泰思肯（TESCAN）出席2017年北京电子显微学研讨会

为推动电子显微技术的进步和发展，提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平，促进电镜分析技术在生命科学、材料科学、地球科学等领域中的应用和发展，2017年7月22-23日，2017年北京电子显微学研讨会暨全国实验室科学管理交流会在无锡市隆重开幕，TESCANZG出席了此次技术交流会。

2017年北京电子显微学研讨会参会人员合影

本次会议为期2天，由北京电镜学会主办，北京理化分析测试技术学会承办，有来自业内高校、科研院所、行业检测机构和企业的100余名电镜工作者参会。大会由北京电镜学会张德添秘书长主持，会议围绕电镜技术的ZX进展和应用、实验方法发展与改进、实验室的安全科学管理等内容展开了热烈的研讨和交流。

北京电镜学会张德添秘书长开幕致辞

TESCANZG市场部经理顾群在本次大会上做了报告，向参会人员介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新，并ZD强调了TESCAN “All In One”显微综合分析平台的产品设计理念以及TESCAN公司SC的电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）和TESCANZX发布的FIB新品S8000系列产品的特点和应用优势。 

TESCANZG市场部经理顾群作大会报告

TESCAN 新品S8000G FIB-SEM系统

S8000G是TESCANZX发布的一款FIB-SEM新品，是TESCAN S8000系列扫描电镜的DY个新成员，这是一款超高分辨场双束FIB扫描电镜系统。搭载TESCANZX研发的多项创新技术，S8000G可以提供无与伦比的图像质量，可完成复杂的纳米操作并保证JJ的精度和操作灵活性，满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。

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