【展会邀请】西努光学诚邀您莅临2026九峰山论坛

牛油果AI+Q-DTS：双平台联动，筑牢智造数字根基

在数字化转型浪潮中，西努光学以AI牛油果与Q-DTS双平台为核心，打通“检测-数据-决策”闭环，为企业打造高效协同的智能体系，破解传统生产痛点。

牛油果AI智能图像分析：全流程自动化，让检测更精准高效

传统人工检测效率低、漏检率高、数据分散的痛点，始终制约生产效能。AI牛油果智能图像分析平台依托深度学习算法，实现从图像采集、缺陷识别分类到报告生成的全流程自动化，彻底解放人力。通过AI模型自主迭代，降低晶圆制造环节80%的误判率，运维成本直降45%。

平台搭载的高精准算法，可精准识别复杂线路与微小缺陷，大幅降低漏检率，筑牢产品质量防线；同时实时将检测数据同步至Q-DTS平台，与MES系统深度联动，让末端检测数据转化为驱动生产优化的核心依据，推动工艺迭代升级。

Q-DTS智慧数据互联：打破数据壁垒，构建协同生态

数据孤岛是制造业转型的核心障碍，Q-DTS平台以数据互通为抓手，无缝对接MES、ERP等核心系统，打通“测量-分析-决策”全链条，实现显微测量、质量报告等分散数据的高效整合。平台设计精细化多级权限体系，从操作员的数据上传查看，到管理员的规则配置，每个角色仅能访问授权数据，既保障数据安全，又确保协作高效。

该平台深度契合国家“构建产业生态、打破数据壁垒、实现产业链协同”的战略方向，让数据流动打破部门壁垒，助力企业从“规模优势”向“系统优势”转型，为柔性化、定制化生产提供坚实支撑。

SpectView SA晶圆缺陷检测：精准赋能，守护晶圆制造生命线

SpectView SA是一款集成了高精度运动平台、激光主动聚焦模块、光学显微控制以及先进图像处理算法的显微自动化方案，专门用于半导体制造过程中对晶圆进行自动图像采集，进行全面且精确的检测与分析。

红外激光扫描共聚焦IRLC：以穿透之力，解锁微观检测新维度

IRLC 作为旗舰级精密检测设备，集近红外激光、共聚焦扫描、实时自动聚焦、全电动智能控制于一体，专为硅基半导体、高掺杂晶圆、MEM的深层无损成像而生，是全球头部半导体、电子制造企业信赖的 “内部透视眼”。