四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4

四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4

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四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTMF84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更极ng确。数字电压表量程：0199.9mV灵敏度：100μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±（0.4-0.5%读数+0.1%满度）2、可测电阻率范围：1031.9×103Ωcm。可测方块电阻范围：1021.9×104Ω/□。3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。6、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高

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四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4

四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTMF84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更极ng确。数字电压表量程：0199.9mV灵敏度：100μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±（0.4-0.5%读数+0.1%满度）2、可测电阻率范围：1031.9×103Ωcm。可测方块电阻范围：1021.9×104Ω/□。3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。6、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高[详细]
2018-10-07 10:00
产品样册
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四探针电阻率测试仪产品样册

四探针电阻率测试仪产品样册[详细]
2024-09-30 00:11
报价单
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四探针电阻率测试仪的使用方法

一、参数指标测量半导电电阻率时：电阻率10-5--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm 测量其他（电线电缆）电阻时：电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ 二、测试四探针笔一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作： 1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接 2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可。 3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。 4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝， 5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部[详细]
2024-09-11 17:53
其它
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四探针半导体粉末电阻率测试仪测试原理

四探针半导体粉末电阻率测试仪是一种用于测量材料电阻率的仪器。它采用了四个探针，通过测量材料电阻对电流的响应来计算出材料的电阻率。下面将详细介绍这种测试仪的原理和工作过程。我们需要了解什么是电阻率。电阻率是材料对电流的阻碍程度的度量，通常用符号ρ表示，单位是Ω·m。电阻率越小，材料的导电性越好。而电阻则是电阻率与材料长度和横截面积的乘积，可以用来描述材料的电阻大小。四探针半导体粉末电阻率测试仪通过将四个探针嵌入待测试的材料中，形成一个测量电流的电路。其中两个探针用于施加电压，另外两个探针用于测量电流。通过测量电压和电流的关系，就可以计算出材料的电阻率。具体的测试过程如下： 1. 首先，将待测试的材料放置在测试仪的测试台上，并将四个探针插入材料中。为了确保测量的准确性，探针应该均匀分布在材料表面，并且彼此之间的距离应该足够远。 2. 接下来，通过测试仪的控制面板设置测量参数，包括施加的电压和测量的电流范围。通常，电压的大小应该适中，既能够产生足够大的电流，又不会损坏材料。 3. 当设置好参数后，开始进行测量。测试仪会自动施加电压，并通过另外两个探针测量电流。根据欧姆定律，[详细]
2023-10-11 16:18
其它
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四探针方阻电阻率测试仪产品样册

四探针方阻电阻率测试仪产品样册[详细]
2024-09-27 23:58
报价单
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四探针/电阻率/方块电阻测试

四探针/电阻率/方块电阻测试[详细]
2024-09-13 17:06
标准
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进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪产品样册

进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪产品样册[详细]
2024-09-16 03:38
课件
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jjg 508-2004 四探针电阻率测试仪检定规程.pdf

jjg 508-2004 四探针电阻率测试仪检定规程.pdf[详细]
2015-05-12 00:00
专利
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玖久便携式四探针电阻率测试仪简单介绍

玖久便携式四探针电阻率测试仪简单介绍我公司向您介绍的便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ωcm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。产品技术性能：（1）测量范围：可测量电阻率：0.01～199.9Ωcm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ωcm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA连续可调10mA量程：1mA～10mA连续可调恒流精度：各档均优于±0.1%适合测量各种厚度的硅片（3）直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100μv准确度：0.2%（±2个字）（4）供电电源：AC：220V±10%50/60HZ功率8W（5）使用环境：相对湿度≤80%（6）重量、体积重量：2.2公斤体积：宽210×高100×深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50μm间距：1.00mm探针合力：8±1N针材：TC[详细]
2018-10-07 10:01
产品样册
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方阻仪/四探针电阻率检测仪KDK-KDY-1

低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪型号;KDK-KDY-1仪器采用GB/T1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法（2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆厘米，分辨率为10-5欧姆厘米方块电阻10-4～10+4欧姆/□，Z小分辨率为10-4欧姆/□（3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等可准确测量的半导体尺寸：直径≥20可测量的半导体尺寸：直径≥8（4）测量方式：平面测量。（5）电压表：双数字电压表，可同时观察电流、电压变化A.量程0~19.999mVB.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度)C.灵敏度：1uVD输入阻抗1000MΩE41/2位数字显示，0～19999（6）恒流源：A.电流输出：直流电流0.003～100mA连续可调，有交流电源供给B.量程：10uA，100uA，1mA，10mA，100mA五档C.恒流源精度：各档均≤±0.05%（7）四探针测试探头A.探头间距1.59B.探针机械游率：±0.3%C.探针直径0.8D.探针材料：碳化钨，探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。（8）测试架：（选配）手动测试架：KDJ-1A型手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。（9）精度电器精度：1-1000欧姆≤0.3%整机测量精度：1-100欧姆厘米≤3%（10）电流：220V±10%，50HZ，功率消耗35W注：如果测金属粉末电阻率必把样品压成块或片才能测[详细]
2018-09-24 10:01
产品样册
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KDY-1A四探针电阻率测定仪使用说明书

使用方法：（1）在背板上电源插座插好电源线、四探针头连接线，检查保险丝管有无松动。（2）打开背板上的电源开关（将I按下）此时面板上的数字表及各控制开关上均有指示灯点亮。（3）从左向右，察看控制开关，先将电流换档开关置于“1mA”,在测硅片、硅块时ρ/R置于“ρ”，在测方块电阻时ρ/R置于“R”，校准/测量档选在“校准”。（4）将四探针头压在样品上，此时数字表上显示的是测量电流;如选用间距为1.00mm的四探针头，在10mA档时,调节粗调、细调旋钮，使数字表显示6.28，即I=6.28mA。在1mA档时,调节粗调、细调旋钮，使数字表显示62.8，即I=0.628mA。如选用间距为1.59mm的四探针头，在10mA档时,调节粗调、细调旋钮，使数字表显示10.0，即I=10mA。在1mA档时,调节粗调、细调旋钮，使数字表显示100.0，即I=1mA。（5）将Z右边的按钮按下，测量灯亮。此时数字表上显示的是欲测样品电阻率，样品电阻率在1.0Ωcm至199.9Ωcm之间均可用此档（1mA）测量，如数字表显示1，后三位全不显示时，表示材料电阻率大于200Ωcm。（6）电流选择电阻率≥1Ωcm时选用1mA档测量。方块电阻≥10Ω/□时选用1mA档测量。电阻率≤1Ωcm时选用10mA档测量。方块电阻≤10Ω/□时选用10mA档测量。例如:选用间距为1.00mm的四探针头，当电流换档开关按到10mA档灯亮，将测量/校准开关按至“校准”灯亮，调节下面的粗、细调旋钮，使数字表显示6.28，此时测量电流即为6.28mA。将测量/校准开关按至测量时灯亮，此时读出的数即是电阻率值，测量范围在0.01至1.00Ωcm，如数字表显示0.00时，即表示材料电阻率很低，已小于0.01Ωcm。测量硅片电阻率时，请先用卡尺测出厚度，再在校准档按附表调节好电流后，转到测量档即可方便读出电阻率数。文章来源：北京绿野创能机电设备有限公司[详细]
2018-09-29 10:01
产品样册
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CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册

CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册[详细]
2024-09-30 13:39
期刊论文
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高温四探针电阻率测试系统产品样册

高温四探针电阻率测试系统产品样册[详细]
2024-09-11 17:59
其它
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CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册

CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪产品样册[详细]
2016-10-18 14:23
专利
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粉末电阻率测试仪（四探针法）简介

粉末电阻率测试仪（四探针法）产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）产品型号：FTDZS-I 参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdf GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法 GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器. 由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测测试设备。[详细]
2024-09-11 17:47
其它
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数字式电阻率测试仪电阻率测试仪M-2型号

数字式电阻率测试仪电阻率测试仪型号：M-2M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。仪器适用于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合.M-2型数字式电阻率测试仪工作条件为：温度：相对湿度：60%~70%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源二M-2型数字式电阻率测试仪技术参数1.测量范围：电阻率：10-2~102Ω-cm方块电阻：10-1~103Ω/□电阻：10-3~9999Ω2.可测半导体材料尺寸直径：15mm-100mm长（或高）度：≤400mm3.测量方位：轴向，径向均可4.数字电压表量程：2V误差:：±0.1%FSB±2LSBZda分辨力：10μA精度：18位ADC(51/2位)显示：4位数字显示，小数点自动显示5.数控恒流源电流输出：直流电流2μA~2mA,2μA步进可调，系统自动调整。误差：±0.1%FSB±0.5LSB6.四探针测试探头：探针间距：1mm探针机械游移率：±1%探针：碳化钨，直径0.5mm7.电源：DC4.5V~8V功耗：<1W电源适配器：输入：220V±10%50Hz输出：DC5V±10%8.外形尺寸：主机：170mm(长)X130mm(宽)X50mm(高)北京同德创业科技有限公司联系人：王汝玄（销售经理）联系方式：18910534055010-51663485QQ:3098386443邮箱：3098386443@qq.com网址：www.5117sell。。ｃｏｍ[详细]
2018-10-05 10:00
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M-2 型数字式电阻率测试仪电阻率测试仪

数字式电阻率测试仪电阻率测试仪型号：M-2M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。仪器适用于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合.M-2型数字式电阻率测试仪工作条件为：温度：相对湿度：60%~70%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源二M-2型数字式电阻率测试仪技术参数1.测量范围：电阻率：10-2~102Ω-cm方块电阻：10-1~103Ω/□电阻：10-3~9999Ω2.可测半导体材料尺寸直径：15mm-100mm长（或高）度：≤400mm3.测量方位：轴向，径向均可4.数字电压表量程：2V误差:：±0.1%FSB±2LSBZda分辨力：10μA精度：18位ADC(51/2位)显示：4位数字显示，小数点自动显示5.数控恒流源电流输出：直流电流2μA~2mA,2μA步进可调，系统自动调整。误差：±0.1%FSB±0.5LSB6.四探针测试探头：探针间距：1mm探针机械游移率：±1%探针：碳化钨，直径0.5mm7.电源：DC4.5V~8V功耗：<1W电源适配器：输入：220V±10%50Hz输出：DC5V±10%8.外形尺寸：主机：170mm(长)X130mm(宽)X50mm(高)[详细]
2018-10-05 10:00
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四点探针测试仪四点探针 CDE

四点探针测试仪四点探针 CDE[详细]
2024-09-28 13:20
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JH-WSP-3电阻率测试仪

电阻率测试仪型号：JH-WSP-3产品说明电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。三、产品特点1.仪器采用220V交流电源供电。2.用于检测硅半导体材料的电阻率指标。3.拥有较高的电阻率测试分辨率，Z小可到0.001欧姆.厘米。4.适中的体积和便携性。5.简单的操作，快速的测试。6.低廉的价格，很高的性价比。参数指标1供电电源220V±10%50HzAC2功耗<1w3主机尺寸195×175×70mm4电阻率测试范围0.001~100欧姆.厘米5电阻率测试精度±5%±2LSB[详细]
2018-09-24 10:01
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体积电阻率表面电阻率测试仪使用方法讲解

ZST-121体积电阻率表面电阻率测试仪资料下载！如需更多参考资料请致电详谈。[详细]
2018-08-24 10:00
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该会员其他资料: 便携式气体检测仪技术参数; 有线水文流速测算仪/流速仪LS23-TYJ-2/LS23-TYJ-II; 国家标准GB/T 16913.1－1997; 推荐一款性价比超好的便携式烟气烟尘分析仪; 热卖产品254波长紫外辐照计参数; 尾气分析仪/废气分析/汽车排放气体分析仪（液晶）（五组分）; 激光粒度仪/激光粒度分布仪技术参数; 在线气体分析仪; 快速双单元控制电位电解仪; 光电浊度仪

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