网络研讨会 | TOF-SIMS应用 诚邀您参与
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为了助力材料科学与制造领域的创新发展,TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)技术通过提供高精度的表面化学信息,揭示复杂的分子分布,助力研究人员更深入地洞察材料的特性和行为。这不仅加速了新材料的研发进程,还拓宽了其应用领域。为此,ULVAC-PHI特别推出了一场以TOF-SIMS应用为主题的线上短研讨会,诚邀广大科研工作者参与。在短短1小时的分享中,您将深入了解PHI nanoTOF3+的最新应用,为您的研究工作注入新的灵感与动力。
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