2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座
现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为
研究者们提供了分析和操作纳米世界的眼和手。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖
了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感
器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。通过布鲁克2013年原子力显微镜测量技术一系列讲座，
大家已经对AFM的基本原理及成像模式， AFM技术的发展进展，及其ZxinZxian极n的应用和功能，有了全面的了解。
在2013 年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的Z后一讲，我们将ZD介绍探针的基本信息以及如果合理选
择AFM探针。在AFM的测量以及数据分析过程中，探针有着举足轻重的作用。合理选择探针，可以帮助操作者快速
GX地获得高质量的实验数据。帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧；为用户更深入的研究工
作打下良好的基础。
布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座往期精彩回放：
**讲 ： 原子力显微镜简介及成像技巧 (点击观看精彩回放)
www.instrument.com.cn/webinar/Video/index?videoId=101715
主讲人：李永君 博士 报告时间：2013年3月28日
第二讲 ：原子力显微镜在生物学研究中的应用进展 （点击观看精彩回放）
www.instrument.com.cn/webinar/Video/index?videoId=101719
主讲人：龙飞 博士 报告时间：2013年4月16日
第三讲 ：原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展（点击观看精彩回放）
www.instrument.com.cn/webinar/video/Index/?videoId=101756
主讲人：仇登利 博士 报告时间：2013年5月21日
第四讲：利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征的Zxin进展（点击观看精彩回放）
www.instrument.com.cn/webinar/Video/index?videoId=101719
主讲人：孙万新 博士 报告时间：2013年6月25日
第五讲：基于扫描探针显微镜的电学表征技术（点击观看精彩回放）
www.instrument.com.cn/webinar/Video/index?videoId=101799
主讲人：孙昊 博士 报告时间：2013年7月9日
第六讲：如何合理选择AFM探针获取高分辨图像
主讲人：陈苇纲 博士 报告时间：2013年12月17日
Bruker Nano Surfaces Division AFM Business
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