近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV采用近红外光谱检测技术(NIR)，这种测量技术是一种非破坏性、非接触式的实时水分检测技术，能实现对绝缘薄膜进行快速、无污染水分测量，并具有的技术优势：

济南祥控自动化设备有限公司

刘经理 壹捌伍 - 陆零柒玖 - 柒捌陆叁  一八五 - 六零七九 - 七八六三

在电子行业，绝缘薄膜水分含量不稳定，一旦发现水分含量超出标准范围，会导致电子元件在使用过程中频繁出现短路、漏电等故障，因此，在生产过程中，需要配置水分仪对生产中的绝缘薄膜水分进行检测，以便及时调整生产工艺，确保包装薄膜的水分含量始终处于理想状态。

物质内部的分子结构，如水中的氧-氢键和有机物中的碳-氢键，会吸收特定波长的近红外光线。在特定波长下，所反射的近红外线能量和它所包含的吸收近红外线的分子的数量成反比。济南祥控自动化设备有限公司自主研制的近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV根据近红外波长会被水分子吸收的原理，通过分析某特定波长的近红外能量变化，能够精确检测绝缘薄膜极其微量的水分含量变化。

近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV采用近红外光谱检测技术(NIR)，这种测量技术是一种非破坏性、非接触式的实时水分检测技术，能实现对绝缘薄膜进行快速、无污染水分测量，并具有的技术优势：

秒级响应：实时监测水分变化，避免人工采样滞后，提升产线效率。

精准稳定：采用近红外漫反射原理，检测精度高，适应复杂工况。

降本增效：减少原料浪费与返工成本，节约单条产线成本。

绿色环保：无化学试剂消耗，降低污染风险，助力企业实现可持续发展目标。

祥控近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV的技术指标:

测量范围：0 〜 100%

测量精度：±0.2%

测量通道：50

高度范围：350mm±100mm

重复性：0.1%

滤波范围：0 〜 2.5%

电 源：220VAC/50Hz

消耗功率：60W

工作环境：-40℃~+70℃，5%~95%RH(无凝结)

光干扰：不受外界环境光变化影响，探头无须遮光罩

温度影响：具有温度自动补偿基本不受外界温度变化的影响

通过将祥控近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV集成到生产过程的关键区域，如皮带输送机、螺旋输送机或滑槽上等位置，通过精确绝缘薄膜水分，使用分析数据快速做出决策和调整生产线以持续监控原材料的来料或控制生产线上的过程，实现过程控制和最终质量，通过灵活组网，实现数据共享和远程监控。