光学NanoGauge C10178-03E产品样册

本文由 滨松光子学商贸（中国）有限公司 整理汇编

2024-09-30 18:18 623阅读次数

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• 光学NanoGauge C10178-03E产品样册

  C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-03E支持NIR（900 nm至1650 nm） (AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz) [详细]

  2024-09-30 18:18

  产品样册

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• 光学NanoGauge C10178-03J产品样册

  C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。C13027使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-03J支持NIR（900 nm至1650 nm）。 [详细]

  2020-03-10 12:38

  产品样册

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• 光学NanoGauge C10178-02产品样册

  C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。 C10178-02支持UV（200 nm至950 nm）。 [详细]

  2020-03-10 12:38

  产品样册

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• 光学NanoGauge C13027-12产品样册

  C13027型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。C13207不仅支持PLC连接，而且其设计尺寸比其他型号更紧凑，便于设备安装。Optical Gauge系列不仅能够测量10纳米以下极薄薄膜的厚度，而且还具有超宽测量范围，可以覆盖从10纳米到100微米的各种薄膜厚度。 Optical Gauge系列可以进行高达200 Hz的快速测量，因此非常适合高速生产线测量。 [详细]

  2024-09-18 18:09

  产品样册

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• 光学NanoGauge C12562-04产品样册

  C12562型光学纳米膜厚测量系统是一款小型紧凑、节省空间、安装方便的非接触式薄膜厚测量系统。在半导体工业中，硅通孔技术的普及使得硅厚度测量变得必不可少；在薄膜生产工业中，越来越高的产品需求使得粘合层薄膜的制作朝着越来越薄的方向发展。因此，这些工业领域需要更高精度、测量范围可以覆盖1μm到300μm的厚度测量系统。C12562可以对厚度范围从0.5μm到300μm的薄膜进行极ng确测量，包括薄膜镀层厚度和薄膜衬底厚度以及总厚度。C12562可以进行高达100 Hz的快速测量，因此非常适合高速生产线测量。 [详细]

  2024-09-20 13:41

  产品样册

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• Theta 光学接触角仪产品样册

  Theta 光学接触角仪产品样册[详细]

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• Theta 光学接触角仪产品样册

  Theta 光学接触角仪产品样册[详细]

  2024-09-20 13:38

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  2024-09-14 20:41

  操作手册

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  应用文章

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  Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪产品样册[详细]

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