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比表面及孔径分析仪在白炭黑行业中的应用

来源:国仪量子技术(合肥)股份有限公司 更新时间:2022-09-13 14:05:17 阅读量:508
导读:国仪精测自主研发的静态容量法比表面及孔径分析仪V-Sorb X800系列产品对白炭黑材料进行了气体吸附测试并分析了材料的BET比表面积、孔容及孔径分布,材料总孔容的相对压力点P/P0达到0.998以上

白炭黑是化工领域重要的原材料,具有较大的比表面积和丰富的孔隙结构。国仪精测自主研发的比表面及孔径分析仪为白炭黑行业带来了准确、高效的性能表征解决方案。


什么是白炭黑?

白炭黑是白色粉末状无定形硅酸和硅酸盐产品的总称,主要指沉淀二氧化硅、气相二氧化硅、超细二氧化硅凝胶和气凝胶,也包括粉末状合成硅酸铝和硅酸钙等,是重要的工业原材料。因其微观结构和聚集体形态与传统的炭黑类似且颜色为白色,并在橡胶材料应用中与炭黑有相近的补强性能,故称之为白炭黑,可广泛应用于橡胶、牙膏、塑料、涂料、食品、医药和催化剂等领域。

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白炭黑。图片来源:汇富纳米官网


白炭黑主要成分为SiO2,由Si为中心、O为顶点构成无序排列的四面体结构,这种四面体的结构以及粒子团聚过程中形成的毛细孔道,使其具有较大的比表面积和丰富的孔隙结构;独特的微观结构,使其具有吸附能力强、纯度高、稳定性高、补强性、增稠性和触变性等优异性能,同时它在光吸收、磁性、热阻、催化性和熔点等方面也表现出独特的性能。


比表面及孔径分析仪在白炭黑表征中的应用

根据不同的用处,白炭黑比表面积一般在100-3000 m2/g范围,具有微孔(孔径:﹥2 nm)、介孔(孔径:2~50 nm)的孔径分布。采用气体吸附法测试比表面积、孔容及孔径分布是白炭黑性能的主要表征手段。

国仪精测自主研发的静态容量法比表面及孔径分析仪V-Sorb X800系列产品对白炭黑材料进行了气体吸附测试并分析了材料的BET比表面积、孔容及孔径分布,材料总孔容的相对压力点P/P0达到0.998以上,仪器操作简单方便、测试通量大、效率高、结果准确、自动化程度高。


比表面积表征

以下是不同白炭黑的比表面积测试的结果,测试前,样品均在160℃真空条件下加热120分钟进行充分的脱气处理。对于介孔材料的BET计算时,P/P0选点范围为0.05-0.35(GB/T 10722-2014规定白炭黑选点范围为0.05-0.2);对于微孔材料P/P0选点范围一般低于0.1。

从图1的BET方程拟合曲线可得到样品1和样品2的比表面积分别为:598.05 m2/g和204.43 m2/g,两种白炭黑材料的比表面积相对都较高,可判断两种材料的孔径结构相对也会较丰富。此外,从测试结果可知样品1的比表面积是样品2的2.9倍,可以推测样品1的颗粒粒径要更小,孔径结构会更丰富。

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图1 样品1(左)和样品2(右)的比表面积测试结果


孔径分布表征

从图2样品1的N2吸附-脱附等温线可以看出,在较低的相对压力下,吸附量迅速上升,达到一定相对压力后吸附出现饱和值,表明1中存在微孔结构,其饱和吸附值等于微孔的填充体积。此外,从N2吸附-脱附等温线还可看出吸附分支和脱附分支未完全重合,即存在滞后环。根据滞后环的类型,主要为H4型滞后环。

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图2 样品1的 N2吸附-脱附等温线


从图3样品1的BJH介孔孔径分布图来看,样品1基本没有介孔,在100 nm-200 nm处存在相对集中的孔径分布,可能含有部分大孔结构,可结合扫描电镜进一步观察确认。从SF微孔孔径分布图以及样品1的N2吸附-脱附等温线图来看,样品1存在较为均一的微孔结构,且最可几孔径为0.68 nm。

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图3 样品1的BJH (左)和SF (右)孔径分布


分析可知,对于白炭黑材料来说,其比表面积较大,且具备较为丰富的微孔等孔径结构,对其进行比表面和孔径分布分析的时,需采用具备高真空度的仪器进行分析,且P/P0范围需能达到:5x10-5- 0.998。国仪精测V-Sorb 4800TP可提供对白炭黑的BET比表面积,孔容及孔径分布分析,相对压力点P/P0范围能达到5x10-6- 0.998,同时可对4个样品进行分析,操作简单方便,效率高,结果准确,性价比较高。


国仪精测V-Sorb 4800TP 比表面及孔径分析仪介绍

国仪精测V-Sorb 4800TP型比表面及孔径分析仪采用静态容量法测试原理,具备完全的自动化操作,操作界面人性化,简单易学。同时产品技术通过机械工业联合会科技成果鉴定,被欧美高校、科研实验室选购使用,获得一致好评,树立了优良的国产品牌形象。

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国仪精测全自动比表面及孔径分析仪V-Sorb 4800TP型


客户评价

“国仪精测全自动比表面及孔径分析仪使用情况良好,性能稳定,平行性和精度都非常高,且仪器完全自动化操作,为测试工作带来了便利。仪器在使用过程中,技术支持和售后问题能快速响应。”

——中山大学岩土工程与信息技术研究中心


“全自动比表面及孔径分布测定仪测试性能稳定,测试精度高,可与国外同类产品相比较,且仪器测试操作是完全自动化,为我们的测试工作带来了很大的便利。通过多年使用贵公司产品,确保了我公司产品的质量稳定,目前仪器使用很正常,贵公司的售后服务也很及时和到位。”

——大连瑞克科技有限公司




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我们将为您准备一份精美礼品

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标签: 比表面及孔径分析仪    静态容量法比表面及孔径分析仪V-Sorb X800系列

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