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四点探针测试仪 四点探针 CDE
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本文由 上海瞬渺光电技术有限公司 整理汇编
2024-09-28 13:20 737阅读次数
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四点探针测试仪 四点探针 CDE
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四点探针测试仪 四点探针 CDE- 四点探针测试仪 四点探针 CDE[详细]
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2024-09-28 13:20
报价单
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- 光伏测试专用美国ResMap四点探针
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2012-09-04 00:00
期刊论文
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气相色谱仪四点操作需注意- 气相色谱仪四点操作需注意[详细]
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2016-05-17 00:00
安装说明
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- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册
- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册[详细]
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2024-09-30 13:39
期刊论文
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- 四点静压试验机产品样册
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2024-09-16 12:30
标准
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- CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册
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2016-10-18 14:23
专利
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2024-09-11 17:48
其它
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- 四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4
- 四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTMF84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更极ng确。数字电压表量程：0199.9mV灵敏度：100μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±（0.4-0.5%读数+0.1%满度）2、可测电阻率范围：1031.9×103Ωcm。可测方块电阻范围：1021.9×104Ω/□。3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。6、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高[详细]
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2018-10-07 10:00
产品样册
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- 探针微定位器,适合各种探针和探针台的定位器.
- 探针微定位器,适合各种探针和探针台的定位器.[详细]
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2013-10-24 00:00
操作手册
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- 液晶屏玻璃三/四点弯曲试验机产品样册
- 液晶屏玻璃三/四点弯曲试验机产品样册[详细]
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2016-10-19 17:08
操作手册
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- 四探针电阻率测试仪产品样册
- 四探针电阻率测试仪产品样册[详细]
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2024-09-30 00:11
报价单
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- 四探针电阻率测试仪的使用方法
- 一、参数指标
测量半导电电阻率时： 电阻率10-5--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm
测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、测试四探针笔
一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：
1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接
2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可。
3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。
4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝，
5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部[详细]
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2024-09-11 17:53
其它
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- JB-T 7716-1995 焊接接头 四点弯曲疲劳试验方法
- JB-T7716-1995焊接接头四点弯曲疲劳试验方法[详细]
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2018-09-20 10:00
产品样册
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- 探针电子束光刻机（扫描探针电子束光刻系统P-SPL21）
- 公司推出的探针电子束光刻机P-SPL21,利用探针在近光刻胶表面发射低能电子的原理实现光刻效果。该系统的主要特点在于：
（1）几乎无邻近效应，能实现3-5nm线宽的超精细光刻结构；
（2）用于发射电子的探针同时具有原子力显微镜功能，能够实现亚纳米级精准定位并原位测量曝光图型；
（3）超高写场拼接精度（≤2nm），且能够抑制电子束长时间产生的空间漂移（≤5nm）。
百及纳米科技的探针电子束光刻系统能够实现光刻与原子力显微镜表征的双重功能，是一款理想的用于微纳制造和表征尺寸小于5nm线宽结构的一体化系统。[详细]
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2024-09-14 06:17
产品样册
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- 探针测试台 GSZ-ST-102A
- 探针测试台/测试台/中测台/点测机型号；GSZ-ST-102AGSZ-ST-102A型探针测试台、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。技 术 指 标：工作台面370mm*245mm载物台直径4"光学参数总放大率：50-100倍；手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围：200mm；精密旋转台粗调范围：360°；微调范围：±10°；Z小刻划：1°；铜盘直径：Φ85mm；绝缘盘直径：Φ102mm三维探针座探针座X、Y、Z方向调节范围：±3.25mm，分辨率±2μ；三维探针座在工作台面可任意位置固定，由磁性开关控制；Z多可布三维探针座6个；探针臂伸出长度：60mm；探针长度：40mm；探针探针材质硬质合金，针尖曲率半径2μm；标准配置：主工作台、显微镜、承片台、三维微调架2个、探针臂2支、探针2支。可选配件：三维微调架、探针臂、探针、真空泵。[详细]
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2018-09-24 10:01
产品样册
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- 开尔文探针扫描系统
- 开尔文探针扫描系统[详细]
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2024-09-21 18:29
标准
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- 三点弯曲和四点弯曲的试验方法区别
- 三点弯曲和四点弯曲的试验方法区别[详细]
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2013-05-07 00:00
选购指南
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- 在山区使用虫情测报灯应注意四点
- 在山区使用虫情测报灯应注意四点[详细]
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2015-05-05 00:00
安装说明
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- 四探针半导体粉末电阻率测试仪测试原理
- 四探针半导体粉末电阻率测试仪是一种用于测量材料电阻率的仪器。它采用了四个探针，通过测量材料电阻对电流的响应来计算出材料的电阻率。下面将详细介绍这种测试仪的原理和工作过程。
我们需要了解什么是电阻率。电阻率是材料对电流的阻碍程度的度量，通常用符号ρ表示，单位是Ω·m。电阻率越小，材料的导电性越好。而电阻则是电阻率与材料长度和横截面积的乘积，可以用来描述材料的电阻大小。
四探针半导体粉末电阻率测试仪通过将四个探针嵌入待测试的材料中，形成一个测量电流的电路。其中两个探针用于施加电压，另外两个探针用于测量电流。通过测量电压和电流的关系，就可以计算出材料的电阻率。
具体的测试过程如下：
1. 首先，将待测试的材料放置在测试仪的测试台上，并将四个探针插入材料中。为了确保测量的准确性，探针应该均匀分布在材料表面，并且彼此之间的距离应该足够远。
2. 接下来，通过测试仪的控制面板设置测量参数，包括施加的电压和测量的电流范围。通常，电压的大小应该适中，既能够产生足够大的电流，又不会损坏材料。
3. 当设置好参数后，开始进行测量。测试仪会自动施加电压，并通过另外两个探针测量电流。根据欧姆定律，[详细]
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2023-10-11 16:18
其它
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- 四探针方阻 电阻率测试仪产品样册
- 四探针方阻 电阻率测试仪产品样册[详细]
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2024-09-27 23:58
报价单
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