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GB2423.01-1989 试验A:低温试验方法
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本文由 东莞市皓天试验设备有限公司 整理汇编
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GB2423.01-1989 试验A:低温试验方法
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GB2423.01-1989 试验A:低温试验方法
- GB2423.01-1989 试验A:低温试验方法[详细]
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2015-10-28 00:00
应用文章
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试验A-低温试验方法
- GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异,增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。本低温试验的目的于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用,运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐温变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下应采用GB/T2423.22[详细]
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2018-10-13 10:00
产品样册
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GB-T2423.1_2008试验A:低温试验方法
- GB/T2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温1范围GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品.试验Ab与试验Ad与早期版本无实质性的差异”,增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。[详细]
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2018-11-15 10:00
产品样册
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电子电工产品试验A:低温试验方法
- 皓天设备长期致力于研发生产恒温恒湿试验箱,冷热冲击试验箱,高低温试验箱等环境试验设备,在这方面,我司取得长足的技术进步和发展,成为国内环境试验设备生产企业厂家。制造业的使命是一切以客户的需求为导向,对客户提供**的产品,以优良的品质及迅速负责的工作热忱来获取客户的信赖和支持,并为公司创造利润奠定基石,建立开创永继经营的有利条件,本厂全体同仁必须遵照品质政策及品质目标落实执行,且依据以上之品质承诺,建立符合持续改善品质管理要求[详细]
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2018-11-09 10:00
产品样册
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GB/T 2423.1-1989 试验A:低温试验方法
- GB/T2423.1-1989电工电子产品基本环境测试规程试验A:低温试验方法[详细]
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2018-09-14 10:00
产品样册
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GB/T 2423.1-1989 试验A:低温试验方法
- 附件资料内容关于《GB/T2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法》的详细分析绍,由东莞市皓天试验设备有限公司提供,下载请注明出处,谢谢合作!了解更多相关内容,可拨打13600248795余小姐,竭诚为您服务![详细]
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2018-10-23 10:31
产品样册
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低温试验方法
- GBT2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法.pdf[详细]
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2018-08-19 10:00
产品样册
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GB2423.1-89试验A:低温试验方法--上海林频
- 上海林频仪器股份有限公司座落于ZG上海市科技产业基地之一的闵行经济技术开发区。是一家专业从事环境试验设备研发、生产与销售于一体的高新技术股份制企业。现已发展成为国内环境试验设备领域的龙头企业之一。公司生产各类环境试验设备:盐雾箱,高低温箱,恒温恒湿箱,高温箱,低温箱,高低温交变湿热箱,干燥箱,真空干燥箱,温度冲击箱,药品稳定箱,臭氧老化试验箱,紫外耐候试验箱,氙灯耐气候试验箱,换气式老化试验箱,砂尘试验箱,箱式淋雨试验箱,摆管淋雨试验装置,滴水试验装置,二氧化硫试验箱,霉菌试验箱,防锈油脂湿热试验箱,盐雾试验室,大型步入式试验箱,温度老化试验室,温湿度振动试验箱,温度快速变化试验箱,单翼跌落试验机,振动试验设备.同时我厂还可以根据客户需要设计非标产品,欢迎广大新老客户前来公司洽谈、指导!以上产品我司均严格按照行业标准及相关国家标准制造,符合的标准有:GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《电工电子产品基本规程试验Ka》,盐雾试验方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.3-2006试验Ca、GB/T2423.4-2008试验Db、MIL、DIN、ASTM、GB/T16422.2-1999、(GB/T1865-2009、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412)、GB/T4942.2-1993及外壳防护等级(IP代码)GB4208-2008、GB/T10485-2007、GB/T7762-2003、GB/T2951.21-200、GB/T14522-2008、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等相关标准,祥情请浏览:http://www.linpin.com.cn[详细]
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2018-09-03 10:00
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GB2423.01 2001 电工电子产品 试验A低温试验方法
- GB2423.012001电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法[详细]
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2018-09-14 10:00
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电工电子产品基本环境试验规程 试验A低温试验方法
- 电工电子产品基本环境试验规程 试验A低温试验方法[详细]
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2024-09-17 01:54
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电子产品低温试验方法
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环境试验方法 低温试验
- 环境试验方法 低温试验[详细]
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GB2423.01低温试验方法
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2018-09-14 10:00
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GB2423.1-89 低温试验方法
- 东莞市皓天试验设备有限公司发布GB2423.1-89低温试验方法拱对试验箱感兴趣的朋友进行参考:如需要更详细的了解可与本公司销售部同仁洽淡!或进入东莞市皓天试验设备有限公司了解。[详细]
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2018-10-23 10:31
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GB-T2423.1-2008A-低温试验方法
- GB/T2423.1是GB/T2423标准的**部分,GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用IEC60068-2-1《环境试验第2-1部分:试验试验A:低温》(英文版)本部分与IEC60068-2-1:2007相比,主要做了下列编辑性修改:---本部分为的名称改为:《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验A:低温》---“本标准”一词改为“本部分”;---删除了IEC60068-2-1:2007前言;---删除了IEC60068-2-1:2007引言,将其内容转化为增的资料性附录NB的内容;---增加了资料性附录“GB/T2423标准的组成部分”(见附录NB);---增加了资料性附录“试验A:低温和试验B:高温的分类代号小写字母之间的关系”(见附录NB)---删除了第1章第1段中的“对于非散热试验样品”;---第1章中Z后两段的内容移到4.1中;---4.3标题“非散热试验样品”改为“非散热试验样品的试验”;---6.2Z后一段原文为正文,本部分改为注。为清晰起见,上述修改已在正文相应位置加了脚注。本部分代替GB/T2423.1-2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》,与之相比,主要变化如下:---删除了试验Aa:非散热试验样品温度突变的低温试验;---删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E;---增加了试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验一试验样品在整个试验过程通电。本部分的附录NA、附录NB为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提成并归口。本部分有广州电器科学研究院负责起草。本部分主要起草人:张志勇。本部分所代替标准的历次版本发布情况为;-------CB/T2423.1一1981、CB/T2423.1一1989、CB/T2423.1一2001.[详细]
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2018-11-20 10:00
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GJB 6458.20-2008 火箭炮试验方法 第20部分:低温试验
- GJB 6458.20-2008 火箭炮试验方法 第20部分:低温试验[详细]
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2014-12-01 00:00
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GB/T2423.1-基本环境试验规程 试验A-低温试验方法
- GB/T2423.1-电工电子产品基本环境试验规程试验A-低温试验方法更过标准下载联系:上海览浩仪器设备有限公司[详细]
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2018-09-03 10:00
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GB/T2423.1-89电工电子产品环境试验规程 试验A:低温试验方法
- 电工电子产品环境试验规程试验A:低温试验方法GB/T2423.1-89标准状态:已作废替代情况:替代GB2423.1-81;被GB/T2423.1-2001[详细]
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2018-09-13 10:00
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GJB 6458.20 火箭炮试验方法 第20部分:低温试验
- GJB6458.20-2008火箭炮试验方法第20部分:低温试验[详细]
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2018-09-14 10:00
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GB2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程 试验 A 低温试验方法
- GB2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法[详细]
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2018-10-05 10:00
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