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南京理工大召开“制造基础技术与关键部件”重点专项项目启动会

2020-08-08 17:02:47  来源:仪器网整合 浏览量:579次
【导读】南京理工大学顺利召开国家重点研发计划 “制造基础技术与关键部件”重点专项“硅基 MEMS 高深宽比三维结构的干涉显微无损测量技术”项目启动会。

国家重点研发计划由原来的国家重点基础研究发展计划(973计划)、国家高技术研究发展计划(863计划)、国家科技支撑计划、国际科技合作与交流专项、产业技术研究与开发基金和公益性行业科研专项等整合而成,是针对事关国计民生的重大社会公益性研究,以及事关产业核心竞争力、整体自主创新能力和国家安全的战略性、基础性、前瞻性重大科学问题、重大共性关键技术和产品,为国民经济和社会发展主要领域提供持续性的支撑和引领。

2020年7月下旬,南京理工大学顺利召开国家重点研发计划 “制造基础技术与关键部件”重点专项“硅基 MEMS 高深宽比三维结构的干涉显微无损测量技术”项目启动会。

上海市计量测试技术研究院院承担的课题三“测量系统的量值溯源、校准与误差补偿”将主要围绕“硅基MEMS 高深宽比三维结构测量系统的量值溯源与关键技术指标验证”开展高精度深宽比标准样板的设计、加工、定标技术研究,并以准确赋值的标准样板实现对项目开发的无损测量系统的进行量值溯源、校准与误差分析,为项目仪器开发和关键技术指标提供计量保障。

本次启动会与会专家认真审议了课题的各项内容,对实施方案总体上表示肯定的同时,提出了一些切实可行的改进建议,进一步完善了课题实施路线与方案。

图1.jpg

干涉显微镜利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。由于分开光束的方法不同,有不同类型的干涉显微镜,以及用于测定非均匀样品的积分显微镜干涉仪。干涉显微镜主要用于测定活的或未固定的相互分散的细胞或组织的厚度或折射率。干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。

三维测量,顾名思义就是被测物进行全方位测量,确定被测物的三维坐标测量数据。其测量原理分为测距、角位移、扫描、定向四个方面。根据三维技术原理研发的仪器包括拍照式(结构光)三维扫描仪、激光三维扫描仪和三坐标测量机三种测量仪器。

三维测量可定义为“一种具有可作三个方向移动的探测器,可在三个相互垂直的导轨上移动,此探测器以接触或非接触等方式传送讯号,三个轴的位移测量系统 经数据处理器或计算机等计算出工件的各点坐标(X、Y、Z)及各项功能的测量”。 三维测量的测量功能应包括尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等。

无损检测是工业发展必不可少的有效工具,在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平,无损检测的重要性已得到公认,主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT) 四种。其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。

无损检查目视检测范围:

1、焊缝表面缺陷检查。检查焊缝表面裂纹、未焊透及焊漏等焊接质量。2、状态检查。检查表面裂纹、起皮、拉线、划痕、凹坑、凸起、斑点、腐蚀等缺陷。3、内腔检查。当某些产品(如蜗轮泵、发动机等)工作后,按技术要求规定的项目进行内窥检测。4、装配检查。当有要求和需要时,使用同三维工业视频内窥镜对装配质量进行检查;装配或某一工序完成后,检查各零部组件装配位置是否符合图样或技术条件的要求;是否存在装配缺陷。5、多余物检查。检查产品内腔残余内屑,外来物等多余物。

无损检测的仪器主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT) 四种。其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。

新闻来源:上海市计量测试技术研究院


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标签:干涉显微 , 无损测量技术
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