Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪正式在ZG闪亮登场

2021年7月23日，赛默飞联合多家科研机构共同举办的“2021全国表面分析方法及新材料表征研讨会”于长春成功召开，会议邀请了众多国内外专家共同交流XPS、拉曼、电镜等分析手段在表面分析领域的ZX研究进展及应用。

召开期间，赛默飞于大会现场正式发布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2  X 射线光电子能谱仪。中科院长春应化所逯乐慧副所长、中山大学陈建教授、清华大学姚文清教授、中科院大连化物所盛世善研究员、中科院化学研究所刘芬研究员、赛默飞材料与结构分析业务高级商务总监陈厅行，共同参与了新品揭幕仪式，宣告Nexsa G2在ZG的正式闪亮登场！

同时此次大会还进行了同步直播，线上的近600名观众同我们一起见证了Nexsa G2的ZG区发布！

揭幕仪式后我们很荣幸的邀请到了赛默飞表面分析quan球市场发展总监Richard G. White为大会进行新品介绍。Richard表示：当今表面和界面分析充满了挑战，需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪，在保证数据质量和样品测试通量的同时，集成了其他分析技术。希望能够为ZG科研及工业发展做出贡献！

Richard G. White

Thermo Scientific™Nexsa™ G2  X 射线光电子能谱仪

# gao的科研级能谱仪

新型微聚焦单色化X射线源可实现以 5 μm 步长的 10 μm 至 400 μm 的 X 射线光斑大小连续可调，从而确保将分析束斑调节至与目标特征匹配，zui大程度地增强信号。利用升级的 X 射线源、gao的电子透镜和优化的检测器，可实现zhuo越的灵敏度和gao的数据采集。

# 绝缘体分析

Nexsa G2 系统上的一键式自动电荷补偿系统可轻松实现绝缘样品分析。zhuan利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电，因为使用极低能量的电子，大多数情况下将无需进行荷电校正。

# 深度剖析

Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS（可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保zhuo越的性能和实验重现性。

# 多技术联用

使用 Nexsa G2 系统，所有技术将触手可及，一套系统全面分析您的样品。标准配置具备高性能 XPS 所需的所有功能，ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身。升级选项可将系统转换为完整的分析工作站，有助于解决材料分析问题，提高生产效率。

# 特殊样品台可选

Nexsa G2增加了多种样品台可选，以满足科研的特殊应用需求。特殊可选样品台有：NX 加热台，用于原位的样品加热分析；多触点偏压样品台，可实现样品在真空系统中的施加电压，偏压或循环电极后的XPS原位分析；惰性气体转移腔，可实现空气敏感样品的真空/惰性气体保护转移；MCA 样品台，用于XPS+SEM的关联分析，实现XPS技术和电子显微技术对样品的同一个分析区域采集数据，并进行比对分析。