泰思肯（TESCAN）出席东北三省第十八届电子显微学术会议

近日，由黑龙江省电镜学会主办的东北三省第十八届电子显微学术会议在黑龙江省哈尔滨市哈尔滨工业大学举行。会议期间进行了电子显微学学术交流、电镜相关技术发展和电镜及其他显微学仪器的使用技能与技巧的交流，TESCAN作为此次会议赞助商应邀出席，并带来了“TESCAN在扫描电镜、FIB技术领域的创新和应用”的精彩报告。

2017年东北三省电子显微学术会议

TESCAN发源于ZD的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜制造历史，是电子显微镜和聚焦离子束领域的技术。此次学术交流会，TESCAN公司市场部马耀娇向参会专家们简单介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并ZD介绍了TESCAN “All In One”综合分析平台的产品设计理念以及其SC的氙等离子源的超高速双束FIB系统、电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱一体化系统（TOF-SIMS），以及TESCANZX发布的FIB新品S8000系列产品的特点和应用优势。

TESCANZG市场部马耀娇作会议报告

TESCAN SC的氙等离子源超高速双束FIB系统，离子束流高达2μA，其溅射速率相比传统的Ga离子源高达50倍以上，非常适合于大尺寸材料去除的应用，特别是应用于TSV的半导体封装技术。在材料科学领域，利用氙等离子双束FIB技术，可以轻松提高加工速度。例如钢铁样品的EBSD三维重构，TESCAN FERA3 氙等离子源双束FIB系统S次实现了FIB加工速度快于EBSD分析速度。此外，在生命科学领域中，氙等离子源FIB技术也扩展了生物组织三维重构的应用。

TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统

TESCANSC的双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用技术（TOF-SIMS）是电镜厂家中DY个将飞行时间二次离子质谱和自己的SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统。联用系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性，拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率，在对轻元素的探测、同位素检测、深度剖析和化学结构解析应用中具有很大的优势。

另外，TESCANSC的电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）在微观观测和分析领域带来了重大应用革新。传统的扫描电镜分析性能薄弱，SEM与拉曼光谱仪虽然都是强大的分析工具，但各自都具有一定的应用局限。而电镜-拉曼光谱一体化系统（RISE）很好地解决了传统的应用难题，例如拉曼光谱对样品平整度的苛刻要求以及光镜观察形貌结构分辨率的不足和信息单一等难题，并在联用导航、探测器适配以及软件分析应用上都有革命性的提高和拓展，目前已在地质、碳材料、纳米科技、矿物晶体、聚合物、半导体以及生命医药、医学、检测鉴定等领域有了丰富的应用。TESCAN RISE系统还分别获得了“2014年分析科学家创新奖”和光谱仪器的ZG奖项“2015年棱镜奖”。

TESCAN拉曼-电镜一体化系统RISE Microscopy

会议期间，来自东北三省的专家和老师与TESCANZG公司的工作人员积极互动，展开了热烈的交流。感谢这个平台和交流机会，TESCAN将持续提升个性化服务，为广大用户提供更全面、更专业的综合解决方案！