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8英寸晶圆隔纸
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本文由 上海科学仪器有限公司 整理汇编
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8英寸晶圆隔纸硅片隔离纸晶圆硅片测试片隔纸由上海书培实验设备有限公司生产提供,产品规格齐全,质量优越,欢迎客户来电咨询选购。8英寸晶圆隔纸硅片隔离纸晶圆硅片测试片隔纸产品介绍:IC纸,,表面电阻在107-109次方,电子产品隔离纸,无尘级别:100级,8英寸晶圆隔纸硅片隔离纸晶圆硅片测试片隔纸规格表格:产品名称产品尺寸包装规格产品单价品牌晶圆隔纸4英寸100张/包80元上海书培晶圆隔纸6英寸100张/包110元上海书培晶圆隔纸8英寸100张/包150元上海书培
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8英寸晶圆隔纸
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2018-11-18 10:00
产品样册
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晶圆检测
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2024-09-17 10:26
安装说明
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马尔文 2830 ZT 晶圆分析仪
- 马尔文 2830 ZT 晶圆分析仪[详细]
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2025-04-03 11:13
产品样册
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晶圆表面与溶液中微粒静电作用
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2024-09-20 00:04
应用文章
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[CN中文]美国Instec温控晶圆夹盘HCC602
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2015-08-28 00:00
报价单
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[CN中文]美国Instec温控晶圆夹盘HCC302
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2015-08-28 00:00
报价单
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[CN中文]美国Instec温控晶圆夹盘TC102S TC104S
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2015-08-28 00:00
操作手册
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Newport用于晶圆和掩膜检测的运动控制
- MKS 提供了多种高性能的、适用于晶圆检测工具和其他运动控制应用的空气轴承位移台 , 经验丰富的 MKS/Newport 应用工程师与 OEM 客户合作,为正在开发的半导体制造过程提供专门的自动化运动控制解决方案,下文描述这些系统中用于提高精度和动态性能的技术。[详细]
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2020-11-06 10:34
应用文章
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6英寸晶圆检测显微镜:可靠观察细微高度差异
- 电子和半导体行业如何从用于半导体组件检测的自动化和可重复的DIC显微镜中受益
电子和半导体行业如何从用于半导体组件检测的自动化和可重复的DIC显微镜中受益 在半导体器件生产过程中,晶圆检验对于识别和减少可能影响器件性能的缺陷至关重要。为了提高检验的精确性和效率,光 学显微镜方案应结合不同的对比方法,提供关于图案化晶圆上可能存在的任何缺陷的准确可靠信息。其中,在晶圆检验中起 重要作用的一种对比方法是微分干涉对比(DIC)。[详细]
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2024-08-22 14:48
选购指南
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材料&地球科学,材料分析,金相学,晶圆检测
- 材料&地球科学,材料分析,金相学,晶圆检测[详细]
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2024-09-11 17:49
应用文章
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[CN中文]美国Instec方形夹盘 高低温晶圆夹盘系列
- [CN中文]美国Instec方形夹盘 高低温晶圆夹盘系列[详细]
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2015-08-28 00:00
其它
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晶圆上的光刻胶残留和有机污染物的可视化
- 电子行业如何通过使用荧光显微镜对晶圆和半导体进行检测?无论是质量控制、失 效分析和研发都能从中受益 对更强大、更快速的电子设备(智能手机、计算机、平板电脑、显示器等)的需求不断增长,这推动了集成电路(IC)芯片 和半导体组件的图案尺寸缩小到10纳米以下[1-3]。为了实现更小的纳米级尺寸,紫外光刻图案化步骤的数量已经增加,随 之而来的是刻蚀过程中的缺陷和有机污染的可能性增加[2]。这种残留污染可能对工艺控制、产量以及电子组件的性能和可 靠性产生负面影响[详细]
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2024-08-22 14:50
选购指南
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应用案例 | 晶圆绑定线的失效检测—离子研磨
- 应用案例 | 晶圆绑定线的失效检测—离子研磨[详细]
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2024-09-15 01:07
应用文章
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Santis 300 工业晶圆级定量阴极发光CL-SEM检测系统 中文样本
- Santis 300 工业晶圆级定量阴极发光CL-SEM检测系统产品简介、技术参数、应用领域[详细]
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2023-03-13 14:43
产品样册
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使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析
- 使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000全能型分光光度计 (UMS) 进行涂层晶圆分析[详细]
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2024-09-13 02:16
应用文章
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硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.
- 硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.[详细]
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2013-10-24 00:00
产品样册
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光学平台隔振注意事项
- 无论何种激光应用,为维持光路稳定,振动隔离和桌面阻尼的重要性都是再强调也不为过。
一套复杂的光学系统是否稳定,在很大程度上取决于光学平台和隔振腿的性能。随着应用的不断丰富,光学系统的设计正变得愈发复杂,也为光路稳定性带来更大挑战——如果安装使用不正确,即使ZWM的隔振方案也难以起到效果。[详细]
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2020-07-16 15:40
标准
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电池隔爆试验箱
- 高低温交变试验箱电池隔爆设备主要用于测试电池在不同温度环境下的性能和可靠性,
电池研发和质量检测:在电池研发过程中,该设备可以帮助研究人员评估电池在极端温度条件下的性能,为改进电池设计提供依据。同时,在生产环节,它可以用于对电池进行质量检测,确保产品符合标准。
安全性能测试:由于电池在某些情况下可能会发生爆炸,隔爆设备能够模拟潜在的危险环境,检验电池的隔爆性能,以保障使用者的安全。
适应性评估:通过将电池暴露在交变的高低温环境中,观察其性能变化,可以评估电池对不同环境条件的适应能力。
寿命测试:长时间的温度循环试验可以模拟电池在实际使用中的寿命情况,从而预测电池的耐用性和可靠性。
行业标准符合性测试:许多行业对电池有特定的温度要求,该设备可以用于确保电池符合相关标准和规范。
故障分析:当电池在使用过程中出现问题时,利用此设备进行温度相关的测试,有助于分析故障原因,找到解决方案。[详细]
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2024-03-18 11:28
产品样册
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样品瓶隔垫选择
- 样品瓶隔垫选择[详细]
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2024-09-11 17:47
安装说明
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