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使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例
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使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例
更多资料
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使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例- 使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例[详细]
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2008-03-27 00:00
期刊论文
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- 稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例
- 稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例[详细]
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2008-03-27 00:00
应用文章
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- DJH膜厚仪
- DJH膜厚测量系统被广泛应用于涂层生产线及实验室的质量控制。先进的软件编程可实现测试的高重复性，并具备极高的精确度。ASTM D 5796指定用显微测厚仪。[详细]
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2023-01-30 14:41
选购指南
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- 利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例
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2024-09-29 10:01
选购指南
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- 日本KETT膜厚计LZ-373使用说明书
- 日本KETT膜厚计LZ-373使用说明书见附件！日本KETT膜厚计LZ-373的技术参数：型号LZ-373电磁/高频涡流两用式测定方式电磁式高频涡流式测定对象磁性金属基体上非磁性涂镀层非磁性金属基体上绝缘层测定范围0-2500um0-1200um测定精度<50um±1um50um-1000um±2%1000um以上±3%分辨率<100um0.1um>100um1um附加功能1.程序选择2.基体修正3.数据删除4.数据记忆5.设定上下限6.数据统计（测定次数Zda值Z小值标准偏差）7.语言选择（中、英、日、韩）8.日期时间9.自动关机设定10.背景灯光选择11.背景灯光的时间设计12.单位13.数据输出测头点触式（LEP-J）点触式（LHP-J）显示方式数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）数据输出记忆数据大约3000个电脑输出（USB或者RS-232C）或者连接打印机（RS-232C）存储通道有100通道可供选择（两用式各有50通道）尺寸重量75（W）×145（D）×31（H）mm0.34kg标准配件基体标准片4节咸性电池测头皮套（4节1.5V咸性电池）可选配置数据管理软件（LDL-02）数据管理软件（McWAVE系列）不同厚度的标准片支架LW-990打印机VZ-330打印机连线及电脑连线RS-232C与USB的转换线日本KETT膜厚计LZ-373的的图片：[详细]
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2018-10-03 10:00
产品样册
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- 使用FT150测量片式元器件电极膜厚
- 使用FT150测量片式元器件电极膜厚[详细]
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2024-09-15 17:50
其它
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- 使用FT150h测量片式元器件电极膜厚
- 使用FT150h测量片式元器件电极膜厚[详细]
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2024-09-14 07:04
操作手册
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- 膜厚面阻测试仪
- 膜厚面阻测试仪[详细]
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2015-07-22 00:00
安装说明
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膜厚仪 型号：DP-GT820F- 磁性涂层测厚仪/镀层测厚仪/膜厚仪型号：DP-GT820FDP-GT820F涂层测厚仪是具有广泛使用范围的磁性仪器。其技术参数完全符合国家标准。本仪器是磁性便携式涂层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。功能：采用了磁感应测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度；可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；操作过程有蜂鸣声提示；电池电压指示：低电压提示自动关机测量方法：F磁感应技术参数测量范围：0~1250um(其他量程可定制)分辨率：0.1/1Z小曲率半径:凸5mm/凹5mmZ小测量面积：10X10mmZ薄基底：0.4mm使用环境：温度：0-40℃湿度：10-85%RH准确度：±(1.5~3%h)或±2um公制/英制：可转换机身尺寸：102mmx66mmx24mm电源：2节5号电池重量：99g（含电池）附件：标准片4片：50um、100um、250um、500um（选配：12um、25um）基体1块（铁基体）电池2块说明书1份保修卡1张[详细]
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2018-10-02 10:01
产品样册
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- 膜厚仪 型号：DP-GT8102
- 一体两用涂层测厚仪/镀层测厚仪/膜厚仪型号：DP-GT8102双功能技术的测厚仪，完成磁感应和电涡流测量自动转换应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。DP-GT8102是具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。其技术参数完全符合国家标准。本仪器是磁性、涡流一体的便携式涂层镀层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度，例如漆、塑料、瓷等。这些涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上。（一体化传感器涂层测厚仪）功能：采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；操作过程有蜂鸣声提示；电池电压指示：低电压提示自动关机测量方法：F磁感应NF涡流技术参数测量范围：0~1250um(其他量程可定制)分辨率：0.1/1Z小曲率半径:凸5mm/凹5mmZ小测量面积：10X10mmZ薄基底：0.4mm使用环境：温度：0-40℃湿度：10-85%RH准确度：±(1.5~3%h)或±2um公制/英制：可转换机身尺寸：102mmx66mmx24mm电源：2节5号电池重量：99g（含电池）附件：标准片4片：50um、100um、250um、500um（选配：12um、25um）基体2块（铁基体、铝基体）电池2块说明书1份保修卡1张[详细]
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2018-10-02 10:01
产品样册
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- 可视观察的同步测定－多层薄膜的透射测定－
- 本文向您介绍通过可视观察的同步测定对多层薄膜进行分析的示例。使用AIM-9000、AIMsolutionMeasurement软件和AIMsolutin分析软件，在每一个操作步骤都可以瞬间获得准确的数据，实现了前所未有的轻松分析。[详细]
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2018-08-26 10:00
产品样册
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- 利用FT150进行无电解镍镀层膜厚和磷成分分析
- 无电解镍（镍-磷合金）镀层由于磷的含有率不同，镀层特性也不同。因此，不仅是镀层膜厚的分析，磷含有量的分析也是十分重要的。为检测在大气气氛下微小量范围内磷的荧光X射线的高灵敏度，聚光型光学系和半导体检测器的组合是必要的。本公司的FT9500/FT9500X系列可应对诸如此类的测量需求。此次，发布配置了升级后聚光型光学系和Vortex®检测器的FT150系列，实现了更加高极ng准度的测量。此份资料中，介绍了利用FT150同时测量铁上无电解镍和铜上无电解镍膜厚和磷含有量的案例。另外，也一同介绍了与FT9500X系列之间的比较。[详细]
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2018-08-13 16:03
产品样册
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- XU-100超高性价比膜厚仪
- 一六仪器XU-100超高性价比膜厚仪产品介绍及应用[详细]
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2023-03-06 17:18
标准
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- 高端全自动型膜厚仪
- 高端全自动型膜厚仪产品介绍及应用[详细]
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2024-09-18 18:12
标准
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- 专业性能型膜厚仪
- 专业性能型膜厚仪产品介绍及产品应用[详细]
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2024-09-20 03:17
标准
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- 薄膜测厚选什么仪器好
- 济南赛成生产的测厚仪系列产品，CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度极ng确测量。[详细]
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2019-08-26 15:05
课件
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- 90Plus测定淀粉纳米颗粒粒径实例
- 90Plus测定淀粉纳米颗粒粒径实例[详细]
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2024-09-20 13:31
产品样册
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- 薄膜吸收，透射和反射率的测定
- 薄膜吸收，透射和反射率的测定[详细]
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2024-09-18 19:09
实验操作
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- ZetaPALS测定磁纳米粒子的Zeta电位实例
- ZetaPALS测定磁纳米粒子的Zeta电位实例[详细]
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2014-01-15 00:00
期刊论文
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- DeFelsko PosiTest DFT膜厚仪说明书
- DeFelskoPosiTestDFT膜厚仪也叫涂镀层测厚仪PosiTestDFT涂镀层测厚仪PosiTestDFT涂层测厚仪以下行业使用效果理想粉末涂料涂装员涂层检测员涂装承包商汽车修补行业2种型号…Ferrous（F型针对铁性基材）Combo（复合型针对所有金属基材）就是测量PosiTestDFT涂层测厚DeFelskoPosiTestDFT膜厚仪两款型号PosiTestDFTFerrous:测量铁性基材（钢和铸铁）上的非磁性涂层PosiTestDFTCombo:测量铁性基材（钢和铸铁）上的非磁性涂层和有色金属（铜，铝等）上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。仪器特点测量快速，重复性好大部分材料上无需校准调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上无法调零时可使用方便的重启功能坚固耐磨损的红宝石探头测量时听觉和视觉的双重指示探头上的V型槽方便测量圆柱型表面密尔/微米单位转换每个仪器的背面都有基本的操作说明DeFelskoPosiTestDFT膜厚仪仪器规格测量范围0-40mils0-1000um精度±（0.1mils+3%）±（2um+3%）尺寸4×1.5×0.9in100×38×23mm重量2.5oz70gDeFelskoPosiTestDFT膜厚仪仪器包括内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1xAAA电池，说明书和一年质保符合以下标准：ISO2178/2360/2308;prENISO19840;ASTMB244/B499/B659/D1186/D1400/E376/G12;S3900-C5;SSPC-PA2及其他。[详细]
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2018-09-26 10:00
产品样册
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