会议提醒 | 明日下午3:00 TESCAN AMBER X 2 悉尼大学成功案例分享会

亮点预告

探索如何借助 TESCAN AMBER X 2 的 Mistral? 等离子体 FIB 技术，实现低损伤、高重复性的 TEM 薄片制备。

悉尼大学显微团队分享真实工作流程，展示等离子体 FIB-SEM 在先进材料研究中的具体应用。

Felix Theska（悉尼大学）深入解析 TEM 和原子探针样品制备策略；

Martin Sláma（TESCAN）分享先进 FIB-SEM 技术演进与应用洞察。

演讲嘉宾

Felix 支持研究人员进行原子探针断层分析（APT）和透射电子显微镜（TEM）样品制备。在其职业生涯中，他使用配备 Ga+、Xe+ 和 Ar+ 束柱的 FIB-SEM 工具，并结合 EDXS、EBSD 和 TKD 等分析手段，为相界、晶界、薄膜多层结构和纳米颗粒等进行特定部位样品制备。在加入悉尼大学显微镜与微分析中心之前，Felix 曾担任新南威尔士大学博士后研究员，并在德国伊尔梅瑙工业大学担任研究助理。

Martin 在 FIB-SEM 设备领域拥有超过八年的经验，专注于传统及先进的 TEM 样品制备方法，广泛使用 TESCAN 的等离子体和 Ga+ FIB-SEM 解决方案，并通过 FIB-SEM 三维断层技术进行材料表征。在加入 TESCAN 之前，Martin 曾在布尔诺理工大学、CEITEC 和阿斯顿大学从事新材料开发与表征研究。