够清洁、抛光或增加表面的衬度。经离子束处理的样品表面足以适用于各种灵敏的表面性能测试方法（如EBSD）。 另外，离子束刻蚀也可以通过斜面切割制备样品的横截面。 徕卡EM TIC 3X是一款离子束研磨仪，用于制备扫描电子显微镜样品。可以制备样品的横截面以及大面积表面。 样品的横截面还可以使用低能离子束再次处理。该处理过程既可以清洗横截面，也能增强其衬度。 另外，EM TIC 3X可以通过离子束抛光工艺改进样品的机械抛光表面。样品表面的Z大离子束制备直径为 25mm，Z大样品直径为38mm。 离子束抛光可以清洗、抛光样品表面，并增强其衬度，可以在一台仪器中完成所有类型的扫描电子显微镜样品制备流程。 该仪器配备了一个模块化的系统，可配置5种适用于不同应用的样品台：标准样品台，冷冻样品台，多样品台，旋转样品台和预抽真空系统，用以转移冷冻样品或易氧化的样品。EM TIC 3X[详细]

  2024-09-28 01:25

  实验操作

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• 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖太阳能电池

  用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖太阳能电池[详细]

  2024-09-21 08:29

  产品样册

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• 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖半导体芯片

  用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖半导体芯片[详细]

  2016-01-07 00:00

  标准

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• 德国徕卡 离子研磨仪EM TIC 3X产品样本

  德国徕卡 离子研磨仪EM TIC 3X产品样本[详细]

  2021-02-26 17:28

  产品样册

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• 徕卡电镜制样产品资料_Leica EM TIC 3X离子研磨仪_样本、参数、价格、应用案例、配置对比等

  您是否需要制备硬的，软的，多孔，热敏感，脆性和/或非.均质多相复合型材料，获得高质量样品表面，以适宜于扫描电子显微镜{SEM)分析和原子力显微镜(AFM)检测? Leica EM TIC 3X采用的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS，波谱分析WDS,俄歇分析Auger,背散射电子衍射分析EBSD。离子束研磨技术适用于多种多样材质样品，获得高质量切割截面或抛光平面的解决方案。使用该技术对样品进行处理，样品受到形变或损伤的可能性低，可暴露出样品内部真实的结构信息。 徕卡EM TIC 3X可以灵活选择多种样品台，不仅适用于高通量实验，也适合于特定制样需求实验室。依据您具体需求，每一台徕卡EM TIC 3X都可装配多种可切换样品台，如标准样品台，三样品台，旋转样品台或冷冻样品台，应用于常规样品制备，高通量样品制备，以及某些高分子聚合物，橡胶或生物材料等温度敏感样品制备。其与徕卡EM VCT环境 传输系统相连接，可以实现将冷冻的生物样品表面受保护地被真空冷冻传输进入镀膜仪或冷冻扫描电镜(Cro-SEM)中,或者应用于地质或工业材料样品，实现真空传输。 [详细]

  2022-02-06 21:03

  产品样册

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• 徕卡 低真空镀膜仪 Leica EM ACE200产品样册

  徕卡低真空镀膜仪 Leica EM ACE200产品样册[详细]

  2016-10-20 09:15

  标准

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• 徕卡 冷冻替代仪 Leica EM AFS2产品样册

  徕卡冷冻替代仪 Leica EM AFS2产品样册[详细]

  2016-10-20 09:15

  报价单

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• 徕卡 高真空镀膜仪 Leica EM ACE600产品样册

  徕卡高真空镀膜仪 Leica EM ACE600产品样册[详细]

  2024-09-11 17:56

  实验操作

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• Leica EM UC7 超薄切片机产品样册

  Leica EM UC7 超薄切片机产品样册[详细]

  2016-10-18 14:21

  其它

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• 徕卡真空镀膜仪-Leica EM ACE200/600

  样品进行扫描电镜观察前，通常需要对其表面镀一层金属膜，以便减少观察时产生的荷电，并增强二次电子或背散射电子信号，获得更好的信噪比。 Leica EM ACE200是一款低真空镀膜仪，ACE200是高真空镀膜仪。 可以选择离子溅射镀金属膜或者碳丝蒸发镀碳膜功能，或者同时具有这两种功能。能够满足日常SEM需求，也可用于X-射线能谱及波谱分析，或者TEM铜网镀碳膜。全自动电脑控制，自动完成抽真空、镀膜、放气等全过程，一键操作。采用当下非常流行的触摸屏控制，简单方便。[详细]

  2024-09-12 16:03

  产品样册

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• 徕卡冷冻替代仪-Leica EM AFS2

  徕卡冷冻替代仪-Leica EM AFS2主要用于冷冻替代和梯度变温技术，同时也可以用于树脂的低温包埋和聚合过程。 Leica EM FSP（冷冻替代驱动器），是为Leica EM AFS2特别设计的自动化试剂处理系统，可为冷冻替代和梯度变温过程自动稀释和更换试剂。样品室内部和体视显微镜下都装有LED照明灯，观察和定位样品简单方便。[详细]

  2024-09-11 17:47

  产品样册

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• 徕卡 精研一体机 Leica EM TXP产品样册

  徕卡精研一体机 Leica EM TXP产品样册[详细]

  2016-10-20 09:15

  安装说明

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• 徕卡 高压冷冻仪 Leica EM HPM100产品样册

  徕卡高压冷冻仪 Leica EM HPM100产品样册[详细]

  2016-10-20 09:15

  操作手册

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• 徕卡 高压冷冻仪 Leica EM PACT2产品样册

  徕卡高压冷冻仪 Leica EM PACT2产品样册[详细]

  2024-09-28 01:02

  报价单

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• 徕卡Leica EM TXP精研一体机 产品样册

  LEICA EM TXP是一款独特的可对目标区域进行准确定位的表面处理工具，特别适合于SEM，TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了 Leica EM TXP，这些工作就可轻松完成。[详细]

  2024-05-15 16:50

  产品样册

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• 徕卡Leica EM BAF060冷冻断裂系统产品样册

  徕卡Leica EM BAF060冷冻断裂系统产品样册[详细]

  2016-10-18 14:21

  其它

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