分享 收藏

光学NanoGauge C10178-03E

销售范围售全国

入驻年限第10年

营业执照已审核

立即扫码咨询

联系方式：400-074-6866

联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!

扫码分享

为您推荐

产品特点

C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。

C10178-03E支持NIR（900 nm至1650 nm）

(AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)

详细参数

型号	C10178-03E
可测膜厚范围（玻璃）	150 nm to 50 μm*1
测量可重复性（玻璃）	0.05 nm2 3
测量准确性（玻璃）	±0.4 %3 4
光源	Halogen light source
光斑尺寸	Approx. φ1 mm*3
工作距离	10 mm*3
可测层数	Max. 10 layers
分析	FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis
测量时间	19 ms/point*5
光纤连接头	φ12 sleeve shape
外部控制功能	RS-232C, PIPE, Ethernet
电源	AC200 V to AC240 V , 50 Hz/60 Hz
功耗	Approx. 230 VA
测量波长范围	900 nm to 1650 nm
测量模式（特征）	supports NIR