C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。
C10178-03E支持NIR（900 nm至1650 nm）
(AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)
| 型号 | C10178-03E |
| 可测膜厚范围（玻璃） | 150 nm to 50 μm*1 |
| 测量可重复性（玻璃） | 0.05 nm*2 *3 |
| 测量准确性（玻璃） | ±0.4 %*3 *4 |
| 光源 | Halogen light source |
| 光斑尺寸 | Approx. φ1 mm*3 |
| 工作距离 | 10 mm*3 |
| 可测层数 | Max. 10 layers |
| 分析 | FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis |
| 测量时间 | 19 ms/point*5 |
| 光纤连接头 | φ12 sleeve shape |
| 外部控制功能 | RS-232C, PIPE, Ethernet |
| 电源 | AC200 V to AC240 V , 50 Hz/60 Hz |
| 功耗 | Approx. 230 VA |
| 测量波长范围 | 900 nm to 1650 nm |
| 测量模式（特征） | supports NIR |
*1 转换时玻璃的折射率是1.5
*2 测量400 nm玻璃薄膜厚度时为标准偏差（公差）
*3 取决于光学系统或物镜放大倍数
*4 测量保证范围同VLSI标准测量保证文件一致
*5 最短曝光时间
● 高速、高准确性（可测膜厚范围（玻璃）：150 nm-50μm）
● 实时测量
● 非恒定膜层的精确测量
● 分析光学常量(n, k)
● 可外部控制
● 可以使用特定附件测量量子产率，反射率，透射率和吸收率
上传人：滨松光子学商贸（中国）有限公司
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X15213-03CR 是一款仅有反射相的空间光调制器 (SLM)，基于硅上液晶 (LCOS) 技术，可通过 CMOS 芯片的寻址电压直接控制液晶 (LC) 分子，并且可以高精度、高速调制光束的波前。
X15213-03CL 是一款仅有反射相的空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，可通过 CMOS 芯片的寻址电压直接控制液晶 (LC) 分子，并且可以高精度、高速调制光束的波前。
LCOS 芯片中的失真（如 LC 的波前失真和非线性响应）可通过控制器进行高效校正。使用 X15213 系列可实现简便的 PC 控制、精确的线性相位调制特性。它们还可以提供高衍射效率和高光利用率。
LCOS 芯片中的失真（如 LC 的波前失真和非线性响应）可通过控制器进行高效校正。使用 X15213 系列可实现简便的 PC 控制、精确的线性相位调制特性。它们还可以提供高衍射效率和高光利用率。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
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