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使用配置高灵敏度检测池的光电二极管阵列检测器SPD-M30A 进行杂质分析
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本文由 岛津企业管理(中国)有限公司 整理汇编
2014-02-13 00:00 379阅读次数
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使用配置高灵敏度检测池的光电二极管阵列检测器SPD-M30A 进行杂质分析
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- 用于X射线无损检测的背照式光电二极管阵列 细长板类型 S11299-121是一款专用于X射线无损检查的背照式16象元光电二极管阵列。它比我们之前的S5668系列相比,具有更高的灵敏度一致性和更小的象元变化。该背照式二极管更加易于使用,更便于和闪烁体耦合,由于它在背部没有光敏面,也没有焊接线,因此不需要担心对线的损坏。 S11299 系列支持双能成像,因此可以与S11212系列结合使用(板上尺寸:25.4 (W) ×20.0 (H) mm),组成上两层的双层结构,同步检测高、低X射线。产品特性● 象元尺寸:1.175 (W) × 2.0 (H) mm / 单象元 ● 象元间距:1.575 mm (× 16 pixels) ● 板上尺寸:25.4 (W) × 10.2 (H) mm● 多阵列,长而窄的设计版式● 支持双能成像(上下两层结合使用时) [详细]
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