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进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪产品样册
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本文由 赛伦科技（北京）有限责任公司 整理汇编
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进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪产品样册
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进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪产品样册- 进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪产品样册[详细]
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2024-09-16 03:38
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2024-09-30 00:11
报价单
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四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4- 四探针电阻率测试仪DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTMF84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更极ng确。数字电压表量程：0199.9mV灵敏度：100μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±（0.4-0.5%读数+0.1%满度）2、可测电阻率范围：1031.9×103Ωcm。可测方块电阻范围：1021.9×104Ω/□。3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。6、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高[详细]
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2018-10-07 10:00
产品样册
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2024-09-27 23:58
报价单
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- 四探针电阻率测试仪的使用方法
- 一、参数指标
测量半导电电阻率时： 电阻率10-5--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm
测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、测试四探针笔
一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：
1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接
2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可。
3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。
4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝，
5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部[详细]
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2024-09-11 17:53
其它
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- 四探针半导体粉末电阻率测试仪测试原理
- 四探针半导体粉末电阻率测试仪是一种用于测量材料电阻率的仪器。它采用了四个探针，通过测量材料电阻对电流的响应来计算出材料的电阻率。下面将详细介绍这种测试仪的原理和工作过程。
我们需要了解什么是电阻率。电阻率是材料对电流的阻碍程度的度量，通常用符号ρ表示，单位是Ω·m。电阻率越小，材料的导电性越好。而电阻则是电阻率与材料长度和横截面积的乘积，可以用来描述材料的电阻大小。
四探针半导体粉末电阻率测试仪通过将四个探针嵌入待测试的材料中，形成一个测量电流的电路。其中两个探针用于施加电压，另外两个探针用于测量电流。通过测量电压和电流的关系，就可以计算出材料的电阻率。
具体的测试过程如下：
1. 首先，将待测试的材料放置在测试仪的测试台上，并将四个探针插入材料中。为了确保测量的准确性，探针应该均匀分布在材料表面，并且彼此之间的距离应该足够远。
2. 接下来，通过测试仪的控制面板设置测量参数，包括施加的电压和测量的电流范围。通常，电压的大小应该适中，既能够产生足够大的电流，又不会损坏材料。
3. 当设置好参数后，开始进行测量。测试仪会自动施加电压，并通过另外两个探针测量电流。根据欧姆定律，[详细]
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2023-10-11 16:18
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2015-05-12 00:00
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- 玖久便携式四探针电阻率测试仪简单介绍我公司向您介绍的便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ωcm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。产品技术性能：（1）测量范围：可测量电阻率：0.01～199.9Ωcm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ωcm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA连续可调10mA量程：1mA～10mA连续可调恒流精度：各档均优于±0.1%适合测量各种厚度的硅片（3）直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100μv准确度：0.2%（±2个字）（4）供电电源：AC：220V±10%50/60HZ功率8W（5）使用环境：相对湿度≤80%（6）重量、体积重量：2.2公斤体积：宽210×高100×深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50μm间距：1.00mm探针合力：8±1N针材：TC[详细]
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2018-10-07 10:01
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安装说明
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- 粉末电阻率测试仪（四探针法）简介
- 粉末电阻率测试仪（四探针法）
产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）
产品型号：FTDZS-I
参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdf
GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作
粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和国家标准的要求。
仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测测试设备。[详细]
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2024-09-11 17:47
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数字式电阻率测试仪 电阻率测试仪M-2型号- 数字式电阻率测试仪电阻率测试仪型号：M-2M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。仪器适用于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合.M-2型数字式电阻率测试仪工作条件为：温度：相对湿度：60%~70%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源二M-2型数字式电阻率测试仪技术参数1.测量范围：电阻率：10-2~102Ω-cm方块电阻：10-1~103Ω/□电阻：10-3~9999Ω2.可测半导体材料尺寸直径：15mm-100mm长（或高）度：≤400mm3.测量方位：轴向，径向均可4.数字电压表量程：2V误差:：±0.1%FSB±2LSBZda分辨力：10μA精度：18位ADC(51/2位)显示：4位数字显示，小数点自动显示5.数控恒流源电流输出：直流电流2μA~2mA,2μA步进可调，系统自动调整。误差：±0.1%FSB±0.5LSB6.四探针测试探头：探针间距：1mm探针机械游移率：±1%探针：碳化钨，直径0.5mm7.电源：DC4.5V~8V功耗：<1W电源适配器：输入：220V±10%50Hz输出：DC5V±10%8.外形尺寸：主机：170mm(长)X130mm(宽)X50mm(高)北京同德创业科技有限公司联系人：王汝玄（销售经理）联系方式：18910534055010-51663485QQ:3098386443邮箱：3098386443@qq.com网址：www.5117sell。。ｃｏｍ[详细]
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- M-2 型 数字式电阻率测试仪 电阻率测试仪
- 数字式电阻率测试仪电阻率测试仪型号：M-2M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。仪器适用于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合.M-2型数字式电阻率测试仪工作条件为：温度：相对湿度：60%~70%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源二M-2型数字式电阻率测试仪技术参数1.测量范围：电阻率：10-2~102Ω-cm方块电阻：10-1~103Ω/□电阻：10-3~9999Ω2.可测半导体材料尺寸直径：15mm-100mm长（或高）度：≤400mm3.测量方位：轴向，径向均可4.数字电压表量程：2V误差:：±0.1%FSB±2LSBZda分辨力：10μA精度：18位ADC(51/2位)显示：4位数字显示，小数点自动显示5.数控恒流源电流输出：直流电流2μA~2mA,2μA步进可调，系统自动调整。误差：±0.1%FSB±0.5LSB6.四探针测试探头：探针间距：1mm探针机械游移率：±1%探针：碳化钨，直径0.5mm7.电源：DC4.5V~8V功耗：<1W电源适配器：输入：220V±10%50Hz输出：DC5V±10%8.外形尺寸：主机：170mm(长)X130mm(宽)X50mm(高)[详细]
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2018-10-05 10:00
产品样册
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