日前,北京易科泰生态技术有限公司在中科院地质与地球物理研究所顺利完成XRF Core Scanner样芯扫描分析系统安装,经测试该系统各项指标良好,数据准确,已正式投入运行。

该套CS系统配备有RGB高分辨率数字光学成像(SurfaceScan)、X-射线芯体密度扫描成像(Radiographic Image)、X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence,XRF)、磁化率(Magnetic Susceptibility,MS)共4组测量模块,可用于多种样芯的非接触式测量(MS除外),包括但不限于土壤、土芯、海洋或湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石)、泥炭块、岩芯等的光学成像与定位、密度分析、元素分析和磁化率测定,元素测定范围从Al到U,其中许多可测痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。系统广泛应用于土壤分析,环境污染调查、地质勘探、海洋研究等领域。同时系统配备了校准模块,可用于采集标准样品的信息,建立参比数据库,用于元素的半定量分析。

这是国内首套由易科泰公司技术人员自主安装的CS系统,历经高空作业、机械组装和调校、液路和电路连接、传感器安装和测试、安全测试等诸多环节,展现了易科泰公司坚实的技术储备和协作能力。

安装完成后,厂家为用户举办了为期一周的远程培训,在此过程中对多种类型样品进行了测试,包括黄土、湖底沉积物、石笋、白云石等,数据稳定、可靠、重现性良好,获得用户好评。

ü 高分辨率样芯(芯体)扫描成像分析,全面反映二维密度/质地和化学成分分布
ü 岩矿样芯、海洋湖泊沉积样芯、树木年轮样芯等
ü RGB扫描成像与密度扫描成像
ü 高光谱扫描成像分析
ü XRF元素扫描分析
ü 高通量、非损伤
ü 可选配LIBS元素分析
主要产品技术:Ø SisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统
Ø SisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统
Ø SisuCHEMA高光谱成像分析系统
Ø SpectraScan高光谱成像扫描分析系统
Ø XRF Core Scanner样芯密度与元素扫描分析系统
Ø XRF Scanner MC/SC 岩矿/湖海样芯元素扫描分析系统
Ø XRF Multiscanner树木年轮分析系统
Ø VIS-NIR P4000土壤样芯理化性质勘测系统
Ø GeoDrone®无人机遥感技术
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