DSR300微纳器件光谱响应度测试系统
DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的绝 对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求，是微纳器件研究的优选。
三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。
内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路万能激光光 路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。
测试功能曲线
不同功率下的IV曲线
线性度测试曲线
寿命测试曲线（上升时间，下降时间）
40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤
70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤
5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜
紫外增强氙灯和 EQ99 光源的单色光能量曲线，使用 40 倍反射 式物镜，300mm 焦距光谱仪，光谱仪使用 1200 刻线 300nm 闪耀光 栅，光斑直径大小 80um。
如您需要详细的产品资料，请与我们联系获取！咨询电话：13810146393
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