人流空前的2023全国电子显微学学术年会，TESCAN新型4D-STEM技术备受关注！

10月27日，2023年全国电子显微学学术年会在东莞市国际会展大酒店龙泉厅盛大开幕，大会为期3天，参会人数再创新高，吸引来自高校院所、企事业单位、仪器技术企业等电子显微学领域专家学者两千余人参会。 

TESCAN为本次大会带来新型4D-STEM技术，用报告、交流会与征稿的方式与感兴趣的专家学者进行了积极地交流互动，午餐交流会获得了圆满成功，收获了大量关注。

火爆展示

作为本次大会的主要赞助商，TESCAN 公司参加此次会议亮点颇多。

TENSOR 模型 

 人流爆棚

S次，在大会现场放置了其Z 新发布的透射扫描电子显微镜TENSOR模型。入酒店大厅即可看见。

TESCAN展台提供了咖啡休息区，咖啡蛋糕无门槛分享。展台人流爆棚，大会首日展位人流量几近破千。

酱香拿铁

咖啡类别更是有Z 新款的酱香拿铁，十分受欢迎。

4D-STEM 新技术备受关注

Daniel Nemecek 博士 -STEM专家做大会报告

专程从电镜之城捷克布尔诺邀请而来的STEM专家 Daniel Nemecek 博士在10月28日大会报告上为大家介绍了用旋进辅助式4D-STEM显微镜提升纳米尺度晶体相位和取向图——展示了一种快速获取和处理4D-STEM数据集的新方法，结合EDS数据进行多模态分析，改善4D-STEM相分析的准确性。

午餐交流会

大会报告后中午，TESCAN公司还举办了一场午餐交流会，与前来参与的各位老师一起探讨4D-STEM的新技术。午餐会吸引了上百人前来观摩。

午餐会进一步介绍了TESCANZ 新发布的集成和旋进辅助的分析型4D-STEM，它集成了旋进电子衍射，旋进频率达72000赫兹，另外还集成了直接电子探测器和双无窗能谱仪，可用于STEM成像、相分析、取向分析、应变分析和三维电子衍射等。

交流氛围热烈

交流还在持续，征稿活动正等待你加入！

分会报告

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10月27日

第八分会场报告

《FIB-SEM 双束电镜Z 新应用进展》

大会第 一天下午，在第八分会场，TESCAN应用专家李景分享了FIB-SEM双束电镜Z 新应用进展。

围绕着TEM样品制备过程中经常遇到的四个问题: 如何省时省力，如何实现多种方式，如何制备高质量样品，如何定位感兴趣位置，对TESCAN的技术和功能进行了介绍，包括全新的AutoSlicer自动切片功能，配合安装在离子镜筒正下方的旋转机械手OptiLift，轻松实现倒切，平切以及侧切样品制备，氙气等离子双束电镜可以实现快速大面积无Ga离子注入的且无损伤层的样品制备，Rocking Stage 实现样品台绕着Y轴倾斜去除窗帘效应的同时可以进行电子束的实时观察，负角度下的Rotate Polishing 可以实现平面抛光，TOF-SIMS和Raman的加入，在光电联用软件的配合下实现定位的多样化，更容易找到感兴趣的位置。

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10月28日

第 一分会场

《TESCAN新一代高分辨扫描电镜CLARA》

第二天下午，第 一分会场上，TESCAN应用工程师朱潇介绍了新一代高分辨率扫描电镜 TESCAN CLARA。

报告从优秀的高分辨能力，多探头全面分析能力，简便的操作方法与维护，模块化硬件平台四个方面进行了介绍。新一代Clara在硬件与软件上都进行了全新的升级，可以为科研人员提供更高精度的观察和更高的效率。

还好有TESCAN的咖啡和蛋糕，拯救了没吃早饭的我！期待下一届的全国电子显微学学术年会的TESCAN展台。

哈哈，希望TESCAN能更多地帮到您的研究工作。2024活动很多，相信很快又能见面