资料库
仪器网>
资料库>GB-T2423.1-2008A-低温试验方法
GB-T2423.1-2008A-低温试验方法
-
本文由 东莞市欧可检测仪器有限公司 整理汇编
2018-11-20 10:00 425阅读次数
文档仅可预览首页内容,请下载后查看全文信息!
-
立即下载
GB/T2423.1是GB/T2423标准的**部分,GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用IEC60068-2-1《环境试验第2-1部分:试验试验A:低温》(英文版)本部分与IEC60068-2-1:2007相比,主要做了下列编辑性修改:---本部分为的名称改为:《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验A:低温》---“本标准”一词改为“本部分”;---删除了IEC60068-2-1:2007前言;---删除了IEC60068-2-1:2007引言,将其内容转化为增的资料性附录NB的内容;---增加了资料性附录“GB/T2423标准的组成部分”(见附录NB);---增加了资料性附录“试验A:低温和试验B:高温的分类代号小写字母之间的关系”(见附录NB)---删除了第1章第1段中的“对于非散热试验样品”;---第1章中Z后两段的内容移到4.1中;---4.3标题“非散热试验样品”改为“非散热试验样品的试验”;---6.2Z后一段原文为正文,本部分改为注。为清晰起见,上述修改已在正文相应位置加了脚注。本部分代替GB/T2423.1-2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》,与之相比,主要变化如下:---删除了试验Aa:非散热试验样品温度突变的低温试验;---删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E;---增加了试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验一试验样品在整个试验过程通电。本部分的附录NA、附录NB为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提成并归口。本部分有广州电器科学研究院负责起草。本部分主要起草人:张志勇。本部分所代替标准的历次版本发布情况为;-------CB/T2423.1一1981、CB/T2423.1一1989、CB/T2423.1一2001.
更多资料
-
GB-T2423.1-2008A-低温试验方法
- GB/T2423.1是GB/T2423标准的**部分,GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用IEC60068-2-1《环境试验第2-1部分:试验试验A:低温》(英文版)本部分与IEC60068-2-1:2007相比,主要做了下列编辑性修改:---本部分为的名称改为:《电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验A:低温》---“本标准”一词改为“本部分”;---删除了IEC60068-2-1:2007前言;---删除了IEC60068-2-1:2007引言,将其内容转化为增的资料性附录NB的内容;---增加了资料性附录“GB/T2423标准的组成部分”(见附录NB);---增加了资料性附录“试验A:低温和试验B:高温的分类代号小写字母之间的关系”(见附录NB)---删除了第1章第1段中的“对于非散热试验样品”;---第1章中Z后两段的内容移到4.1中;---4.3标题“非散热试验样品”改为“非散热试验样品的试验”;---6.2Z后一段原文为正文,本部分改为注。为清晰起见,上述修改已在正文相应位置加了脚注。本部分代替GB/T2423.1-2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》,与之相比,主要变化如下:---删除了试验Aa:非散热试验样品温度突变的低温试验;---删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E;---增加了试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验一试验样品在整个试验过程通电。本部分的附录NA、附录NB为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提成并归口。本部分有广州电器科学研究院负责起草。本部分主要起草人:张志勇。本部分所代替标准的历次版本发布情况为;-------CB/T2423.1一1981、CB/T2423.1一1989、CB/T2423.1一2001.[详细]
-
2018-11-20 10:00
产品样册
-
低温试验方法
- GBT2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法.pdf[详细]
-
2018-08-19 10:00
产品样册
-
电子产品低温试验方法
- 电子产品低温试验方法[详细]
-
2015-08-20 00:00
选购指南
-
环境试验方法 低温试验
- 环境试验方法 低温试验[详细]
-
2014-02-20 00:00
应用文章
-
GB2423.01低温试验方法
- GB2423.01低温试验方法[详细]
-
2018-09-14 10:00
产品样册
-
GB2423.1-89 低温试验方法
- 东莞市皓天试验设备有限公司发布GB2423.1-89低温试验方法拱对试验箱感兴趣的朋友进行参考:如需要更详细的了解可与本公司销售部同仁洽淡!或进入东莞市皓天试验设备有限公司了解。[详细]
-
2018-10-23 10:31
产品样册
-
GB2423.01-1989 试验A:低温试验方法
- GB2423.01-1989 试验A:低温试验方法[详细]
-
2015-10-28 00:00
应用文章
-
GB 2423.1-89 低温试验方法
- 北京雅士林试验设备有限公司位于ZG北京,是一家专业从事环境试验设备、检测设备生产、研发、销售于一体的高新技术企业。产品已广泛应用于科研、电工、电子、军事、航空、船舶、邮电通信、汽车、摩托车等企事业单位,提供按GB、IEC、DIN等标准相对应的技术参数制作各类气候环境试验设备。公司已拥有专业的研发ZX、并拥有台湾进口数控冲床、ZG航天研发的数控折弯机,采用国内Zxian极n的全自动静电喷塑流水线等先进的加工设备及符合国家标准的静电调试车间,以确保产品的质量外观及性能。公司已经多年与ZG大型的物流集团公司友好合作,以免在运输途中设备的损坏而耽误交货期。雅士林多次与航天合作是**一家通过航天校准合格并且拥有航天校准证书的试验设备厂家。北京大学,清华大学,ZG石油大学,复旦大学,南京大学,航空航天大学,等ZG航天的长期合同伙伴。雅士林公司恪守“服务只有起点,满意没有终点”的原则,多年来不断进取,开拓创新,博得了广大用户的信赖。本着质量为根、服务为本、诚信当先、利益共赢的经营宗旨,密切关注国内外Zxin科技动态,兼收并取国内外高新技术,不断拓展先进实用的产品。长久以来,雅士林员工一直在孜孜不倦地寻求如何通过雅士林的努力,为ZG的试验设备略尽绵薄之力。人才是企业的根本,科技是发展的源泉,社会在不断的发展,雅士林将一如既往,不懈地探索创新,注重新产品开发,使技术品质更臻完善,为社会奉献更多的新产品。发展中,我公司得到了国内外社会各界朋友的真诚支持,致此机会,谨向各界致以衷心的感谢,并竭诚欢迎与各界同仁,有志之士进行广泛的友好合作,实现优势互补,双赢共享,共创美好的未来。我们真诚的欢迎大家来电咨询!全国免费服务热线:4006400998联系我们:北京雅士林试验设备有限公司北京市大兴经济开发区金辅路2号(102600)电话:010-681768556817847768178583(总机)010-681735966821785587998778(直线)传真:010-68174779E-mail:邮箱yashilin@bjyashilin.com[详细]
-
2018-09-15 10:00
产品样册
-
低温试验方法和标准
- GJB150.4-86环境试验方法低温试验-低温试验箱.pdf[详细]
-
2018-10-05 10:00
产品样册
-
GB 2423.1-89 低温试验方法
- 电子产品低温试验方法,本标准适用于非散热和散热的电子电工产品的低温试验。[详细]
-
2018-10-05 10:00
产品样册
-
GB2423.1-1989环境试验 低温试验方法
- GB2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法.pdf[详细]
-
2018-10-05 10:00
产品样册
-
试验A-低温试验方法
- GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异,增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。本低温试验的目的于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用,运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐温变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下应采用GB/T2423.22[详细]
-
2018-10-13 10:00
产品样册
-
GB-T2423.1_2008试验A:低温试验方法
- GB/T2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温1范围GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品.试验Ab与试验Ad与早期版本无实质性的差异”,增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。[详细]
-
2018-11-15 10:00
产品样册
-
GBT4098.8-1983 射频电缆低温试验方法
- GBT4098.8-1983 射频电缆低温试验方法[详细]
-
2013-02-27 00:00
专利
-
GB2423[1].01低温试验方法
- GB2423[1].01低温试验方法[详细]
-
2018-08-19 10:00
产品样册
-
GJB150.4-86 环境试验方法 低温试验-低温试验箱
- GJB150.4-86环境试验方法低温试验-低温试验箱[详细]
-
2018-08-19 10:00
产品样册
-
鸿达天矩低温试验方法
- GBT2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A低温试验方法.pdf[详细]
-
2018-08-19 10:00
产品样册
-
GJB150.4-86 设备环境试验方法 低温试验
- GJB150.4-86设备环境试验方法低温试验[详细]
-
2018-09-01 10:00
产品样册
-
GJB150.4设备环境试验方法-低温试验
- GJB150.4设备环境试验方法-低温试验低温试验箱技术参数:1、温度范围:0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃~RT(室温)2、温度波动度:≤±0.5℃(空载时)3、温度均匀度:≤±2℃(空载时)4、升温速率:1.0~3.0℃/min(升温速率可按客户要求特殊定制)5、降温速率:0.7~1.2℃/min(降温速率可按客户要求特殊定制)6、低温试验箱温度偏差:≤±2℃7、时间设定范围:0~999h8、样品托架:2层(标配)如需参考低温试验箱的技术资料请浏览:[详细]
-
2018-09-03 10:00
产品样册
-
G150-4设备环境试验方法 低温试验.
- G150-4设备环境试验方法低温试验.pdf[详细]
-
2018-09-04 10:00
产品样册
Copyright 2004-2025 yiqi.com All Rights Reserved , 未经书面授权 , 页面内容不得以任何形式进行复制
参与评论
登录后参与评论