仪器网

欢迎您: 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
首页-资讯-资料-产品-求购-招标-品牌-展会-行业应用-社区-供应商手机版
官方微信
仪器网-专业分析仪器,检测仪器平台,实验室仪器设备交易网 产品导购
VIP企业会员服务升级
仪器/ 产品中心/ 物性测试仪器/ 测厚仪/ 薄膜测厚仪/ 光学NanoGauge C10323-02E
收藏  

光学NanoGauge C10323-02E

联系方式:滨松客服400-074-6866

联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!

为您推荐
详细介绍
详细参数
型号 C10323-02E
可测膜厚范围(玻璃) 20 nm to 50 μm①
测量可重复性(玻璃) 0.02 nm②
测量准确性(玻璃) ±0.4 %③
光源 Halogen light source
光斑尺寸 φ8 μm to φ80 μm④
工作距离 Refer to objective lens list
可测层数 Max. 10 layers
分析 FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis
外部控制功能 RS-232C, PIPE, Ethernet
电源 AC200 V to AC240 V , 50 Hz/60 Hz
功耗 Approx. 250 VA
测量波长范围 400 nm to 1100 nm
接口 USB 2.0

*1:转换时玻璃的折射率是1.5

*2:测量400 nm玻璃薄膜厚度时为标准偏差(公差)

*3:取决于光学系统或物镜放大倍数

*4:测量保证范围同VLSI标准测量保证文件一致

产品特性

● 可在微观层面进行测量


● 高速、高准确度


● 分析光学常量(n, k)


● 可外部控制

外形尺寸(单位:mm)


产品优势

C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。



C10323-02E的电源电压为AC100 V至AC120 V。


厂商相关其他产品
X您尚未登录
账号登录
X您尚未登录
手机动态密码登录
X您尚未登录
扫码登录
在线留言
官方微信

仪器网微信服务号

扫码获取最新信息


仪器网官方订阅号

扫码获取最新信息

在线客服

咨询客服

在线客服
工作日:  9:00-18:00
联系客服 企业专属客服
电话客服:  400-822-6768
工作日:  9:00-18:00
订阅商机

仪采招微信公众号

采购信息一键获取海量商机轻松掌控