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蜂蜡等熔点高样品折射率的测量方法
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蜂蜡等熔点高样品折射率的测量方法
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2024-09-12 18:32
专利
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DSC测定样品的熔点
- 熔点是物质从固态到液态相转变的温度,是DTA(DSC)Z常测定的物性数据之一。其测定的极ng确度与热力学平衡温度的误差可达±1℃。左右。目前采用ICTA推荐的方法,测出某一固体物质的熔融吸热蜂,如图1.31所示.图中B点是起始温度Ti,G点是外推起始温度Teo,即峰的前沿Zda斜率处的切线与前基线延长线的交点,C点是蜂顶温度Tp,D点是终止温度了Tf。[详细]
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2018-10-02 10:03
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2015-07-07 00:00
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2015-04-20 00:00
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2015-07-08 00:00
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智能微波消解白蜂蜡
- Digipol-MWD30全自动智能微波消解仪 ,赶酸器 ,分析天平(十万分之一)等。[详细]
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2025-06-12 15:42
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2024-09-11 17:55
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低本底α/β放射性检测仪样品测量方法介绍
- 低本底α/β放射性检测仪样品测量方法介绍JL35-LM-III低本底α/β放射性检测仪是一种测量低水平α、β放射性强度的精密仪器。可用于水、土壤、建材、矿石、气溶胶、食品等的总α、总β放射性测量;适用于辐射防护、环境保护部门、YL、生物、农业、科研院所和高等院校等进行的低水平实验室就α/β放射性强度测量。使用仪器时样品的制作是很关键的,下面我们以自来水样品为例,将其方法进行具体的介绍。水样简单制备用烧杯取1L水,放电炉上煮至约剩50ml,再倒入坩锅内(坩锅得先称重并记录下来,因为每个坩锅质量都不一样),烧杯上的残余可用少量酒精洗净倒入坩锅内。把坩锅放入蒸发炉或烤箱内烘干(为了防止外溅,温度**不要超过80℃)。烘干后,放入电子天平称出重量残渣总重=盛有样品的坩锅烘干后的质量-盛样品前的坩锅质量测渣重量:尽量和标准源质量保持一致(为100mg)。在电子天平上称出样品盘的质量,再用不锈钢小匙刮下样品残渣,往样品盘中倒入100mg。滴入几滴酒精,用玻璃棒将样品均匀铺在样品盘上凉干或烘干水样测量点击测量软件后,在样品类型选择框内选择“自来水样”,再点击“设置”。设置检测次数、每次测量时间、探测效率、串道率、本底、取样体积、残渣总重、测渣重量、取样时间、回收率、采样误差、样品说明。样品测量建议测量总时间不少于两小时。3.测量完毕后点击打印,得到每升水的放射性活度。[详细]
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2018-10-07 10:02
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2013-05-23 00:00
标准
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介电常数的测量方法
- 介电常数是物体的重要物理性质,对介电常数的研究有重要的理论和应用意义。电气工程中的电介质问题、电磁兼容问题、生物医学、微波、电子技术、食品加工和地质勘探中,无一不利用到物质的电磁特性,对介电常数的测量提出了要求。目前对介电常数测量方法的应用可以说是遍及民用、工业、国防的各个领域。
在食品加工行业当中,储藏、加工、灭菌、分级及质检等方面都广泛采用了介电常数的测量技术。例如,通过测量介电常数的大小,新鲜果蔬品质、含水率、发酵和干燥过程中的一些指标都得到间接体现,此外,根据食品的介电常数、含水率确定杀菌时间和功率密度等工艺参数也是重要的应用之一[1]。
在路基压实质量检测和评价中,如果利用常规的方法,尽管测量结果比较准确,但工作量大、周期长、速度慢且对路面造成破坏。由于土体的含水量、温度及密度都会对其介电特性产生不同程度的影响,因此可以采用雷达对整个区域进行测试以反算出介电常数的数值,通过分析介电性得到路基的密度及压实度等参数,达到快速测量路基的密度及压实度的目的[2]。此外,复介电常数测量技术还在水土污染的监测中得到了应用[3]。并且还可通过对岩石介电常数的测量对地震进行预报[4]。[详细]
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2024-09-14 01:25
其它
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固体介质折射率测定仪
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示。www.51658042.com北京恒奥德仪器仪表有限公司联系方式:010-51658042/51760331/51717696手机:15010245973/15313176001/15313175998联系人:李经理地址:北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211传真:010-51717696邮箱:hadgs2009@163.com网址:http://www.51658042.com。http://www.had200911.cn:http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/QQ:1968156761116912188023626135142661074941[详细]
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2018-09-24 10:02
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海能仪器:农药原料熔点的检测(熔点测定法)
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2024-10-10 11:26
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2014-08-22 00:00
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