TESCAN应邀参加“西北五省第十届电镜学术交流及技术研讨会”！

2018年8月25日~29日，“西北五省第十届电镜学术交流及技术研讨会”在山东省威海市南海新区成功举办，这是西北五省区电镜学术交流研讨会DY次在西北五省区以外的地区举行。本次技术研讨会针对电子显微学领域的基础和应用研究成果、相关仪器的理论、技术和试验方法等进行了充分地交流。

此次会议由陕西省电子显微镜学会和西北四省区（甘青宁新）电子显微镜学会主办，西北工业大学威海材料研究院等多家高校及研究院协办。会议邀请了国内专家做特邀报告，吸引了百余名来自全国各地高校、科研院所及企业等单位的科技人员参加。

西北工业大学杨延清教授表示，此次会议以西北工业大学威海材料研究院成立一周年为契机，S次走出西北五省区，获得了与会专家学者的积极响应。

△ 西北五省第十届电镜学术交流会现场

作为领先的电子显微镜、聚焦离子束和光学显微系统供应商，TESCAN应邀出席此次研讨会，并分享题为《TESCAN微分析综合解决方案》的精彩报告。TESCAN拥有多项技术，已成为行业领域的技术创新者和引领者，能够提供二维、三维、四维的高分辨形貌结构观测、微量轻元素分析和化学结构分析等集多种分析功能于一体的微分析综合解决方案。

在此次技术研讨会上，TESCANZG区市场部经理顾群向参会代表们详细介绍了TESCAN在电子显微学相关领域的技术创新，包括TESCAN的电镜-拉曼一体化技术(SEM-Raman)、双束电镜-二次离子质谱一体化技术(FIB-SEM-TOF-SIMS)及其应用研究，引起了参会学者们的极大兴趣。

△ TESCANZG市场部经理顾群精彩报告

ZH，顾经理向参会老师介绍了TESCAN于今年8月发布的ZX一代的双束电镜新品S9000X（Xe Plasma FIB-SEM）。

TESCAN S9000X是一个强大的双束电镜分析应用平台，配备超快速的氙等离子源，具有极高的精度和极高的效率。

△ TESCAN 新品 Xe FIB-SEM S9000X

此外，S9000X还能够提供纳米尺寸结构分析所必需的高分辨率和表面灵敏度，为大体积3D样品特性分析提供ZJ条件；同时，它还具有优异的FIB功能，可实现精确、无损的超大面积加工，包括封装技术和光电器件的横截面加工，为大尺寸试样的GX率制备和高分辨表征都提供了ZJ的解决方案。

△ 西北五省第十届电镜会参会人员合影